電壓擊穿試驗(yàn)儀大都采用的光耦隔離方式，但光耦與隔離無(wú)非是提高儀器的采集的抗干擾處理,對(duì)于電弧放電過(guò)程中的浪涌對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。華測(cè)獨(dú)立開(kāi)發(fā)的TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)，將起到對(duì)控制系統(tǒng)的絕對(duì)防護(hù)。[查看全部]

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

HCDJC-100KV電壓擊穿試驗(yàn)儀

注：可按用戶要求訂制非標(biāo)產(chǎn)品

本產(chǎn)品有以下型號(hào)：10KV，20KV，30KV，50KV，100KV系列

《附帶國(guó)家一級(jí)計(jì)量鑒定質(zhì)檢證書(shū)一份》

本產(chǎn)品由清華大學(xué)精密儀器系、北大物理系、北方工大機(jī)械學(xué)院等多位研究人員聯(lián)袂打造、是目前最穩(wěn)定的絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)儀器。    

應(yīng)用范圍

電壓擊穿試驗(yàn)儀滿足GB1408.1-2006《絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法 第1部分;工頻下試驗(yàn)》、GB/T1695-2005《硫化橡膠工頻擊穿電壓強(qiáng)度和耐電壓的測(cè)定方法》、GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗(yàn)方法》、GB/T 12656-1990《電容器紙工頻擊穿電壓測(cè)定法》、GB/T1981及ASTM D149標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)制造。電壓擊穿試驗(yàn)儀主要適用于固體絕緣材料如：塑料、薄膜、樹(shù)脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣油、絕緣漆、紙板等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測(cè)試;電壓擊穿試驗(yàn)儀采用計(jì)算機(jī)控制，試驗(yàn)過(guò)程中可在線觀察試驗(yàn)曲線;自動(dòng)存儲(chǔ)試驗(yàn)條件及試驗(yàn)結(jié)果等數(shù)據(jù)，并可存取、顯示、打印。本試驗(yàn)機(jī)采用立式箱體結(jié)構(gòu)，極大的節(jié)省試驗(yàn)室內(nèi)占地空間，地腳采用滑輪結(jié)構(gòu)，方便移動(dòng)和擺放，避免同類廠家生產(chǎn)的臥式設(shè)備，安放時(shí)需要另配安裝臺(tái)的情況，占地空間大，移動(dòng)不方便等缺點(diǎn)。

主要特點(diǎn)

● 多級(jí)循環(huán)電壓采集技術(shù)：材料擊穿后，瞬間放電速度約為光速的1/5～1/3,國(guó)際通用的方法為壓降法進(jìn)行采集擊穿電壓。即變壓器的初級(jí)電壓瞬間下降一定比率來(lái)判別材料是否擊穿。顯然記錄擊穿電壓值產(chǎn)生偏差。而采用多級(jí)循環(huán)采集技術(shù)對(duì)擊穿后的電壓采集將解決此難題?！?低通濾波電流監(jiān)測(cè)技術(shù):高壓壓放電過(guò)程中將產(chǎn)生高頻信號(hào)。而無(wú)論是國(guó)產(chǎn)與進(jìn)口電流采集傳感器，大都為工頻電流傳感器。而采集過(guò)程中無(wú)法將高頻信號(hào)處理時(shí)，從而造成檢測(cè)不準(zhǔn)確。無(wú)論是采用磁通門或霍爾原理所設(shè)計(jì)的傳感器存在擊穿后瞬間輸出電壓或電流信號(hào)過(guò)大，從而燒壞控制系統(tǒng)的采集部分。華測(cè)開(kāi)發(fā)的低濾波電流采集傳感器將高頻雜波信號(hào)進(jìn)行相應(yīng)處理。同流采集華測(cè)自主開(kāi)發(fā)的保護(hù)模塊來(lái)保證采集精度與保護(hù)采集元件?！?雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù)：國(guó)內(nèi)唯一采用雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)應(yīng)用于電擊穿儀器，華測(cè)生產(chǎn)的電壓擊穿儀器不僅具備過(guò)壓、過(guò)流保護(hù)系統(tǒng)，它獨(dú)有的雙系統(tǒng)互鎖機(jī)制，當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問(wèn)題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時(shí)，將瞬間切斷高壓。● SPWM電子升壓技術(shù)目前進(jìn)口設(shè)備大都采用SPWM電子升壓技術(shù)，這一技術(shù)具有升壓速度平穩(wěn)，精度高。便于維護(hù)等優(yōu)點(diǎn)是調(diào)壓器無(wú)法比擬的。

技術(shù)參數(shù)

主要配置

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) 電壓擊穿試驗(yàn)儀大都采用的光耦隔離方式，但光耦與隔離無(wú)非是提高儀器的采集的抗干擾處理,對(duì)于電弧放電過(guò)程中的浪涌對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。華測(cè)獨(dú)立開(kāi)發(fā)的TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)，將起到對(duì)控制系統(tǒng)的絕對(duì)防護(hù)。