失效分析方法的選擇

有許多可用的分析方法可用于失效分析研究。這些方法包括塊
狀試樣分析方法，以及可以在很高的放大倍數(shù)下提供表面形貌、冶
金或化學(xué)信息的方法。

塊狀試樣的x射線衍射(XRD)，可提供材料中包括的相和析出物
的相關(guān)信息。這種方法不局限于分析金屬，也能用于評(píng)價(jià)那些本質(zhì)
上具有晶體結(jié)構(gòu)的材料。x射線衍射斑點(diǎn)是由一種晶格的特征波長(zhǎng)
經(jīng)x射線衍射后產(chǎn)生。

掃描電子顯微鏡功能強(qiáng)大，常用于失效分析，因?yàn)閽呙桦婄R可
以提供斷口表面形貌和化學(xué)成分的信息。同時(shí)，試樣制備也很簡(jiǎn)單
。然而，對(duì)于受污染的試樣來說，需要采用專門的清理方法，以防
止電子柬打到試樣時(shí)產(chǎn)生“放電”。

相對(duì)于掃描電鏡來說，電子探針分析儀在微觀尺度上可提供更
為精確的成分分析。電子探針分析儀分析方法對(duì)評(píng)價(jià)焊縫金屬中的
偏析類型，或確定特定位置的化學(xué)成分時(shí)很有用。其分辨率可以達(dá)
到1—2μm數(shù)量級(jí)。電子探針分析的試樣通常要在電解質(zhì)溶液中進(jìn)
行電解拋光，并且要制成金相試樣。因?yàn)槌煞中盘?hào)最易從平整的表
面上獲取。

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