美國TSI公司于2016年8月12-14日，參加了在四川省成都市舉辦的“中國顆粒學(xué)會第九屆學(xué)術(shù)年會暨海峽兩岸顆粒技術(shù)研討會”。本屆會議由中國顆粒學(xué)會主辦、中國顆粒學(xué)會超顆粒專委會協(xié)辦，500多位來自海峽兩岸從事顆粒技術(shù)研究的專家學(xué)者、工程技術(shù)人員、企業(yè)界代表等齊聚一堂，暢談國內(nèi)外顆粒學(xué)研究與技術(shù)的最新進(jìn)展，探討顆粒行業(yè)產(chǎn)、學(xué)、研、銷等領(lǐng)域如何更好對接。

美國TSI公司于會上針對“1nm大氣顆粒物的測量“做了主題報(bào)告”并展示了以下多種氣溶膠檢測技術(shù)和設(shè)備。

TSI最新推出的SMPS? 掃描電遷移粒徑譜儀，被廣泛用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量標(biāo)準(zhǔn)。選配3777型納米增強(qiáng)儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀（1nm-DMA）組件后，SMPS粒徑譜儀能夠測量納米的粒徑范圍擴(kuò)展至1nm。

3321 空氣動(dòng)力學(xué)粒徑譜儀(APS?) 提供 0.5 至 20 微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實(shí)時(shí)空氣動(dòng)力學(xué)檢測。這些獨(dú)特的粒徑分析儀還檢測 0.37 至 20 微米粒徑范圍粒子的光散射強(qiáng)度。APS 粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對數(shù)據(jù)向有興趣研究氣溶膠組成的人士開辟了令人振奮的新途徑。

TSI 3330型光學(xué)顆粒物粒徑譜儀簡單輕便，能夠?qū)︻w粒物濃度和粒徑譜分布進(jìn)行快速和準(zhǔn)確的測量。基于TSI公司40年氣溶膠儀器設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，本款產(chǎn)品使用120度光散射角收集散射光強(qiáng)度和精密的電子處理系統(tǒng)，從而得到高質(zhì)量和高精度的數(shù)據(jù)。同時(shí)，TSI工廠嚴(yán)格的標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)也確保儀器的精確性。該產(chǎn)品是廣大環(huán)境研究機(jī)構(gòu)和環(huán)境監(jiān)測部門進(jìn)行顆粒物監(jiān)測分析和源解析的最佳儀器。

關(guān)于TSI公司

TSI公司研究、確定和解決各種測量問題，為全球市場服務(wù)。作為精密儀器設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)者，TSI與世界各地的科研機(jī)構(gòu)和客戶合作，確立與氣溶膠科學(xué)、氣流、健康和安全、室內(nèi)空氣質(zhì)量、流體力學(xué)及生物危害檢測有關(guān)的測量標(biāo)準(zhǔn)。TSI總部位于美國，在歐洲和亞洲設(shè)有代表處，在其服務(wù)的全球各個(gè)市場建立了機(jī)構(gòu)。每天，我們專業(yè)的員工都在把科研成果轉(zhuǎn)化成現(xiàn)實(shí)。