元件接觸電阻的測(cè)量機(jī)械設(shè)備-電子顯微鏡的技術(shù)應(yīng)用

在眾多的工程技術(shù)應(yīng)用中，接觸電阻的測(cè)量是一個(gè)很有效的工具。
這些測(cè)量方法被應(yīng)用于許多領(lǐng)域，包括故障分析、條件監(jiān)測(cè)、機(jī)器和設(shè)
備的預(yù)防維護(hù)。用電檢測(cè)方法進(jìn)行表面特性的描繪是其中最能提供信息
的領(lǐng)域之一。特別是用探針估測(cè)表面電導(dǎo)率的方法已被廣泛應(yīng)用。

電檢測(cè)的方法在摩擦學(xué)中早已得到了廣泛的應(yīng)用。從歷史上來(lái)說(shuō)，
電檢測(cè)方法的發(fā)展與評(píng)估潤(rùn)滑條件的問(wèn)題有一定聯(lián)系。早期嘗試通過(guò)固
體問(wèn)接觸的電導(dǎo)率來(lái)評(píng)估潤(rùn)滑邊界條件。后來(lái)在摩擦中物質(zhì)向外發(fā)射高
能量電子，產(chǎn)生熱電現(xiàn)象、電塑性和電聲效應(yīng)、電化學(xué)過(guò)程及磁化現(xiàn)象
等方面開(kāi)展了許多研究。

有許多測(cè)量方法涉及用外部電流源或電壓源，以及接觸電阻及其頻
率特性獲取信息。這些技術(shù)可得到對(duì)實(shí)際接觸區(qū)域和潤(rùn)滑薄膜厚度的估
計(jì)，或中斷連續(xù)性的概率，以及磨損概率。對(duì)表層電阻的測(cè)量可得到摩
擦硬化的估計(jì)。

大量應(yīng)用于摩擦中的電檢測(cè)方法可估計(jì)機(jī)械設(shè)備中摩擦元件的材料
和潤(rùn)滑特性。估測(cè)油的潤(rùn)滑特性的方法是基于油的電導(dǎo)率、熱穩(wěn)定性的
測(cè)定等，

應(yīng)用于表面科學(xué)、摩擦學(xué)、機(jī)械工程學(xué)的電檢測(cè)方法包括納米技術(shù)
及基于納米的儀器這些新技術(shù)。掃描隧道顯微鏡是基于導(dǎo)電體間納米級(jí)
的間隔。在后面的章節(jié)中，將對(duì)摩擦學(xué)中的電檢測(cè)方法作一個(gè)簡(jiǎn)要的介
紹。重點(diǎn)將放在更加精密的微米級(jí)和納米級(jí)的檢測(cè)儀表上。

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