二次離子質(zhì)譜儀 二次離子質(zhì)譜儀是用來檢測(cè)材料的一種儀器，即是利用離子束把待分析的材料從表面濺射出來，然后再檢測(cè)出離子組分并進(jìn)行質(zhì)量分析，二次離子質(zhì)譜儀是對(duì)微粒進(jìn)行同位素分析的有力工具，是利用質(zhì)譜法分析初級(jí)離子入射靶面后，濺射產(chǎn)生的二次離子而獲取材料表面信息的一種方法。 精品推薦
品牌： 日本Ulvac-Phi 型號(hào)： PHI TRIFT V nanoTOF 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：高德英特（北京）科技有限公司

??飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS）是一種表面敏感的技術(shù)，提供表面分子，元素及其同位素前幾個(gè)原子層的組成圖像。所有元素和同位素，包括氫氣都可以用飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜分析。在理論上，該儀器可以在一個(gè)無限大的質(zhì)量范圍內(nèi)提供很高的質(zhì)量分辨率（在實(shí)踐中通常是大約10000amu）。PHI TRIFT V nano飛行時(shí)間質(zhì)譜儀PHI TRIFT V（三次對(duì)焦飛行時(shí)間）飛行時(shí)間質(zhì)譜是一種高傳輸、并行檢測(cè)儀器，其目的是由主脈沖離子束轟擊樣品表面所產(chǎn)生的二次離子可以得到最佳的收集狀態(tài)，并可同時(shí)用于有機(jī)和無機(jī)表面特征分析。TRIFT分析儀的工作原理會(huì)把離子在光譜儀中不斷的重新聚焦。使二次離子質(zhì)譜允許更多重大的實(shí)驗(yàn)得以進(jìn)行。主離子束最先進(jìn)的設(shè)計(jì)，允許經(jīng)由計(jì)算機(jī)控制去同時(shí)達(dá)到高橫向分辨率的成像和高質(zhì)量的圖譜分辨率。PHITRIFTVnanoTOF是第五代SIMS儀器，該儀器具有獨(dú)特的專利時(shí)間飛行（TOF）分析儀，它擁有市場(chǎng)上TOF-SIMS儀器中最大的角度和能量接受標(biāo)準(zhǔn)，實(shí)現(xiàn)了高空間分辨率質(zhì)量分辨率和使用具有優(yōu)良離子傳輸能力的三重重點(diǎn)半球形靜電分析器。PHITRIFTV nanoTOF還具有很高的能力，可以圖像具有非常復(fù)雜的幾何形狀的樣本而沒有陰影。?特點(diǎn)：l 廣大的收集角度和景深立體角：此優(yōu)點(diǎn)體現(xiàn)在上面的圖片。圖片可以清楚觀察到，由主離子束探測(cè)到的信號(hào)是從樣品所有部位收集來的。即使在彎曲的表面，如頭發(fā)，信號(hào)以統(tǒng)一強(qiáng)度來采集同時(shí)保持能力解決這樣的小特征，如個(gè)別毛干上的角質(zhì)層。l 單束C60深度剖析：PHIC60離子的小光束直徑探針是獨(dú)特的，有利于特定的化學(xué)分子離子的微米級(jí)特征成像。此外，結(jié)合擴(kuò)展的配置范圍和經(jīng)單束C60深度剖析改進(jìn)的二次離子產(chǎn)量深讓分析師有獨(dú)特的有機(jī)深度剖析能力與最高靈敏度的二次離子結(jié)構(gòu)。????l 低背景和亞穩(wěn)抑制：下面數(shù)據(jù)說明了TRIFT質(zhì)譜儀在亞穩(wěn)態(tài)拒絕 (metastable Rejection) 的固有能力。一個(gè)比較Reflectron和TRIFT為基礎(chǔ)的分析儀所取得的聚（四氟乙烯）和（聚四氟乙烯）的質(zhì)譜顯示了在沒有減少二次離子信號(hào)下TRIFT分析儀優(yōu)秀的抗亞穩(wěn)態(tài)干擾能力。事實(shí)上，也增強(qiáng)了化學(xué)成像的能力，因?yàn)槎坞x子信號(hào)沒有迭加在非化學(xué)的背景信號(hào)上。l 加熱和冷卻的完整5軸樣品運(yùn)行：完整的X，Y，Z軸旋轉(zhuǎn)和傾斜運(yùn)動(dòng)可同時(shí)把樣品加熱到（RT至+600oC）或冷卻（-130至+150oC）。加熱或冷卻工序在樣品引入，轉(zhuǎn)換，取樣時(shí)的溫度監(jiān)測(cè)和控制在沒有任何中斷的情況下完成。樣品臺(tái)提供X和Y軸+/-50毫米運(yùn)行范圍和1μm的分辨率和20毫米的Z軸行程和2微米的分辨率，同時(shí)保持優(yōu)于±2℃樣品溫度的控制。l 雙束電荷中和的絕緣體分析：采用專利技術(shù)的nanoTOF的電荷中和采用了雙束的方法，非常低能量的離子束和電子束。由飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀器從一件表面安裝了碳磁帶的批量聚合物所獲得的數(shù)據(jù)。即使樣品是厚，奇形的絕緣體，使用雙光束電荷中和也可以得到高分辨率數(shù)據(jù)。??l 脈沖二次電子成像：nanoTOF的TRIFT分析儀的設(shè)計(jì)，是唯一能夠從絕緣和導(dǎo)電標(biāo)本收集脈沖 SE圖像的儀器。通過脈沖模式（質(zhì)譜操作）偏轉(zhuǎn)主離子生成的二次電子(相對(duì)較重的二次離子有較高的速度比) 到位于分析儀SED里面，同時(shí)通過雙重多通道板（DMCP）探測(cè)器。?l FIB - TOF三維材料特性：TRIFT分析儀的內(nèi)在特性可以通過成像FIB銑削坑的垂直型墻而不必傾斜樣品。因此，材料的全3D特性化在連續(xù)FIB銑削和TOF-SIMS采集周期是可能的，而其三維圖像重建也可以非常簡單，因?yàn)闃颖驹贔IB銑削和TOF-SIMS數(shù)據(jù)采集期間是不需要移動(dòng)的。?????l 原始文件的回溯性數(shù)據(jù)分析：用戶可以選擇四種不同的模式來進(jìn)行數(shù)據(jù)解釋：（1）總離子圖，（2）總面積譜，（3）區(qū)域性質(zhì)譜，（4）特定離子分布。????應(yīng)用：l 油漆和OLED材料：油漆層和缺陷層內(nèi)的特征化，高質(zhì)量碎片特點(diǎn)化。l 薄膜和涂料：分析有機(jī)涂層，有機(jī)和無機(jī)涂料的成像分布。l 無機(jī)及半導(dǎo)體設(shè)備：晶圓工藝殘?jiān)?，缺陷分析，蝕刻/清潔殘留分析，微量金屬污染物留在晶圓工藝；三維成像表征摻雜元素。l 磁存儲(chǔ)：殘留物留在媒體的地表，來自于工藝的污染，包括有機(jī)和無機(jī)物，故障分析，潤滑分析。l 擁有控制藥物釋放涂料的藥物：藥物截面成像，新的藥物釋放涂層的表征與發(fā)展。l 組織橫截面分析：研究組織和細(xì)胞。?

品牌： 美國沃特世 型號(hào)： Xevo TQD 產(chǎn)地：美國 供應(yīng)商：沃特世科技（上海）有限公司

耐用、穩(wěn)定而可靠的Xevo TQD沃特世整套UPLC/MS/MS常規(guī)定量應(yīng)用解決方案可確保系統(tǒng)達(dá)到最高的靈敏度、選擇性和穩(wěn)定性而且操作簡便。借助無與倫比的穩(wěn)定性使儀器系統(tǒng)的正常運(yùn)行時(shí)間達(dá)到最大化加快靈敏穩(wěn)定的方法的開發(fā)速率降低復(fù)雜度，提高易用性并確保分析結(jié)果始終正確最大限度增加處理量，同時(shí)又不會(huì)降低數(shù)據(jù)質(zhì)量既擁有當(dāng)今最寬泛的電離能力，又著眼于未來的創(chuàng)新檢驗(yàn)借助無與倫比的穩(wěn)定性使儀器系統(tǒng)的正常運(yùn)行時(shí)間達(dá)到最大化快速不間斷的分析需要一臺(tái)能始終給出準(zhǔn)確結(jié)果的既可靠又穩(wěn)定的儀器系統(tǒng)。加快靈敏穩(wěn)定的方法的開發(fā)速率您不會(huì)再受到與基質(zhì)效應(yīng)相關(guān)的復(fù)雜因素和不確定性的干擾。得益于RADAR?，方法開發(fā)成為一種智能化過程，它將定量數(shù)據(jù)與定性數(shù)據(jù)相結(jié)合以直觀顯示完整樣品，從而在樣品制備和色譜方法開發(fā)過程中實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)導(dǎo)向性決策。在RADAR模式下，您既可監(jiān)測(cè)樣本中的基質(zhì)干擾物、代謝物、雜質(zhì)和降解產(chǎn)物，同時(shí)又可準(zhǔn)確對(duì)目標(biāo)化合物定量。確保結(jié)果始終正確準(zhǔn)備——IntelliStart和Quanpedia可快速對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行自動(dòng)設(shè)置和檢查，同時(shí)自動(dòng)生成所有的MRM通道，使得系統(tǒng)性能最大化。分析——QCMonitor將主動(dòng)監(jiān)控實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)，當(dāng)超出用戶指定的任何設(shè)置限定時(shí)采取措施。解讀——TargetLynx可自動(dòng)進(jìn)行定量分析和結(jié)果報(bào)告，并能自動(dòng)標(biāo)注十分清晰的標(biāo)記以降低出錯(cuò)幾率。決定——TrendPlot使您可直觀查看多天、多周或多月內(nèi)的結(jié)果；這為分析數(shù)據(jù)趨勢(shì)和長期系統(tǒng)性能提供了寶貴信息。最大限度增加處理量，同時(shí)又不會(huì)降低數(shù)據(jù)對(duì)UPLC的典型窄峰（峰寬2-3秒）進(jìn)行準(zhǔn)確定量需要較高的采集速度以確保數(shù)據(jù)質(zhì)量。不論您在同一方法中只分析一種化合物，還是分析數(shù)百種化合物，T-Wave碰撞室均可確保UPLC在色譜分析速度和分離度方面的優(yōu)勢(shì)得到充分發(fā)揮。永不過時(shí)的創(chuàng)新技術(shù)Xevo系列的通用離子源結(jié)構(gòu)擁有最廣泛的電離技術(shù)范圍以及剛剛面世的電離技術(shù)創(chuàng)新成果。您在試驗(yàn)選項(xiàng)方面將擁有無限選擇。當(dāng)您需要某些選項(xiàng)而又時(shí)間緊迫時(shí)，可在離子源之間進(jìn)行快速轉(zhuǎn)換，幾分鐘即可使用。注意：本頁面內(nèi)容僅供參考，所有資料請(qǐng)以沃特世官方網(wǎng)站（www.waters.com）為準(zhǔn)。

品牌： 美國SCIEX 型號(hào)： API 4000+ 產(chǎn)地：美國 供應(yīng)商：AB SCIEX公司

創(chuàng)建質(zhì)譜定量的黃金標(biāo)準(zhǔn)API 4000+? 三重四級(jí)桿串聯(lián)質(zhì)譜系統(tǒng)    行業(yè)黃金標(biāo)準(zhǔn)的API 4000+? LC/MS/MS系統(tǒng)能為藥物開發(fā)科學(xué)家提供全面支持，包括藥物研發(fā)到臨床試驗(yàn)提供高質(zhì)量的定量分析和定性分析數(shù)據(jù)。此系統(tǒng)從業(yè)界廣為認(rèn)可和考驗(yàn)的API 4000?發(fā)展而來，提供更加優(yōu)異的靈敏度和重現(xiàn)性，并提高整體性能的耐用性，可確保在食品、環(huán)境樣品中的藥物殘留痕量分析、刑偵毒物樣品分析以及臨床研究分析中數(shù)據(jù)的可靠性。結(jié)合功能強(qiáng)大的Analyst?軟件，此系統(tǒng)可提供藥物開發(fā)中對(duì)DMPK信息的快速訪問。    API 4000+?系統(tǒng)是從進(jìn)一步提升API 4000?系統(tǒng)的性能發(fā)展而來，確保AB SCIEX高性能和穩(wěn)定耐用的高貴品質(zhì)。API 000+?系統(tǒng)包括：新設(shè)計(jì)的真空系統(tǒng)，使整個(gè)質(zhì)譜系統(tǒng)更穩(wěn)定可靠先進(jìn)設(shè)計(jì)的電子系統(tǒng)，確保數(shù)據(jù)質(zhì)量創(chuàng)新的Turbo V?離子源—離子化效率高，高靈敏度的定量分析，適應(yīng)寬范圍的液相流速LINAC?碰撞室技術(shù)—快速掃描功能專利的氣簾接口—降低交叉污染，提高離子化效率可適應(yīng)液相的高流速性能—降低離子抑制現(xiàn)象，自清潔探頭設(shè)計(jì)，可靠的接口設(shè)計(jì)為高通量、高效率分析提供了保證可選的DuoSpray?離子源—快速方法開發(fā)和增加分析通量可選的PhotoSpray? 離子源—擴(kuò)展了儀器的應(yīng)用領(lǐng)域行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的視窗分析Analyst? 軟件也是GLP認(rèn)證的工具，也符合21 CFR PART 11法規(guī)可選的NanoSpray? 離子源—提高了低流速條件下

品牌： 英國Hiden Analytical 型號(hào)： SIMS 產(chǎn)地：英國 供應(yīng)商：北京英格海德分析技術(shù)有限公司

整合的離子源，便于RGA和SNMS； 各類型樣品的快速轉(zhuǎn)向； 陰、陽離子、中性粒子、自由基的質(zhì)量、能量分析儀。

品牌： 英國Hiden Analytical 型號(hào)： 產(chǎn)地：英國 供應(yīng)商：北京英格海德分析技術(shù)有限公司

儀器簡介：1.適合做多層薄膜的深度分析。 2.很好的、耐用的、普通目的的二次離子質(zhì)譜儀。 3.方便使用。 4.樣品可以手動(dòng)轉(zhuǎn)換，由于分析速度快所以每天可以分析一定數(shù)量的樣品。 5.我們的系統(tǒng)可配置快速原子槍，使我們可以輕松處理絕緣的樣品。 6.我們還可以做元素成像（就象化學(xué)地圖）和混合模式掃描，自動(dòng)測(cè)量正、負(fù)和中性粒子。 7.我們的系統(tǒng)是典型的超高真空工作臺(tái)，很容易滿足很多其它分析的使用。 結(jié)構(gòu)緊湊，但不損失性能。真正的高性價(jià)比。技術(shù)參數(shù)：質(zhì)量數(shù)范圍：300，510或1000amu 分辨率：5%的谷，兩個(gè)相連的等高峰。 檢測(cè)器：離子計(jì)數(shù)檢測(cè)器，正、負(fù)離子檢測(cè) 檢測(cè)限：1:10E7 質(zhì)量過濾器：三級(jí)過濾四極桿（9mm桿） 主離子槍： A，氧離子或其它氣體，能量到5KeV B，Ga離子槍，能量25KeV（選配） 空間分辨率：A：100～150um B: 50nm 取樣深度：2個(gè)單分子層（靜態(tài)） 不受限制（動(dòng)態(tài)） 主要特點(diǎn)： 高靈敏度脈沖離子計(jì)數(shù)檢測(cè)器，7個(gè)數(shù)量級(jí)的動(dòng)態(tài)范圍 SIMS 成像，分辨率在微米以下 光柵控制，增強(qiáng)深度分析能力 所有能量范圍內(nèi)，離子行程的最小擾動(dòng)，及恒定離子傳輸 差式泵3級(jí)過濾四極桿，質(zhì)量數(shù)范圍至1000amu 靈敏度高 / 穩(wěn)定的脈沖離子計(jì)數(shù)檢測(cè)器 Penning規(guī)和互鎖裝置可提供過壓保護(hù) 通過RS232、RS485或Ethernet LAN，軟件 MASsoft控制

品牌： 英國Hiden Analytical 型號(hào)： EQS 產(chǎn)地：英國 供應(yīng)商：北京英格海德分析技術(shù)有限公司

儀器簡介：EQS是差式泵式二次離子質(zhì)譜（SIMS-SecondaryIonMassSpectrometer‘Bolt-On’probe），可分析來自固體樣品的二次陰、陽離子和中性粒子。采用最新技術(shù)的SIMS探針，便于連結(jié)到現(xiàn)有的UHV表面科學(xué)研究反應(yīng)室。技術(shù)參數(shù)：應(yīng)用： 靜態(tài) /動(dòng)態(tài)SIMS 一般目的的表面分析 整體的前端離子源，便于RGA和 SNMS 兼容的離子槍/ FAB 槍 成分/污染物分析 深度分析 泄漏檢測(cè) 與Hiden SIMS 工作站兼容主要特點(diǎn)： 高靈敏度脈沖離子計(jì)數(shù)檢測(cè)器，7個(gè)數(shù)量級(jí)的動(dòng)態(tài)范圍 SIMS 成像，分辨率在微米以下 光柵控制，增強(qiáng)深度分析能力 45°靜電扇形分析器, 掃描能量增量 0.05 eV/ 0.25eV FWHM. 所有能量范圍內(nèi)，離子行程的最小擾動(dòng)，及恒定離子傳輸 差式泵3級(jí)過濾四極桿，質(zhì)量數(shù)范圍至2500amu 靈敏度高 / 穩(wěn)定的脈沖離子計(jì)數(shù)檢測(cè)器 Penning規(guī)和互鎖裝置可提供過壓保護(hù) 通過RS232、RS485或Ethernet LAN，軟件 MASsoft控制

品牌： 美國SCIEX 型號(hào)： TRIPLE QUAD? 3500 產(chǎn)地：美國 供應(yīng)商：AB SCIEX公司

經(jīng)典傳承的AB SCIEX Triple Quad? 3500質(zhì)譜系統(tǒng)  從今天起…助力您實(shí)驗(yàn)室的成功您所需要的卓越性能先進(jìn)設(shè)計(jì)—高效性能、高效率 每針進(jìn)樣采集更多的化合物—絕對(duì)可靠的定量從不丟失色譜峰– 高靈敏度和高質(zhì)量數(shù)據(jù)采集方法出色的運(yùn)行時(shí)間–檢測(cè)更多的樣品，提高實(shí)驗(yàn)室生產(chǎn)效率，并且維護(hù)次數(shù)更少快速獲得結(jié)果- 快速，高通量，簡化的數(shù)據(jù)處理工具服務(wù)與支持資源助力您的成功  Triple Quad? 3500質(zhì)譜系統(tǒng)具有最優(yōu)化的性能，并采用先進(jìn)的設(shè)計(jì)和電子器件，增強(qiáng)了它的性能。您所期望的AB SCIEX儀器的耐用性和重現(xiàn)性由經(jīng)典的Turbo V?源和氣簾氣?接口技術(shù)得以實(shí)現(xiàn)。一次進(jìn)樣采集更多對(duì)MRMs,更節(jié)省空間的設(shè)計(jì)彎曲 LINAC?碰撞池通過更有效的離子聚焦提高靈敏度高壓Q0和QJET?離子導(dǎo)入設(shè)計(jì)兼容快速LC，并實(shí)現(xiàn)更廣泛的化合物覆蓋度快速的eQ?電子系統(tǒng)高重復(fù)性和準(zhǔn)確度的AcQuRate? 脈沖計(jì)數(shù)檢測(cè)器化合物質(zhì)量范圍：5-2000 Da長時(shí)間運(yùn)行臟樣品，仍然能獲得穩(wěn)定的結(jié)果Turbo V?源和氣簾氣?接口

品牌： 英國Kore 型號(hào)： SurfaceSeer 產(chǎn)地：英國 供應(yīng)商：香港皆能(亞洲)有限公司

SurfaceSeer ：具有高通量分析功能的飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀，用于研究樣品特定性能的理想工具SurfaceSeer 是Kore公司集多年研發(fā)經(jīng)驗(yàn)生產(chǎn)出獨(dú)特的儀器，第一次將材料表面分析技術(shù)引入到可負(fù)擔(dān)得起的日常常規(guī)分析范圍中?？稍谧疃痰姆治鰰r(shí)間內(nèi)生成化學(xué)圖像，突破常規(guī)實(shí)驗(yàn)室儀器的極限!SurfaceSeer分析儀采用功能強(qiáng)大的二次離子質(zhì)譜SIMS技術(shù)，結(jié)構(gòu)緊湊，僅需一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)電源，可放置于任何場(chǎng)所使用。SurfaceSeer應(yīng)用廣泛，是一臺(tái)高性價(jià)比的實(shí)驗(yàn)室型材料表面分析儀器。SurfaceSeer相對(duì)較低的維護(hù)成本和較高的樣品分析速度，保證其單個(gè)樣品分析成本明顯低于商業(yè)實(shí)驗(yàn)室的SIMS。SurfaceSeer是研究人員負(fù)擔(dān)得起的、具有表面成像功能 (可選深度剖析) 的儀器。TOF-SIMS 二次離子質(zhì)譜儀 (SIMS) 是材料表面分析最重要的技術(shù)之一，SIMS可以揭示表面及近表面原子層的化學(xué)組成。所獲取的信息遠(yuǎn)超過簡單的元素分析，可以識(shí)別有機(jī)組分的分子結(jié)構(gòu)。TOF-SIMS 的關(guān)鍵功能是原位無損分析表面區(qū)域 (靜態(tài)SIMS)。TOF-SIMS使用掃描脈沖聚焦探頭束（成像SIMS）建立無損表面的化學(xué)成像。使用其它離子束逐步刻蝕表面，對(duì)表面作深度剖析（動(dòng)態(tài)SIMS）。只需極少的樣品前處理，極短的時(shí)間內(nèi)就可獲得高靈敏度的分析結(jié)果 。SurfaceSeer特點(diǎn)l 單層表面信息l 檢測(cè)所有元素l 識(shí)別有機(jī)物l 高靈敏度分析l 快速化學(xué)成像l 薄膜深度剖析l 設(shè)計(jì)緊湊l 經(jīng)濟(jì)適用，友好的用戶界面SurfaceSeer擁有功能強(qiáng)大的樣品處理裝置提供各種樣品支架，可裝載不同厚度和直徑的樣品。SurfaceSeer檢測(cè)未知樣品如同檢測(cè)已知樣品那樣簡單，對(duì)未知樣品具有超強(qiáng)的分析性能, 可研究微小區(qū)域的表面，并可提取更多的有機(jī)樣品信息。SurfaceSeer質(zhì)譜儀可同時(shí)分析所有元素及有機(jī)物，可消除有機(jī)物和元素干擾，使譜圖更清晰，檢測(cè)限更低，能更有效地分析材料樣品。 SurfaceSeer所有儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)都能用于溯源性分析。數(shù)據(jù)處理軟件允許分析數(shù)據(jù)和樣品的化學(xué)構(gòu)成信息進(jìn)行全面的交互提取。SIMS擁有的常見材料譜庫可幫助識(shí)別未知物。SurfaceSeer應(yīng)用領(lǐng)域:l 表面涂層與處理l 電子元件l 半導(dǎo)體l 電極與傳感器l 潤滑劑l 催化劑l 粘合劑l 薄膜l 包裝材料l 腐蝕研究l 大學(xué)教學(xué)與科研SurfaceSeer-I能以正負(fù)TOF-SIMS模式產(chǎn)生“化學(xué)地圖”，其分析的空間分辨率約為0.5微米，質(zhì)量分辨率優(yōu)于3000（3000以上）。SurfaceSeer-S是以正負(fù)TOF-SIMS模式進(jìn)行分析研究的“利器”，質(zhì)量分辨率優(yōu)于2500（2500以上）。詳細(xì)技術(shù)指標(biāo)，敬請(qǐng)來電咨詢！

品牌： 英國SAI 型號(hào)： MiniSIMS alpha 產(chǎn)地：英國 供應(yīng)商：北京華沛智同科技發(fā)展有限公司

MiniSIMS alpha二次離子質(zhì)譜儀是MiniSIMS系列的入門級(jí)儀器。這種高樣品量的儀器是開發(fā)樣品特定性質(zhì)的理想選擇。不論是按照已知標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行質(zhì)量控制，還是研究/工藝優(yōu)化中多種樣品的比較分析，該儀器都非常高效。這種情況下，預(yù)設(shè)分析條件意味著不同的操作者可以獲得相同數(shù)據(jù)。通常情況下，每個(gè)樣品的分析時(shí)間最短5分鐘。MiniSIMS alpha二次離子質(zhì)譜儀可以配置輔助電子探針來分析絕緣性樣品。MiniSIMS alpha二次離子質(zhì)譜儀與MiniSIMS所有性能一樣，輔助電子探針可以自動(dòng)操作，使用方便。寬范圍的分析能力每臺(tái)MiniSIMS alpha二次離子質(zhì)譜儀都具有三種操作方式：靜態(tài)表面模式（靜態(tài)SIMS）、成像模式（成像SIMS）、深度成像模式（動(dòng)態(tài)SIMS）。這不同于其他昂貴的SIMS儀器，那些儀器通常被優(yōu)化成或者只用于表層的靜態(tài)分析，或者只用于次表面區(qū)域的動(dòng)態(tài)深度分析。

品牌： 英國SAI 型號(hào)： MiniSIMS ToF飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀 產(chǎn)地：英國 供應(yīng)商：北京華沛智同科技發(fā)展有限公司

MiniSIMS ToF飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀在探測(cè)未知樣品、研究較小區(qū)域的表面特征、從有機(jī)樣品中獲取更多信息方面。性能卓越探測(cè)未知樣品飛行時(shí)間質(zhì)譜（ToF）的引入使得MiniSIMS的性能躍升到一個(gè)新的水平。MiniSIMS ToF飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀對(duì)未知樣品的測(cè)定與測(cè)量已知組分一樣容易，這使得該儀器非常適合研究性應(yīng)用。在失效分析中，比如污染鑒定，發(fā)現(xiàn)的額外細(xì)節(jié)有助于準(zhǔn)確的查明問題的確切原因。創(chuàng)新的設(shè)計(jì)使得該儀器使用簡便、結(jié)構(gòu)緊湊。不僅處理功能強(qiáng)大，儀器操作也進(jìn)一步簡化，在實(shí)際分析中，基本不需要操作者的判斷。如果需要的話，可存儲(chǔ)的完整的三維數(shù)據(jù)可供有經(jīng)驗(yàn)的操作者進(jìn)行進(jìn)一步評(píng)估。高級(jí)分析MiniSIMS ToF飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀可以同時(shí)分析各種元素和有機(jī)物質(zhì)，更有效地利用了樣品材料。儀器性能的提高保證了對(duì)較小區(qū)域特征的全面分析。這種模式下，有機(jī)光譜的質(zhì)量得到了顯著提高。這種優(yōu)勢(shì)與拓寬的光譜質(zhì)量范圍相結(jié)合，獲得了更多關(guān)于有機(jī)材料的詳盡信息，便于與數(shù)據(jù)庫中的譜圖進(jìn)行對(duì)比分析。MiniSIMS ToF飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀同樣能夠區(qū)分常規(guī)有機(jī)物和元素的干擾，使數(shù)據(jù)更加清晰，檢測(cè)限更低。

品牌： 法國Cameca 型號(hào)： IMS 1280-HR 產(chǎn)地：法國 供應(yīng)商：法國cameca公司

IMS 1280-HR是大型磁質(zhì)譜二次離子質(zhì)譜儀，具有超高靈敏度，針對(duì)地質(zhì)科學(xué)與環(huán)境領(lǐng)域廣泛的分析需求而專門設(shè)計(jì)的。在地質(zhì)學(xué)定年、穩(wěn)定同位素分析、痕量元素以及小粒子分析等方面的分析展現(xiàn)了無與倫比的性能。 K/Ca dating: MR 30,000 (monocollection) Rb/Sr dating: MR 20,000-40,000 (monocollection) Mg metal isotope ratios: MR 5000 (multicollection) 繼承了IMS1280的諸多優(yōu)勢(shì)： 靈活多用的多接受系統(tǒng)，尤其適于用于同位素分析。 兩種具有反應(yīng)活性的的一次離子源，在數(shù)據(jù)采集的同時(shí)可對(duì)其進(jìn)行監(jiān)控。 具有高度再現(xiàn)能力的樣品臺(tái) NMR高分辨磁場(chǎng)控制 獨(dú)有的圖像功能 完全計(jì)算機(jī)化自動(dòng)工作，可遠(yuǎn)程監(jiān)控 1280-HR的新增性能： 通過加入一個(gè)新的六極靴，對(duì)耦合進(jìn)行了重新設(shè)計(jì)，減少了軸上二次畸變。 多接受模式下，峰形得到很大的改善。 優(yōu)化了真空以降低背底，有利于探測(cè)輕元素，氫化物。 在單接受模式以及高質(zhì)量分辨率下，通過靜電壓跳峰，提高了穩(wěn)定性 以上儀器的改進(jìn)增強(qiáng)了高質(zhì)量分辨率下的的傳輸型，因此提高了整體性能。 詳情參見英文版介紹，不容錯(cuò)過：http://www.cameca.com/instruments-for-research/ims1280.aspx

品牌： 法國Cameca 型號(hào)： IMS 7f 產(chǎn)地：法國 供應(yīng)商：法國cameca公司

CAMECA 二次離子質(zhì)譜儀（IMS 7f）的主要優(yōu)勢(shì)在于其極高的靈敏度、高空間分辨率（亞微米級(jí)橫向分辨率，納米級(jí)深度分辨率）以及同位素分辨本領(lǐng)。因其 ppb 水平檢測(cè)極限以及高分析速度和可靠性，IMS 7F 成為遍布全球的眾多獨(dú)立分析實(shí)驗(yàn)室的主力軍。 CAMECA的SIMS技術(shù)領(lǐng)先世界。無與倫比的性能得益于其獨(dú)有的基于磁扇區(qū)原理的儀器設(shè)計(jì)。 靈敏度：CAMECA IMS 7f 工作是的有效離子產(chǎn)率(useful yields- secondary ion detected per atomsputtered)比四極桿分析器高達(dá)100倍。做一次通常的深度剖析或者成像分析，以獲得同樣靈敏度所用時(shí)間相比，是TOF類SIMS的千分之一。(或反過來說，同樣的分析時(shí)間，TOF SIMS的靈敏度要低達(dá)1000倍)。 質(zhì)量分辨: CAMECA IMS 7f 可以分辨絕大多數(shù)質(zhì)譜中存在的質(zhì)量干擾，例如，31P與H30Si, 56Fe與28Si or 17O與H16O。這些干擾使得低質(zhì)量分辨率質(zhì)譜儀（比如四極桿類型）的探測(cè)極限大打折扣。CAMECA的SIMS獲得高質(zhì)量分辨率的同時(shí)并不會(huì)降低分析速度，這是TOF質(zhì)譜儀無法做到的。 離子成像：CAMECA IMS 7f 可以對(duì)所選質(zhì)量給出顯微鏡模式的圖像，分辨率達(dá)到一微米。從時(shí)間上看，這種模式下獲得圖像的速度比常規(guī)的掃描圖像模式(microprobe mode)要高幾個(gè)數(shù)量級(jí)。這種模式下還可以大大縮短調(diào)試設(shè)備的時(shí)長。 若想獲得亞微米級(jí)分辨率的圖像，CAMECA IMS 7f 需要采用微探針模式，依靠動(dòng)態(tài)光學(xué)傳輸以及高亮離子源達(dá)到業(yè)界最高水準(zhǔn)的靈敏度和分辨率。 高分析效率: A high efficiency optical gate is used to eliminate crater edge effects for combining high sputter rate and high dynamic range in the depth profile mode. Full computer control of the instrument allowing unattended analyses with different analysis recipe 詳情參見英文網(wǎng)站，精彩不容錯(cuò)過：http://www.cameca.com/instruments-for-research/ims7f.aspx

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