直播預告|掃描電鏡的原理及制樣方法

【8月13日下午14:00直播】

“掃描電鏡的原理及制樣方法”網(wǎng)絡研討會

萊雷科技與善時儀器聯(lián)合舉辦

導師：曾凌飛—善時儀器市場部總監(jiān)

【技術背景介紹】

?? ? ?掃描電子顯微鏡的英文全稱為Scanning Electron Microscope,簡稱掃描電鏡或者SEM，是一種用于放大并觀察物體表面結構的電子光學儀器。掃描電鏡由鏡筒、電子信號的收集和處理系統(tǒng)、電子信號的顯示和記錄系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和電源系統(tǒng)等組成，具有放大倍數(shù)可調范圍寬、圖像分辨率高和景深大等特點。該產(chǎn)品結構設計簡潔，高低壓真空設計，可調試電壓，為不同樣品提供更合適的檢測環(huán)境。

? ? ? 由于掃描電鏡具有觀察納米材料、材料端口分析、直接觀察原始表面等特點和功能，所以越來越多受到科研人員的重視，用途日益廣泛?，F(xiàn)已被廣泛用于材料科學、冶金、生物學、醫(yī)學、半導體材料與器件、地質勘探、病蟲害的防治、災害鑒定、寶石鑒定、工業(yè)生產(chǎn)中的產(chǎn)品質量鑒定及生產(chǎn)工藝控制等。

? ? ? 萊雷科技與善時儀器聯(lián)合舉辦的“掃描電鏡的技術及原理”網(wǎng)絡研討會將于8月13日下午14:00點開播。屆時萊雷科技將邀請善時儀器技術中心總監(jiān)在線與您分享掃描電鏡的參數(shù)選擇及制樣方法等內容。此次網(wǎng)絡會議為參會者提供一個突破時間地域限制的免費學習、交流平臺，讓大家足不出戶便能聆聽到精彩報告。

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