準(zhǔn)直光管式孔徑比較儀測孔測量誤差原因

用接觸式干涉儀測軸時，測量誤差的組成與用立式光學(xué)計測軸相似
，即包括：①光管帶來的誤差；②標(biāo)準(zhǔn)量塊的誤差；③工作臺臺面
對測帽平面不平行的誤差；④溫度的影響；⑤測量力的影響；⑥工
件重量與標(biāo)準(zhǔn)量塊重量差引起工作臺變形帶來的誤差等。其中，②
③④⑤項的考慮方法與用立式光學(xué)計測軸時相同。第⑥項考慮到干
涉測軸精度較高，為了不致因工件重量帶來的測量誤差影響測量精
度，必須控制被測工件的尺寸。對于干涉測量，建議被測工件直徑
小于40mm，根據(jù)檢定規(guī)程推算，這時帶來的工作臺變形，對鋼制工
件而言約為0．2微米。當(dāng)然如果采用標(biāo)準(zhǔn)軸比較，此項誤差可忽略
用準(zhǔn)直光管式孔徑比較儀測孔，其誤差由以下幾部分組成：
  (1)讀數(shù)系統(tǒng)的誤差。它包括測頭部分帶來的誤差和準(zhǔn)直光管
帶來的誤差。而測頭誤差又包括測頭本身的檢定誤差，將線值轉(zhuǎn)換
成角值帶來的誤差及其穩(wěn)定性誤差。
  (2)標(biāo)準(zhǔn)量塊的誤差。
  (3)標(biāo)準(zhǔn)量塊組成的標(biāo)準(zhǔn)框和孔的定位誤差。對標(biāo)準(zhǔn)框來說，
其標(biāo)準(zhǔn)尺寸應(yīng)該是在水平面和垂直面內(nèi)的最小尺寸。而對被測孔，
要測的尺寸應(yīng)該是在水平面內(nèi)的最大尺寸和垂直面內(nèi)的最小尺寸。
無論是標(biāo)準(zhǔn)框或被測孔，這個尺寸都不可能定位很準(zhǔn)確。對于可以
找轉(zhuǎn)折點的儀器而言，其定位精度決定于讀數(shù)的靈敏程度。對本儀
器來說，由于它在孔的垂直截面內(nèi)不能找轉(zhuǎn)折點，因此在這個方向
上的定位誤差就決定于孔的端面對孔軸線的垂直度誤差。

  (4)溫度的影響。其作用因素與測軸的情況相同。
  (5)測力帶來的誤差。在孔測量中，所使用的測帽都是球
測帽，故由測力引起的變形，對標(biāo)準(zhǔn)框和孔相差不多，而且本
儀器的測力小(不大于0．28N)，此項影響可忽略。
  用此儀器測孔，其總誤差隨著所用標(biāo)準(zhǔn)量塊的等級及工
件定位誤差的不同而不同。根據(jù)有關(guān)資料，在不考慮上述兩
個因素的情況下，其測量精度可達±0．25微米。

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