Bruker和DECTRIS在第24屆國(guó)際晶體學(xué)聯(lián)合大會(huì)(IUCr)大會(huì)上宣布，EIGER2 R 500K是最新一代的混合光子計(jì)數(shù)(HPC)像素檢測(cè)器，DECTRIS是實(shí)驗(yàn)室儀器和同步加速器束線的HPC探測(cè)器的技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)者。 DECTRIS和BRUKER緊密合作，將卓越的2D檢測(cè)器無(wú)縫集成到Bruker的D8 ADVANCETM和D8 DISCOVERTM儀器平臺(tái)中，以進(jìn)一步提高許多X射線衍射(XRD)應(yīng)用的性能。

　　最新一代專(zhuān)有的EIGER HPC檢測(cè)器使XRD具備更強(qiáng)大的新技術(shù)優(yōu)勢(shì)：高幀速率可實(shí)現(xiàn)連續(xù)掃描模式下的2D數(shù)據(jù)采集，無(wú)空間失真的單光子計(jì)數(shù)，最高計(jì)數(shù)率和動(dòng)態(tài)范圍。結(jié)合Bruker D8TM X射線衍射系統(tǒng)，可以在0D，1D和2D模式之間切換。

　　這些新功能完全集成到Bruker D8TM X射線衍射系統(tǒng)中，通過(guò)X射線反射測(cè)量(XRR)和高分辨率衍射(HRXRD)至小角度X射線散射(SAXS和GISAXS)的薄膜分析，EIGER2 R 500K檢測(cè)器能夠從粉末衍射(XRPD)、微衍射(μXRD)、紋理或殘余應(yīng)力分析、微晶等應(yīng)用中得到出色的衍射分析數(shù)據(jù)。 D8 ADVANCE或D8 DISCOVER與EIGER2 R 500K的強(qiáng)大組合顯著擴(kuò)展并加快了XRD用戶的分析能力。

　　“從產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的早期階段合作，我們能夠提供的新的EIGER2 R 500K檢測(cè)器能夠與Bruker AXS D8 XRD系統(tǒng)無(wú)縫集成，這使得客戶能夠從發(fā)射中獲得先進(jìn)的檢測(cè)器技術(shù)?！?DECTRIS的首席執(zhí)行官克里斯蒂安·布倫尼曼(Christian Broennimann)表示。

　　Bruker AXS副總裁兼總經(jīng)理Lutz Bruegemann博士補(bǔ)充說(shuō)：“DECTRIS和Bruker的協(xié)調(diào)發(fā)展團(tuán)隊(duì)做了很多工作。使得最新的HPC檢測(cè)器技術(shù)與市場(chǎng)上功能最強(qiáng)大、用戶友好的XRD平臺(tái)聯(lián)合產(chǎn)生了卓越的性能，使客戶能夠?qū)⑿碌腅IGER 2R 500K無(wú)縫地并入我們的D8衍射解決方案中，并用于許多重要的應(yīng)用中?！?p>