儀器信息網(wǎng)訊 2018年9月5日，日本最大規(guī)模的分析儀器展JASIS 2018在東京幕張國(guó)際展覽中心盛大開(kāi)幕，吸引來(lái)自全球各地的萬(wàn)余名觀眾參觀出席。

　　作為世界知名光科學(xué)、光產(chǎn)業(yè)公司，日本濱松光子學(xué)株式會(huì)社再次亮相JASIS 2018，并在展會(huì)期間帶來(lái)其多款質(zhì)譜部件及外設(shè)新產(chǎn)品，包括：離子化基板新品DIUTHAME、第三代MCP JEN3 MCP、MCP+AD等。

?????????????????????????? 離子化基板新品DIUTHAME

　　離子化基板新品DIUTHAME ——為質(zhì)譜成像分析而生

　　主要特點(diǎn)包括：1)通用于主流品牌質(zhì)譜產(chǎn)品，可直接搭載在主流質(zhì)譜的靶板上;2)不需要與Matrix的調(diào)和、涂布、干燥的前處理。在提高操作便利性(3分鐘左右可完成前處理)的同時(shí)，其高質(zhì)量的數(shù)據(jù)，有望取得良好的重現(xiàn)性;3)使用MALDI法進(jìn)行離子化時(shí)，會(huì)出現(xiàn)因待測(cè)樣品成分的性質(zhì)原因，而難以與Matrix共同結(jié)晶的情況;以及待測(cè)樣品中包含鹽、添加劑等雜質(zhì)的濃度過(guò)高時(shí)，阻礙Matrix結(jié)晶的情況。在這樣的情況中，使用DIUTHAME則不會(huì)有這樣的困擾，能夠獲得很好的效果。

第三代MCP JEN3 MCP

　　濱松最新推出的適用于小型質(zhì)譜儀的gen3 mcp

　　主要特點(diǎn)：在小型化質(zhì)譜儀的設(shè)計(jì)中，最大的一個(gè)挑戰(zhàn)在于真空系統(tǒng)，真空度越高，質(zhì)譜儀的信噪比越好。然而質(zhì)譜儀小型化會(huì)直接導(dǎo)致系統(tǒng)真空度降低，這會(huì)嚴(yán)重影響質(zhì)量分析器及探測(cè)器的正常運(yùn)行。濱松最新推出的擁有三級(jí)結(jié)構(gòu)的gen3 mcp，通過(guò)實(shí)現(xiàn)控制離子走向的策略，成功解決了在較低真空度情況下，獲得更高信噪比的問(wèn)題。憑借在低真空度下的優(yōu)異表現(xiàn)，加上小巧的尺寸(有效面積直徑：14mm)，gen3 mcp將會(huì)大大釋放束縛在質(zhì)譜儀真空系統(tǒng)上的韁繩，方便開(kāi)發(fā)者開(kāi)發(fā)更為靈活便攜、功耗更低、更適合現(xiàn)場(chǎng)使用的小型質(zhì)譜儀。

新品MCP+AD

　　濱松另一款MCP新品，則是充分利用了其公司在電子真空、半導(dǎo)體兩個(gè)業(yè)務(wù)部門(mén)的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，將電子真空器件與半導(dǎo)體器件整合在一起，使得MCP+AD新品相比傳統(tǒng)MCP，性能大大提高。主要優(yōu)勢(shì)包括：1)相比傳統(tǒng)MCP，壽命大大增加;2)信號(hào)響應(yīng)更強(qiáng);3)動(dòng)態(tài)范圍更寬，(由10^2提高至10^6)使飛行時(shí)間質(zhì)譜由定性到定量分析成為現(xiàn)實(shí)。