阿貝原則

  阿貝原則又稱比較儀原則，是由阿貝
(E．Abbe)于1890年提出的，它既是測(cè)量原則，又是儀器設(shè)
計(jì)原則。在精密測(cè)量及儀器設(shè)計(jì)中得到廣泛應(yīng)用。
  阿貝原則內(nèi)容為：被測(cè)尺寸與標(biāo)準(zhǔn)尺寸必須處在測(cè)量方
向的同一直線上，或者說(shuō)，被測(cè)尺寸與標(biāo)準(zhǔn)尺寸彼此處在對(duì)
方的延長(zhǎng)線上。

  采用阿貝原則，便能避免一次誤差，得到較高的測(cè)量精
度。

阿貝原則雖然簡(jiǎn)單易懂，但遇到復(fù)雜的情況時(shí)仍須仔細(xì)
分析，否則將產(chǎn)生誤斷。

視差。

  總體結(jié)構(gòu)或測(cè)量方法雖然符合阿貝原則，但視差存在時(shí)
仍為一次誤差。當(dāng)指示刻線與主刻線不在同一平面內(nèi)，并且
通過(guò)指示線的觀察線又與主刻線面不垂直時(shí)，便產(chǎn)生視差。
最小變形原則

  儀器部件及零件的變形是儀器誤差的主要來(lái)源之一。儀
器設(shè)計(jì)應(yīng)保證變形最小。

  (1)艾里點(diǎn)與貝塞爾點(diǎn)
  量具量?jī)x的設(shè)計(jì)與使用，都要考慮支承問(wèn)題，支承的位
置是否合理直接影響測(cè)量精度。正確地選擇支承點(diǎn)的位置，剮
以使量具一定部位的變形誤差達(dá)到最小值，艾里點(diǎn)和貝塞爾
點(diǎn)就是要求不同部位誤差最小時(shí)所選用的最優(yōu)支承點(diǎn)。喬治，
艾里(G．Airy)和貝塞爾(Bessel)利用材料力學(xué)原理分別
計(jì)算出了艾里點(diǎn)和貝塞爾點(diǎn)的位置。

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