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臺式X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀（XAFS/XES）
美國easyXAFS公司最新推出臺式X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀（XAFS/XES），采用獨有的X射線單色器設(shè)計，無需同步輻射光源，在常規(guī)實驗室環(huán)境中實現(xiàn)X射線吸收精細結(jié)構(gòu)測量和分析，提供XAFS和XES兩種測量模式，并輕松相互切換。以極高的靈敏度和光源質(zhì)量，廣泛應(yīng)用在催化、電池等研究領(lǐng)域，實現(xiàn)對元素的測定、定量和價態(tài)分析等。
XAFS300
XES100
easyXAFS 產(chǎn)品參數(shù)
X射線源:
XAFS: 1.2-kw XRD(Mo/w)
XES: 100w XRF 空冷管(Pd/W)
能量范圍: 5-12keV; 可達19keV
分辨率: 0.5-1.5eV
樣品塔: 7位自動樣品輪
布拉格角: 55-85 deg
檢測器: SDD
軟件: LabVIEW, 腳本掃描
擴展: 儀器可外接設(shè)備，控制樣品條件
分析儀校準: 預(yù)先校準，快速插拔更換
easyXAFS 產(chǎn)品優(yōu)勢
- 無需同步輻射光源
- 科研級別譜圖效果
- 臺式設(shè)計，實驗室內(nèi)使用
- 可外接儀器設(shè)備，控制樣品條件
- 可實現(xiàn)多個樣品或多種條件測試
- 操作便捷、維護成本低
easyXAFS 應(yīng)用案例譜圖展示
1、XAFS300
2、XES100
■ XES Mode
■ XAFS Mode
easyXAFS 已發(fā)表文章
1. Jahrman, Seidler, et al., J. Electrochem. Soc. 2019.
2. Jahrman, Holden, et al., Rev. Sci. Instrum. 2019.
3. Bès, Ahopelto, et al., J. Nucl. Mater. 2018.
4. Mundy, Cossairt, et al.,Chem Mater 2018
5. Jahrman, Seidler, and Sieber, Anal. Chem., 2018
6. Holden, Seidler, et al., J. Phys. Chem. A, 2018.
7. Stein, Holden, et al., Chem. Mater., 2018.
8. Padamati, Angelone, et al., JACS, 2017
9. Mortensen, Seidler, et al., Phys Rev B, 2017.
10. Valenza, Jahrman, et al., Phys Rev A, 2017
11. Mortensen, Seidler, et al., XAFS16 conference proceedings.
12. Seidler, Mortensen, et al., XAFS16 conference proceedings.
13. Seidler, Mortensen, et al., Rev. Sci. Instrum. 2014.
創(chuàng)新點：
1、采用獨有的X射線單色器設(shè)計，無需同步輻射光源即可進行測試； 2、臺式設(shè)計，方便實驗室使用； 3、提供兩種測量模式：XAFS和XES。
臺式X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜儀
