布魯克Dimension Icon原子力顯微鏡

Bruker Dimension Icon 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來(lái)了全新的AFM應(yīng)用體驗(yàn)，其測(cè)試功能強(qiáng)大，操作簡(jiǎn)便易行。仍然以世界上應(yīng)用最廣泛的AFM大樣品平臺(tái)為基礎(chǔ)，齊集 Dimension系統(tǒng)數(shù)十年的技術(shù)經(jīng)驗(yàn)，廣大客戶反饋，結(jié)合工業(yè)領(lǐng)域的設(shè)備需求，進(jìn)行全面革新。全新的系統(tǒng)設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了前所未有的低漂移和低噪音水平，現(xiàn)在用戶只需要幾分鐘就可獲得真實(shí)準(zhǔn)確的掃描圖像。

技術(shù)參數(shù)：

X-Y方向掃描范圍：90um *90um典型值，最小85um
Z方向掃描范圍：10um典型值，在成像及力曲線模式下；最小9.5um
垂直方向噪音基底： 30pmRMS, 在合適的環(huán)境及典型的成像帶寬（達(dá)到625Hz）
X-Y定位噪音（閉環(huán)）：≤0.15nm RMS，典型成像帶寬（達(dá)到625Hz）
X-Y定位噪音（閉環(huán)）：≤0.10nm RMS，典型成像帶寬（達(dá)到625Hz）
Z傳感器噪音水平（閉環(huán)）：35pm RMS, 典型成像帶寬（達(dá)到625Hz）
整體線性誤差（X-Y-Z）：0.5% 典型值

樣品尺寸/夾具：210mm真空吸盤樣品臺(tái)，直徑≤210mm, 厚度≤15mm
電動(dòng)定位樣品臺(tái)（X-Y軸）：180mm*180mm可視區(qū)域；單向2um重復(fù)性；雙向3um重復(fù)性。
顯微鏡光學(xué)系統(tǒng)：五百萬(wàn)像素?cái)?shù)字照相機(jī)
180um至1465um可視范圍
數(shù)字縮放及自動(dòng)對(duì)焦功能

控制器：NanoScope V型控制器
工作臺(tái)：整合所有控制器、結(jié)合人體工學(xué)設(shè)計(jì)，提供直接的物理或可視借口
震動(dòng)隔絕：整體式氣動(dòng)減震臺(tái)
聲音隔絕：可隔絕環(huán)境中85 dBC的持續(xù)噪音

產(chǎn)品特點(diǎn)：

終極體驗(yàn)

獨(dú)特的傳感器設(shè)計(jì)，在閉環(huán)條件下，也能實(shí)現(xiàn)大樣品臺(tái)、針尖掃描的AFM具有與開環(huán)噪音水平一樣的低噪音水平，且具有極高的掃描分辨率

高效率

XYZ閉環(huán)掃描器的完美設(shè)計(jì)，使儀器在較高掃描速度工作時(shí)，也不降低圖像質(zhì)量，具有更大的數(shù)據(jù)采集效率

全功能

針尖和樣品之間開放式的空間設(shè)計(jì)，不僅可以進(jìn)行各種標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)，也可以自行設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)方案，滿足不同研究工作的需求

硬件和軟件技術(shù)的不斷創(chuàng)新，新開發(fā)的HarmoniX 模式，可以測(cè)量納米尺度上材料性質(zhì)