宏觀光學顯微鏡檢測顯微鏡-表面分析儀器

宏觀分析
一旦已經(jīng)選擇并從認為與失效相關的部位截取試樣后，就應該
對試樣進行一個全面的宏觀檢查。這包括目視檢查和最大放大倍數(shù)
為100倍的光學顯微鏡檢查。雙目視顯微鏡具有良好景深的場分辨
率，對這種宏觀檢查很重要。
另外，用照相的方式來記錄試樣。為了進行更深入的分析，在
開始截取試樣前，必須對試樣形貌有一個永久性的記錄。在進行這
種檢查時，需要探尋的事項，應包括如下內(nèi)容：
1)斷口表面形貌，如發(fā)暗、發(fā)亮、鏡面狀、輝紋、氣泡等。
2)氧化或腐蝕產(chǎn)物是否存在。
3)宏觀屈服和剪切唇。
4)二次裂紋。
5)焊縫表面特征，如咬邊或電弧引弧處。
微觀分析試樣的選擇
做完宏觀檢查和分析后，有時會需要準備試樣在更高放大倍數(shù)
下做進一步的檢查。這些微觀檢查試樣包括以下種類：
1)斷口表面分析——SEM或其他表面分析，如俄歇光譜。
2)金相分析——光學或電子顯微鏡。
3)微觀評價——掃描或電子探針微觀分析(扣ectron probe mi
croanalysis，EP·MA)。
另外，要使用簡單的標識系統(tǒng)對要切割的試樣進行標識。使用
刻痕標識或圖片文件來保存這些標識，保證試樣可以被識別并具有
可追溯性。這樣的標識方案對于事后向其他人員解釋試樣的位置、
選擇試樣部位時所采取的策略，以及把結(jié)論放入報告中都很有用。

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