微量塵埃檢查立體顯微鏡-搭配顯微圖像分析

特性：
本儀器是利用偏光鏡的原理觀察到肉眼無(wú)法看到的塵?；虿?br>明異物，例如可觀察到安瓶及小玻璃藥瓶?jī)?nèi)的不明物體
，此儀器亦可接立體顯微鏡，以便更清晰觀察。

光 源
鹵素?zé)?00-300W

6.5kg-8kg
立 體 顯 微 鏡—5X及20X

倍率7~45X，200M;鏡筒:雙目式觀察鏡筒，30度傾斜、可360度迴轉(zhuǎn)，
雙目可調(diào)整眼幅與屈光補(bǔ)償;目鏡:廣角目鏡WF10X/21mm；

另有WF15X、WF20X、WF25X供選擇;物鏡:變焦式物鏡0.7-4.5 Zoom，

可作7X-45X無(wú)段式觀察;光源:12V /20W 上下鹵素?zé)?，可打穿透光或落射光?/p>

可調(diào)整明暗度;操作平臺(tái):180mm×220mm 操作平臺(tái)

線上納米粉體粒徑檢測(cè)技術(shù)
納米粉體粒徑的 測(cè)模式可分為濕式 測(cè)與乾式 測(cè) 種。其中，濕式 測(cè)主
要是根據(jù)粉體因?yàn)槌叽绲?同，在 測(cè)系統(tǒng)中會(huì)呈現(xiàn)出 同的特性來(lái)加以分析，
以求得粉體粒徑大小，動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)與 心沉 分析法
(Centrifugal Sedimentation Analyzer)等即屬此 ；而乾式 測(cè)通常則是以穿透式電子
顯微鏡(Transmission Electron Microscope, TEM)或原子 顯微鏡
(Atomic Force Microscope, AFM)等直接觀察粉體，將其幾何形貌呈現(xiàn)出來(lái)，進(jìn)而推算出其粒徑大
小，現(xiàn)階段中各種電子顯微鏡的 測(cè)優(yōu)點(diǎn)可以提供局部區(qū)域納米顆粒的標(biāo)準(zhǔn)尺寸，