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電子顯微鏡借助波長(zhǎng)極短的光源可觀察分子的結(jié)構(gòu)

全像顯微術(shù)

一般的顯微鏡因?yàn)榻股疃痰南拗疲瑹o(wú)法觀察到非常小的物體，
但全像術(shù)應(yīng)用到顯微鏡的話，焦深可以到極小。

此外，若采用成波長(zhǎng)極短的光源，那我們甚至可以直接觀察分子的結(jié)構(gòu)。其方法為，
先對(duì)要看的對(duì)象物拍一張全像照片，由于在光
學(xué)性質(zhì)上，全像片和實(shí)物完全一樣，所以，現(xiàn)在你可以慢慢的用顯微鏡去聚焦此
像中任何一個(gè)地方，不必?fù)?dān)心看完這一點(diǎn)之后，再看另一點(diǎn)時(shí)，另一點(diǎn)的狀態(tài)早
已由于時(shí)間的推移而改變了；也不必?fù)?dān)心對(duì)象物跑出了聚焦范圍。

全像攝影方便了我們的生活。舉例來(lái)說(shuō)它可以做一些檢驗(yàn)的工作，稱非破壞性檢
驗(yàn)（nondestructive testing）首先先拍下受檢物體在正常狀態(tài)下的全像片，但暫時(shí)
不沖洗。然后對(duì)被檢驗(yàn)物施壓、破壞或加熱，此時(shí)再點(diǎn)亮雷射，重新讓感光片再
感光一次，也就是用同一張底片拍兩張全像片（就是雙重曝光）。沖洗之后經(jīng)雷
射光照射，這全像片就會(huì)顯示出被檢驗(yàn)物體的像，仔細(xì)看一下，像上還會(huì)有一系
列的條紋。如果被檢驗(yàn)物品沒(méi)有破損和瑕疵（如微小裂縫），這些條紋通常是連
續(xù)不間斷的；但如果被檢驗(yàn)物品之近表面處有破損或瑕疵，條紋通常便會(huì)斷裂，
專家們便可依據(jù)這些條紋的形狀判別其中有無(wú)損傷。
另外還有一種檢驗(yàn)方法，就是當(dāng)?shù)谝淮闻臄z完畢后，立即沖洗感光片。同時(shí)，對(duì)
被檢驗(yàn)物加壓或加熱，并點(diǎn)亮雷射看全像片，此時(shí)我們所看到的被檢驗(yàn)品，就會(huì)
發(fā)現(xiàn)其上也有條紋。專家們也是根據(jù)此條紋的形狀，可推斷其中有沒(méi)有破損和瑕
疵。這種檢驗(yàn)法稱為“即時(shí)檢驗(yàn)法”。它的優(yōu)點(diǎn)為：除了可發(fā)現(xiàn)物體有無(wú)破損之
外，還可以追蹤物體在被加壓或加熱的過(guò)程中，所發(fā)生前后的狀態(tài)以及最先發(fā)生
破壞的地方；然后據(jù)此以改良物品的設(shè)計(jì)。
缺點(diǎn)則為條紋的深淺亮度對(duì)比沒(méi)有雙重曝光法那么好