91儀器信息網(wǎng)訊 2020年1月17日，日本電子（JEOL Ltd.）消息，日本電子完成收購INTEGRATED DYNAMIC ELECTRON SOLUTIONS，INC.（總部位于美國加利福尼亞，以下稱IDES）的所有股份，IDES是一家專門從事與透射電子顯微鏡（TEM）相關(guān)技術(shù)的創(chuàng)業(yè)型企業(yè)。收購后，IDES將成為日本電子全資子公司。

背景與目的

正如日本電子正在實(shí)施的新的中期業(yè)務(wù)計(jì)劃“三角計(jì)劃2022”中概述——公司將通過實(shí)施加速業(yè)務(wù)擴(kuò)張的舉措來推動(dòng)持續(xù)和可持續(xù)的增長。日本電子的旗艦產(chǎn)品TEM系統(tǒng)旨在觀察原子分辨率的材料并檢查其靜態(tài)結(jié)構(gòu)。IDES的獨(dú)特技術(shù)將把這些TEM系統(tǒng)升級(jí)為“超快時(shí)間分辨的TEMs”，能夠在納秒（十億分之一秒（10-9））到飛秒(一千萬億分之一秒(10-15秒)之間捕捉靜止和動(dòng)態(tài)圖像，并用納米級(jí)的空間分辨率進(jìn)行記錄。

這些創(chuàng)新的系統(tǒng)可用于探索常規(guī)TEM無法觸及的動(dòng)力學(xué)和量子現(xiàn)象。將來，該系統(tǒng)還可以升級(jí)以支持在生命科學(xué)領(lǐng)域中的應(yīng)用，如蛋白質(zhì)運(yùn)動(dòng)研究。

IDES還提供與高速靜電偏轉(zhuǎn)和壓縮感測有關(guān)的獨(dú)特技術(shù)。這些技術(shù)可以作為附件集成到TEM中，以微秒級(jí)的分辨率提供最小的損壞、高通量的TEM圖像采集。

此外，IDES的當(dāng)前技術(shù)及其正在開發(fā)的未來技術(shù)將使升級(jí)冷凍電子斷層掃描_、掃描和掃描透射成像技術(shù)成為可能。

關(guān)于IDES

名稱：INTEGRATED DYNAMIC ELECTRON SOLUTIONS, INC.（集成動(dòng)態(tài)電子解決方案公司）

地址：美國加利福尼亞州普萊森頓市117單元5653號(hào)

成立時(shí)間：2009年

關(guān)于日本電子

日本電子株式會(huì)社（JEOL Ltd., 董事長：栗原 權(quán)右衛(wèi)門）成立于1949年，公司的業(yè)務(wù)包括三個(gè)部分：科學(xué)/計(jì)量儀器、工業(yè)設(shè)備以及醫(yī)療器械。主要產(chǎn)品如下：

科學(xué)/計(jì)量儀器

電子光學(xué)設(shè)備（透射電子顯微鏡、 掃描電子顯微鏡、電子探針、 俄歇電鏡、光電子譜儀和電子顯微鏡周邊設(shè)備等）

分析儀器（核磁共振譜儀、 電子自旋共振譜儀、質(zhì)譜儀、(飛行時(shí)間質(zhì)譜儀, 氣相色譜－質(zhì)譜聯(lián)用儀, 液相色譜－質(zhì)譜聯(lián)用儀) 、 便攜式氣相色譜儀、氣體監(jiān)測儀等）

計(jì)量檢查儀器（掃描電子顯微鏡、 分析型掃描電子顯微鏡、電子顯微鏡周邊設(shè)備、 復(fù)合電子束加工觀察設(shè)備、 聚焦離子束加工觀察設(shè)備、截面拋光儀、離子切片儀、半導(dǎo)體缺陷分析儀 、X射線熒光元素分析儀、手持式X射線熒光元素分析儀等）

工業(yè)設(shè)備

半導(dǎo)體設(shè)備（電子束光刻系統(tǒng)(可變矩形束電子束光刻)、電子束光刻系統(tǒng)(圓形電子束光刻)等）

工業(yè)設(shè)備(電子束蒸鍍用的電子槍及電源、大功率電子槍及電源、 內(nèi)置等離子體槍及電源、產(chǎn)生等離子體的高頻電源、高頻感應(yīng)熱等離子體裝置等)

醫(yī)療設(shè)備

醫(yī)療設(shè)備(自動(dòng)分析儀、 樣品傳輸系統(tǒng)、臨床檢查信息處理系統(tǒng)、 全自動(dòng)氨基酸分析儀等)