【整機創(chuàng)新】

SPECTROCUBE型采用了先進的ED-XRF技術，高分辨率和高計數(shù)率探測器，使得檢測時間大大縮短。軟件直觀、操作簡捷，簡化了工作流程, 結實耐用。

【功能改進】

與許多其他XRF分析儀不同，SPECTROCUBE采用了全新的高分辨硅漂移檢測器（SDD），可檢測記錄到少量和微量“非貴”的雜質元素成分。與上一代XRF貴金屬檢測儀相比，在同等測量時間內SPECTROCUBE所記錄的信號強度是前一代機型的三倍。

SPECTROCUBE的校正曲線高精度地覆蓋寬廣的濃度范圍，加之標準測試時間低至15秒，因此每天可處理數(shù)以百計的樣品。對于形狀不同、大小不一珠寶樣品，該儀器可使用0.2毫米的焦斑進行微區(qū)分析，該焦斑是行業(yè)中最小的焦斑尺寸之一。

【外形優(yōu)化】

儀器結構緊湊，占地面積小，適合狹窄的工作空間。樣品尺寸無論大小均可寬松容納。