儀器信息網訊 2018美國電鏡年會(M&M, Microscopy and Microanalysis)于2018年8月5日至9日在美國馬里蘭州的巴爾的摩市召開。本次會議的官方網站上頒布了各獎項的獲獎名單。

　　阿爾伯特克魯獎(The Albert Crewe Award)

　　Albert Crewe獎旨在表彰博士后研究員在物理科學領域對顯微鏡和微量分析領域的杰出貢獻，該博士后不超過6年(自博士畢業(yè)后)。

　　Timothy Pennycook

　　馬克斯普朗克固態(tài)研究所

　　Timothy Pennycook是德國斯圖加特馬克斯普朗克固態(tài)研究所的研究科學家，致力于開發(fā)像差校正掃描透射電子顯微鏡(STEM)的新技術。 他于2012年獲得范德比爾特大學物理學博士學位，將密度泛函理論與STEM結合起來研究材料，揭示氧化釔穩(wěn)定氧化鋯中巨大離子電導率的起源，并利用動態(tài)STEM成像揭示了來自超小型碳納米團簇的白晝的起源。 作為牛津大學超級STEM實驗室研究員，他開發(fā)了具有光學切片的3D光譜成像，固態(tài)相變中涉及的原子尺度動力學的量化，以及用于相位的高效ptychography的新方法對比成像。 2014年，Pennycook加入了維也納大學物理系，使用STEM研究2D材料，并于2015年獲得了Marie-Sklodowska-Curie個人獎學金，以繼續(xù)他的ptychography研究。他已經證明，電子眼圖技術不僅可以提供STEM中最高效率的成像，而且與高分辨率透射電子顯微鏡相比，可以提供雙倍分辨率和更大的時間不相干魯棒性，揭示了光束敏感材料低劑量成像的新途徑。 2017年，他搬到斯圖加特進一步發(fā)展這些技術。

　　更多有關2018美國電鏡年會(M&M, Microscopy and Microanalysis)的信息，請點擊進入專題。