美國TSI公司將于2016年10月17-19日,參加在上海富悅大酒店舉辦的“第22屆中國大氣環(huán)境科學與技術大會”。本次會議邀請了約1000人參加會議, 專門設立了大氣儀器與設備展覽,是近年來大氣環(huán)境保護事業(yè)蓬勃發(fā)展的一次盛會。
美國TSI公司為滿足日益增加的大氣科學研究、大氣污染控制、大氣環(huán)境管理等用戶的購買大氣儀器、設備的需求,將于會上展出以下多種氣溶膠檢測技術和設備。
TSI最新推出的SMPS? 掃描電遷移粒徑譜儀,被廣泛用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量標準。選配3777型納米增強儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀(1nm-DMA)組件后,SMPS粒徑譜儀能夠測量納米的粒徑范圍擴展至1nm。
3321 空氣動力學粒徑譜儀(APS?) 提供 0.5 至 20 微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實時空氣動力學檢測。這些獨特的粒徑分析儀還檢測 0.37 至 20 微米粒徑范圍粒子的光散射強度。APS 粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對數據向有興趣研究氣溶膠組成的人士開辟了令人振奮的新途徑。
TSI 3330型光學顆粒物粒徑譜儀簡單輕便,能夠對顆粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準確的測量?;赥SI公司40年氣溶膠儀器設計的經驗,本款產品使用120度光散射角收集散射光強度和精密的電子處理系統(tǒng),從而得到高質量和高精度的數據。同時,TSI工廠嚴格的標定標準也確保儀器的精確性。該產品是廣大環(huán)境研究機構和環(huán)境監(jiān)測部門進行顆粒物監(jiān)測分析和源解析的最佳儀器。
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