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利用掃描式探針顯微鏡觀察物質(zhì)表面的幾何結(jié)構(gòu)

利用掃描式探針顯微術(shù)，我們不只能夠觀察物質(zhì)表面的幾何結(jié)構(gòu)，

還能進(jìn)一步理解很多納米 尺度下的物質(zhì)特性。實(shí)驗(yàn)室亦致力發(fā)展納米顯微以及能譜技術(shù)，

除了可以同時(shí)理解物質(zhì)表面 結(jié)構(gòu)和相對(duì)應(yīng)的物理特性之外。還能夠進(jìn)一步操控小到原子的結(jié)構(gòu)，

準(zhǔn)確合成具有納米新穎特質(zhì) 的材料。此外，我們正在嘗試結(jié)合掃描探針與其他分析工具，

如同步輻射光或光譜議等成熟 的解析利器同時(shí)觀測(cè)，
相信可以使我們更有把握了解納米世界中還不被人發(fā)掘的物理現(xiàn)象。