對(duì)低溫試驗(yàn)箱的性能進(jìn)行校準(zhǔn)，是保證產(chǎn)品低溫環(huán)境試驗(yàn)數(shù)據(jù)的的精確度的必要手段。想要正確地進(jìn)行校準(zhǔn)，就要先了解低溫試驗(yàn)箱有哪些校驗(yàn)項(xiàng)目，需要用到哪些校驗(yàn)環(huán)境和校驗(yàn)設(shè)備，以及校驗(yàn)方法和校驗(yàn)數(shù)據(jù)的處理等知識(shí)，下面我們就這些要點(diǎn)一一為大家介紹。

1、外觀與工作狀態(tài)校驗(yàn)。

2、溫度校驗(yàn)及標(biāo)定。

3、溫度穩(wěn)定性測(cè)定。

4、降溫時(shí)間測(cè)定。

1、校驗(yàn)環(huán)境

溫度20℃±10℃，環(huán)境相對(duì)濕度不大于85%，校驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)周圍應(yīng)清潔，無(wú)影響工作的振動(dòng)和腐蝕性氣體存在。

2、校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)器具

標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)：量程-50℃~+50℃，分度值0.5℃。

輔助工具：計(jì)時(shí)器、試電筆。

1、外觀與工作狀態(tài)校驗(yàn)

對(duì)被校低溫試驗(yàn)箱的各項(xiàng)校驗(yàn)在常溫下進(jìn)行。在進(jìn)行校驗(yàn)時(shí)，被校儀器的工作箱內(nèi)均不放置試樣。

a、檢查銘牌、外觀及音響并記錄結(jié)果；

b、接通電源，檢查電源控制系統(tǒng)并記錄結(jié)果；

c、用試電筆檢查絕緣性能并記錄結(jié)果。

2、技術(shù)參數(shù)校驗(yàn)

a、溫度校驗(yàn)及標(biāo)定

將標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)放入被校儀器內(nèi)部中心位置，關(guān)閉箱門(mén)，啟動(dòng)被校儀器，調(diào)溫度控制器至指定值，當(dāng)指示器顯示到指定值時(shí)，打開(kāi)箱門(mén)，查看并記錄標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)的顯示值，觀察并記錄下列控制溫度的標(biāo)準(zhǔn)顯示值：-5℃、-10℃、-15℃、

-20℃，精確至0.5℃。計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)溫度計(jì)與溫度控制器顯示值的誤差值（精確至0.1℃）作為修正值，被校儀器的檢測(cè)控制溫度應(yīng)采用修正控制溫度。

b、溫度穩(wěn)定性測(cè)定

啟動(dòng)被校儀器，調(diào)整溫度控制器至指定的修正控制溫度（即實(shí)際溫度為：

-5℃、-10℃、-15℃、-20℃）±2℃的范圍內(nèi)，待溫度降至控制范圍之內(nèi)后，觀察并記錄30min內(nèi)控制器能否正?？刂啤?/p>

c、降溫時(shí)間測(cè)定

打開(kāi)箱門(mén)，在常溫下將試件裝滿被校儀器后關(guān)閉箱門(mén)，啟動(dòng)被校儀器，調(diào)整溫度控制器至修正溫度-20℃，同時(shí)用計(jì)時(shí)器開(kāi)始計(jì)時(shí)，待溫度降至-20℃時(shí)記錄此時(shí)計(jì)時(shí)器的時(shí)間，此期間的時(shí)間為降溫時(shí)間，精確至1min。

3、校驗(yàn)結(jié)果處理

目前在低溫試驗(yàn)箱等環(huán)試設(shè)備校準(zhǔn)的過(guò)程中，主要可以采用三種不同的方法。而想要保證選擇的正確性，我們需要先對(duì)這三種不同的校準(zhǔn)方法進(jìn)行適當(dāng)?shù)牧私猓绕湟獙?duì)各自的優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行分析和研究。選擇其中最為適合的方法對(duì)環(huán)境試驗(yàn)箱進(jìn)行校準(zhǔn)。下面我們就針對(duì)環(huán)境試驗(yàn)箱常用的這三種不同的校準(zhǔn)方法的優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行介紹：

1、無(wú)負(fù)載校準(zhǔn)

優(yōu)點(diǎn)：高低溫試驗(yàn)箱的整個(gè)工作區(qū)域都得到了校準(zhǔn)、測(cè)試樣品變得更時(shí)不需要重新校準(zhǔn)、能夠?qū)Ω叩蜏卦囼?yàn)箱的適用性做出有效的評(píng)估。

缺點(diǎn)：不能評(píng)估測(cè)試樣品對(duì)試驗(yàn)箱所造成的影響。

2、有負(fù)載校準(zhǔn)

優(yōu)點(diǎn)：能夠比較準(zhǔn)確地評(píng)估測(cè)試樣品對(duì)低溫試驗(yàn)箱性能的影響、易于得到測(cè)試樣品關(guān)鍵部件或部位的環(huán)境試驗(yàn)的詳細(xì)信息。而它的主要缺點(diǎn)：當(dāng)更換測(cè)試樣品時(shí)，需要重新校準(zhǔn)。

3、在使用中的實(shí)時(shí)測(cè)定

優(yōu)點(diǎn)：能夠得到測(cè)試樣品在環(huán)境試驗(yàn)過(guò)程中全面的環(huán)境參數(shù)，往往在對(duì)環(huán)境要求很高的產(chǎn)品試驗(yàn)時(shí)采用。

缺點(diǎn)：每次環(huán)境試驗(yàn)都需要使用測(cè)量設(shè)備，通常在試驗(yàn)箱校準(zhǔn)時(shí)采用無(wú)負(fù)載條件下的校準(zhǔn)方法，本文為了便于評(píng)估試驗(yàn)箱的溫度性能，也采用了此方法進(jìn)行分析。