金相顯微鏡一般放大晶體精細結(jié)構(gòu)100-500倍進行鑒定

  透射式電子顯微鏡以具有波動性在高速電子束為光源，電子束
的波長隨加速電壓增高而縮短，現(xiàn)在常用 者為0.05埃左右，分
辨率可達4-8埃，放大倍率可達幾十萬倍，這不僅有利于觀察顯
微組織的精細結(jié)構(gòu)，而且還能通過電子衍射把結(jié)構(gòu)分析與形態(tài)觀
察結(jié)合起來。因而是一種極為主要的檢驗身為，但由于電子束不
能穿透大塊金屬，而需要在試樣表面復(fù)制出透明薄膜，或?qū)⒃嚇?br>制備成極薄的試片，才能觀察，故制備試樣很麻煩，設(shè)備費用也
較大，這就限制了更普遍的應(yīng)用。

  掃描電子顯微鏡，是用聚得非常細的電子探針事不，在試樣表
面上逐點掃描，并把照射位置上發(fā)射出來的二次電子、反射電子
、吸收電子、透射電子、光子及x射線等信號檢測出來加以放大
，以此信號調(diào)節(jié)與電子探針事沒步掃描的陰極射線管上的亮度，
從而在陰極射線管的熒光屏上得到試樣的放大象。這樣可不必制
備復(fù)型，而直接觀察試樣表面，其景深很大，放大倍數(shù)可以從低
倍到高倍連續(xù)變化，利用其x射線分析裝置可進行電子探針微區(qū)
成分分析，現(xiàn)有掃描電鏡的分辨紡低于透射式電鏡，一般約為20
0埃，好一些的可達100埃。

  按標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，一般檢驗項目都在普通金相顯微鏡下放大100-50
0倍進行評定，在一般情況下都采用明場照明，即來自光源的光
線，穿過物鏡垂直地照射在試樣表面上，然后反射回物鏡放大成
象，顯微組織中和平坦部分呈明亮區(qū)域，而凹凸不平的部分分別
因散射而成黑暗區(qū)域，暗場照明與此相反，入射光線不穿過物鏡
，而是以很大的角度斜射至試樣表面，使平坦部分呈一片黑暗，
而凹陷部分卻能將光線反射回物鏡呈明亮區(qū)域，借以觀察一些非
金屬夾雜物的透明度和顏色，有時也用偏振光來辨別晶體的各向
異性以及注銷和透明度，通過特殊轉(zhuǎn)動載物臺觀察夾雜物時，若
無明亮變化即為各向同性，若有明亮和消光的變化，則為各向異
性。

  高倍檢驗主要應(yīng)用于檢查結(jié)構(gòu)鋼的晶粒度、夾雜物、膠碳和
工具鋼的碳化物分布狀況。
  保持澆注系統(tǒng)的清潔干燥和注意各項澆注工藝操作等，固然對
鋼是氣體夾雜含量有重要影響，而整個澆注過程更是與鋼的凝固
過程和結(jié)晶組織緊密相關(guān)。

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