公司動(dòng)態(tài)當(dāng)前位置：首頁 > 公司動(dòng)態(tài) > 介紹熒光光譜儀測量的基本原理 介紹熒光光譜儀測量的基本原理 點(diǎn)擊次數(shù)：82 發(fā)布時(shí)間：2018-11-13   介紹熒光光譜儀測量的基本原理 熒光光譜儀是一種快速、無損、多元素同時(shí)測定的分析技術(shù)，已廣泛應(yīng)用于材料、冶金、地質(zhì)、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境監(jiān)測、天體物理、文物考古、刑事偵察、工業(yè)生產(chǎn)等諸多領(lǐng)域，可為相關(guān)生產(chǎn)企業(yè)提供一種可行的、低成本的、及時(shí)的檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑。本文就熒光光譜儀的工作原理及其應(yīng)用做簡單闡述。 熒光光譜儀的基本原理： 當(dāng)一束高能粒子與原子相互作用時(shí)，如果其能量大于或等于原子某一軌道電子的結(jié)合能，將該軌道電子逐出，對(duì)應(yīng)的形成一個(gè)空穴，使原子處于激發(fā)狀態(tài)。此后在很短時(shí)間內(nèi)，由于激發(fā)態(tài)不穩(wěn)定，外層電子向空穴躍遷使原子恢復(fù)到平衡態(tài)，以降低原子能級(jí)。當(dāng)較外層的電子躍遷（符合量子力學(xué)理論）至內(nèi)層空穴所釋放的能量以輻射的形式放出，便產(chǎn)生了熒光。熒光的能量與入射的能量無關(guān)，它只等于原子兩能級(jí)之間的能量差。由于能量差完全由該元素原子的殼層電子能級(jí)決定，故稱之為該元素的特征射線，也稱熒光x射線或x熒光。 熒光光譜法就是由x射線光管發(fā)生的一次x射線激發(fā)樣品，試樣可以被激發(fā)出各種波長的特征x射線熒光，需要把混合的x射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的x射線的強(qiáng)度，以進(jìn)行定性和定量分析的方法。該方法是一種非破壞性的儀器 熒光光譜儀分析方法，常用的有能量色散型和波長色散型兩種類型。廣泛應(yīng)用于鋼鐵、鐵礦石、爐渣、石灰石、螢石、耐火材料、地質(zhì)等行業(yè)的多種元素的測定。 上一個(gè)：熒光光譜儀測量結(jié)果精確  下一個(gè)：奧林巴斯ANI全球銷售總監(jiān)到訪巴斯德蘇州總部