掃描電子顯微鏡技術(shù)在微小古植物材料上的應(yīng)用

  低真空(低真空掃描電鏡)和環(huán)境掃描電鏡
  如果需要或盡量避免對標(biāo)本進行噴鍍(如模式標(biāo)本或大型標(biāo)本)，可用
低真空掃描電鏡在“環(huán)境室”中觀察標(biāo)本。在英國倫敦的自然歷史博物館
中，這樣的設(shè)備具有免充電、抗污染裝置，已經(jīng)可以安裝到ISCIABT 55型
掃描電鏡上，它還可以利用魯濱遜反向散射電子(BSE)探測器。采用這一技
術(shù)，根據(jù)材料的不同，其分辨率介于500到1000倍之間。事實上，反向散射
電子探測器顯示出極微小的反差，在有機質(zhì)豐富的基質(zhì)中，很難區(qū)分有機
材料。葉片的一部分，葉上的氣孔和表皮細胞輪廓清晰可見。由于角質(zhì)層
不能從該葉片上分離出來，并且也不發(fā)熒光(個人觀察)，所以運用低真空
掃描電鏡手段，可以獲得氣孑L器的圖像，而且葉片完好無損(注意圖像上
的裂縫原來就有，并非由于掃描電鏡所致)。用低真空掃描電鏡觀察到高質(zhì)
量的圖像——特別是從標(biāo)本的復(fù)制品(見上)和木炭化石中。
  真正的環(huán)境掃描電鏡也可以不鍍膜，但除此之外，它還可以在自然狀
態(tài)下觀察濕的標(biāo)本。樣品能在有水蒸氣或其它氣體的情況下被掃描圖像。
電鏡室中的溫度和壓力還可以改變。環(huán)境掃描電鏡由菲利普電子光學(xué)公司
制造，并在古植物學(xué)研究中具有廣闊的應(yīng)用前景。例如，有些標(biāo)本在干燥
時會產(chǎn)生裂縫，在通常的掃描電鏡中，這將很成問題。而采用環(huán)境掃描電
鏡，問題則迎刃而解，因為它可以觀察潮的物體。不過，由于材料表面是
濕的，掃描電鏡可能觀察到的僅僅是水的圖像。所以控制電鏡室中環(huán)境條
件的經(jīng)驗，顯得十分重要。環(huán)境掃描電鏡采用改進的和專利的二次電子探
測技術(shù)，因此其分辨率與傳統(tǒng)的對標(biāo)本鍍膜干燥的掃描電鏡相當(dāng)。但對于
非鍍膜的標(biāo)本，前者顯然更好。迄今為止，在公開出版的文獻中，未見環(huán)
境掃描電鏡技術(shù)在古植物材料上的應(yīng)用。

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