焊接微結(jié)構(gòu)金屬熔深分析實(shí)驗(yàn)顯微鏡廠商
焊接方法直接影響HAZ的微結(jié)構(gòu),但是也影響焊接金屬被原鋼
稀釋的程度,以及焊接熔化處的組成。焊渣、氧化膜和夾雜物增加
了焊接腐蝕現(xiàn)象的復(fù)雜性。
在一種環(huán)境下選擇某一種焊條用于避免選擇性腐蝕,但在另一
種環(huán)境下卻可能使問(wèn)題惡化,注意到這一點(diǎn)是非常重要的。例如,
像為海水注人系統(tǒng)所推薦的含有1%Ni或0.6%Ni加上0.4%Cu的
焊條,如果在無(wú)硫環(huán)境中,在一定的條件下應(yīng)用,就可能產(chǎn)生一些
問(wèn)題。在有些情況下,焊接金屬的快速腐蝕已經(jīng)出現(xiàn),而HAZ侵蝕
也已經(jīng)被發(fā)現(xiàn)。這種問(wèn)題出現(xiàn)的條件現(xiàn)已被確定。但是,在大多數(shù)
情況下,在一些接近產(chǎn)生保護(hù)性垢的條件的溫度下(70~80℃)仍會(huì)
發(fā)生腐蝕。
選擇性焊接腐蝕的風(fēng)險(xiǎn)可通過(guò)在模擬條件下,使用合適的電化
學(xué)監(jiān)控技術(shù),包括通過(guò)零電阻電表的電偶技術(shù),對(duì)相關(guān)焊件進(jìn)行實(shí)
驗(yàn)室實(shí)驗(yàn)來(lái)減小。應(yīng)該注意的是,盡管實(shí)驗(yàn)室研究在模擬焊接腐蝕
問(wèn)題方面比模擬cD2腐蝕情況取得了更廣泛的成功,但是在有些情
況下(如在高鎳含量情況下),實(shí)驗(yàn)室中所觀察到的是陰極焊接金屬
特性,而實(shí)際中卻是陽(yáng)極特性,這可能是由于初始表面狀態(tài)不同所
致。
因此,焊件腐蝕特性必須在應(yīng)用中通過(guò)監(jiān)測(cè)來(lái)確定??梢允褂?br>同樣的監(jiān)測(cè)技術(shù),理想情況下是和其他技術(shù)相結(jié)合,如超聲波壁厚
測(cè)量法。
緩蝕作用(和殺菌劑處理)對(duì)焊件腐蝕的影響也是必須要考慮的
。盡管緩蝕作用是控制選擇性焊接腐蝕的一個(gè)有效方法,但是緩蝕
劑的吸附作用受焊接金屬成分的影響,而且在某些情況下
不能保護(hù)。在模擬操作條件下對(duì)焊件再次進(jìn)行緩蝕劑測(cè)試可用來(lái)選
擇一個(gè)合適的緩蝕劑配方。
垢在焊接處破裂的原因如下:
(1)局部紊流,由于焊接根部凸起,影響流動(dòng)和渦流,使垢破
裂。
(2)焊接處的化學(xué)性質(zhì)與鄰近金屬的化學(xué)性質(zhì)有點(diǎn)不同,而且
由于某些原因(如碳化物結(jié)構(gòu)),垢是無(wú)保護(hù)性的。
解決這個(gè)問(wèn)題不容易,所能采取的步驟是:
(1)規(guī)定一個(gè)最大根部侵入深度0.5mm。
(2)將填料金屬用于根部,同時(shí)使用主要用于焊接所謂耐候鋼
的銅鎳合金。還推薦使用低焊接硅含量,硅含量大約小于0.35%
,因?yàn)樵谶^(guò)去所使用的焊接Si(硅)含量約為0.5%或稍高時(shí),確實(shí)
遇到過(guò)一些實(shí)際問(wèn)題。Si所帶來(lái)的問(wèn)題是其取決于電弧在整個(gè)電弧
范圍內(nèi)的恢復(fù)及局部遮擋(即在連接設(shè)計(jì)、焊接位置上等)。因此,
根據(jù)不同的焊件或連接點(diǎn)的幾何形狀,同樣的電極可給出焊點(diǎn)處合
理的S1含量范圍。但是一般情況下應(yīng)該滿(mǎn)足Si的含量小于0.35%
。
(3)對(duì)于給定的條件,進(jìn)行詳細(xì)的模擬流動(dòng)條件的實(shí)驗(yàn)室實(shí)驗(yàn)
來(lái)選擇填料和緩蝕劑的組合(特別建議實(shí)驗(yàn)在高于7℃的溫度下進(jìn)行
)。
(本文由上海光學(xué)儀器廠編輯整理提供, 未經(jīng)允許禁止復(fù)制http://www.sgaaa.com)
合作站點(diǎn):http://www.xianweijing.org/