測(cè)量顯微鏡的的光學(xué)設(shè)計(jì)常識(shí)和原理-光學(xué)儀器

干涉顯微鏡，它利用剪切法不但能作一般干涉測(cè)量和微分干涉觀察，
而且還能對(duì)微小樣品作干涉相位差測(cè)量，是一種應(yīng)用范圍很廣的儀器。

  這里所說(shuō)的利用剪切法作一般干涉測(cè)量是把兩支光路過(guò)來(lái)的象，
完全分離并使它們產(chǎn)生干涉的方法測(cè)量微分干涉是利用分辯率以下的
剪切重疊干涉的方法.

  但是，在用剪切法進(jìn)行各種干涉測(cè)量中，還有一種比完全分離的
剪切要小，而分辨率要大的中間狀態(tài)下進(jìn)行干涉的方法，稱為差分干涉。
我們認(rèn)為這種方法是非常有用的.

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