近日，國內(nèi)首臺紅外原子力顯微鏡（Inspire）在北京化工大學(xué)安裝調(diào)試成功。 Inspire? 系統(tǒng)是Bruker公司最新推出的基于AFM的納米尺度下紅外表征系統(tǒng)。它可以在通常的AFM成像速度下，采集樣品的紅外反射和吸收圖像，從而獲得樣品的化學(xué)成分信息。結(jié)合Bruker獨(dú)有的PeakForce TappingTM ，在獲得高分辨形貌的同時(shí)，可獲得樣品的模量、粘附力等力學(xué)信息，樣品的電導(dǎo)性、功函數(shù)等電學(xué)信息，和納米尺度上的化學(xué)成分信息，提供了材料多維度的關(guān)聯(lián)信息，為材料科學(xué)微觀尺度的檢測提供了新的視野。

Inspire紅外原子力顯微鏡

安裝過程

安裝過程樣品測試結(jié)果

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