金相截面測(cè)量厚度的常用方法-多功能一體金相顯微鏡

鍍層厚度
  雖然化學(xué)鍍鎳層的鍍層厚度，很大程度上可以決定它的質(zhì)盤
和用途，但厚度本身并不是性質(zhì)。

  當(dāng)測(cè)試的樣品具有簡單的形狀(例如板、管等)，只要簡單的測(cè)
量就夠了。但是，當(dāng)形狀復(fù)雜時(shí)，需要一個(gè)定位夾來保證千分表或
數(shù)字千分表總是測(cè)在同一位置上.良好的干分表有±2μm以下的
精度。

  金相截面法測(cè)量厚度的通用方法

這種簡單的方法特別適合于厚度55m以上的鍍層.由于金相顯微鏡
分辨率的限制，較薄的鍍層能夠#471量到±0.5μm。金相截面法
不適合測(cè)量厚度2μm以下的鍍層。

  磁性法規(guī)定(DIN50981)測(cè)量鐵磁性基底上的非鐵磁性鍍層.
有兩種不同的測(cè)量原理。

  吸力法中，測(cè)量鍍層厚度是利用永久磁鐵和基底之間的吸力
大小與兩者之間的距離的關(guān)系。這一距離就是鍍層厚度。
  在基底本身拋得非常光的情況下，使用適當(dāng)?shù)脑O(shè)備和正確的
工藝條件，可以沉積出很厚的，反射率很高的鎳磷鍍層。

有200μm一P(12%)化學(xué)鍍層的光學(xué)反射鏡，很高的反射率，加
上經(jīng)久的光亮度解決了空間應(yīng)用有關(guān)的特殊問題。

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