美國(guó)TSI公司將于2016年10月17-19日，參加在上海富悅大酒店舉辦的“第22屆中國(guó)大氣環(huán)境科學(xué)與技術(shù)大會(huì)”。本次會(huì)議邀請(qǐng)了約1000人參加會(huì)議, 專門設(shè)立了大氣儀器與設(shè)備展覽，是近年來大氣環(huán)境保護(hù)事業(yè)蓬勃發(fā)展的一次盛會(huì)。

美國(guó)TSI公司為滿足日益增加的大氣科學(xué)研究、大氣污染控制、大氣環(huán)境管理等用戶的購(gòu)買大氣儀器、設(shè)備的需求，將于會(huì)上展出以下多種氣溶膠檢測(cè)技術(shù)和設(shè)備。

TSI最新推出的SMPS? 掃描電遷移粒徑譜儀，被廣泛用于測(cè)量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)。選配3777型納米增強(qiáng)儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀（1nm-DMA）組件后，SMPS粒徑譜儀能夠測(cè)量納米的粒徑范圍擴(kuò)展至1nm。

3321 空氣動(dòng)力學(xué)粒徑譜儀(APS?) 提供 0.5 至 20 微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實(shí)時(shí)空氣動(dòng)力學(xué)檢測(cè)。這些獨(dú)特的粒徑分析儀還檢測(cè) 0.37 至 20 微米粒徑范圍粒子的光散射強(qiáng)度。APS 粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對(duì)數(shù)據(jù)向有興趣研究氣溶膠組成的人士開辟了令人振奮的新途徑。

TSI 3330型光學(xué)顆粒物粒徑譜儀簡(jiǎn)單輕便，能夠?qū)︻w粒物濃度和粒徑譜分布進(jìn)行快速和準(zhǔn)確的測(cè)量?；赥SI公司40年氣溶膠儀器設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，本款產(chǎn)品使用120度光散射角收集散射光強(qiáng)度和精密的電子處理系統(tǒng)，從而得到高質(zhì)量和高精度的數(shù)據(jù)。同時(shí)，TSI工廠嚴(yán)格的標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)也確保儀器的精確性。該產(chǎn)品是廣大環(huán)境研究機(jī)構(gòu)和環(huán)境監(jiān)測(cè)部門進(jìn)行顆粒物監(jiān)測(cè)分析和源解析的最佳儀器。

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