日期和時間：6月28日 上午10點-11點整

主講人： 帕克公司資深售后服務(wù)工程師&應(yīng)用專家，AFM從業(yè)經(jīng)驗>8年

針尖-樣品相互作用的力值量測 力-距離(F-D)曲線是一種分光鏡檢查技術(shù)，在Z軸掃描儀伸縮的同時，測量針尖與樣品表面間的垂直相互作用。直接測量針尖與樣品間的相互作用力時，對比懸臂偏轉(zhuǎn)功能與壓電掃描儀延伸，反映表面的力學(xué)性能。

原子力顯微鏡包含各種各樣的掃描模式可以到樣品的形貌圖或其他對應(yīng)的特性分析圖，?

而這其中的力和距離曲線在表面科學(xué)，納米技術(shù)，生物科學(xué)和許多其他研究領(lǐng)域中也扮演了非常重要角色。?

在帕克的每一臺設(shè)備的基本配置中都包含力和距離光譜分析。它不需要一些特殊的輔助模塊進行操作，只是在探針和樣品接觸后分離的狀態(tài)下，去獲得相應(yīng)點的力曲線。但是看似簡單地操作，?
卻也涉及到了很多難點，想探針的選擇，參數(shù)的設(shè)定，懸臂的校準(zhǔn)等等。并且，液下力曲線，力曲線成像，更如PinPoint模式也都是這個領(lǐng)域的延伸。?

而對于特殊材料進行力曲線分析，如細胞等，探針的改良也是一種保護樣品不被破壞的途徑，并能夠讓測量變成更容易的幾何運算。它也是一種力曲線分析的難點之一。?

這些信息都會在本次研討會上進行討論和分析。

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