美國TSI公司參加了于2016年7月25–29日在江蘇省鹽城市舉辦的“第九屆全國大氣細(xì)及超細(xì)粒子技術(shù)研討會及第十四屆海峽兩岸氣溶膠技術(shù)研討會”， 大氣細(xì)及超細(xì)粒子研究是當(dāng)前國內(nèi)外大氣氣溶膠、大氣環(huán)境和氣候變化研究的前沿發(fā)展方向，同時由大氣細(xì)及超細(xì)粒子帶來的環(huán)境污染問題及其污染控制是國家和全國人民都關(guān)注的焦點。為進一步交流大氣細(xì)及超細(xì)粒子領(lǐng)域的最新研究成果，會議主題為“大氣細(xì)粒子污染控制新技術(shù)”，分享了國際上最前沿的細(xì)粒子污染研究和控制技術(shù)。

美國TSI公司針對大氣超細(xì)粒子領(lǐng)域的測試需要，于會上展示了多種檢測技術(shù)和設(shè)備，可適用于大氣氣溶膠、大氣環(huán)境研究的不同應(yīng)用和監(jiān)測需求。

美國TSI公司于展會上展示了新推出的3938E77 型1nm 掃描電遷移粒徑譜儀(SMPS)被廣泛用于測量1 微米以下的氣溶膠粒徑分布。選配3777 型納米增強儀以及3086 型差分電遷移分析儀（1nm-DMA）組件后，SMPS 粒徑譜儀能夠測量的粒徑范圍擴展至1nm。

3321 空氣動力學(xué)粒徑譜儀(APS?) 提供 0.5 至 20 微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實時空氣動力學(xué)檢測。這些獨特的粒徑分析儀還檢測 0.37 至 20 微米粒徑范圍粒子的光散射強度。APS 粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對數(shù)據(jù)向有興趣研究氣溶膠組成的人士開辟了令人振奮的新途徑。

TSI 3330型光學(xué)顆粒物粒徑譜儀簡單輕便，能夠?qū)︻w粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準(zhǔn)確的測量。基于TSI公司40年氣溶膠儀器設(shè)計的經(jīng)驗，本款產(chǎn)品使用120度光散射角收集散射光強度和精密的電子處理系統(tǒng)，從而得到高質(zhì)量和高精度的數(shù)據(jù)。同時，TSI工廠嚴(yán)格的標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)也確保儀器的精確性。該產(chǎn)品是廣大環(huán)境研究機構(gòu)和環(huán)境監(jiān)測部門進行顆粒物監(jiān)測分析和源解析的最佳儀器。

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