萬(wàn)能工具顯微鏡是應(yīng)用于測(cè)量的光學(xué)儀器應(yīng)用簡(jiǎn)介

  萬(wàn)能工具顯微鏡（簡(jiǎn)稱萬(wàn)工顯）是一臺(tái)兩座標(biāo)的光學(xué)儀器，
由于儀器本身結(jié)構(gòu)存在缺陷，在幾何測(cè)試中儀器就有一定的局
限性，使一些工件無(wú)法測(cè)量，如園錐內(nèi)螺紋量規(guī)、光面內(nèi)錐環(huán)
規(guī)等等。

  多座標(biāo)萬(wàn)能測(cè)量機(jī)

  單項(xiàng)誤差幾何誤差反映在多座標(biāo)萬(wàn)能測(cè)量機(jī)上的幾何誤差
主要有：直線度誤差垂直度誤差、平行度誤差、蠕動(dòng)誤差等。
  導(dǎo)軌的制造誤差由于制造不精確。X 向、Y 向、Z 向?qū)к?br>都可能存在直線性誤差，它隨測(cè)量范圍的增大而加大，在座標(biāo)
測(cè)量機(jī)總誤差中，由于直線度引起的誤差占很大的部分。

  直線度公差值通常有兩種法——線性值和角度值，由于座
標(biāo)測(cè)量機(jī)有定位精度要求，為了便于控制阿貝誤差，限制導(dǎo)軌
移動(dòng)時(shí)的傾斜，必須標(biāo)注角度值，對(duì)于測(cè)量范圍較大。

  軸向定位誤差定位誤差是座標(biāo)測(cè)量機(jī)精度有一個(gè)重要組成
部分，由于座標(biāo)測(cè)量機(jī)的每根測(cè)量軸上都裝有一套測(cè)量系統(tǒng)，
它們確定了被測(cè)工件的座標(biāo)值，所以，測(cè)量系統(tǒng)的定位誤差對(duì)
于待測(cè)工件有著直接的影響，這種誤差主要由標(biāo)尺誤差、標(biāo)尺
連接處非連續(xù)性誤差、細(xì)分電路誤差、摩擦和阿貝誤差等原因
引起，反映在三根軸上有：垂直度誤差從理論上說(shuō)，座標(biāo)測(cè)量
機(jī)上的直根導(dǎo)軌應(yīng)是互相垂直的，但由于導(dǎo)軌本身的直線度及
裝配、安裝時(shí)和誤差，引起導(dǎo)軌互不垂直，使運(yùn)動(dòng)軸之間產(chǎn)生
角度偏差，從而影響測(cè)量點(diǎn)在被測(cè)工件上的幾何位置。

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