????我司于2017年1月在上海某高校成功安裝基于Janis 探針臺和Keithley 4200半導體特性儀的測試系統(tǒng)。該探針臺配置四個三同軸探針臂和兩個光纖探針臂,漏電流優(yōu)于50fA。該探針臺變溫范圍大(8K-675K)。我司提供Keithley 4200半導體特性儀,并提供集成變溫IV、CV和輸運和轉移特性等測試軟件
?
?
??????? ? 變溫測量IV和VI曲線?????????????????? ? 變溫場效應管(橫坐標Vgs,縱坐標Ids,
??????????????????????????????????????????????????????????? 不同曲線代表不同的Vds和溫度)
?
?
?
????????????? 變溫場效應管(橫坐標Vds,縱坐標Ids,?????????? 變溫CV測試(橫坐標偏壓,縱坐
???????????????????? 不同曲線代表不同的Vgs和溫度)??????????????????標電容,不同曲線代表不同溫度) ????
?
?????????