臺(tái)階儀屬于接觸式表面形貌測(cè)量?jī)x器。根據(jù)使用傳感器的不同，接觸式臺(tái)階測(cè)量可以分為電感式、壓電式和光電式。臺(tái)階儀測(cè)量原理是：當(dāng)觸針沿被測(cè)表面輕輕滑過時(shí)，觸針的運(yùn)動(dòng)情況就反映了表面輪廓的情況。經(jīng)放大與相敏整流后，可將位移信號(hào)從調(diào)幅信號(hào)中解調(diào)出來，得到放大了的與觸針位移成正比的緩慢變化信號(hào)。臺(tái)階儀測(cè)量精度較高、量程大、測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定可靠、重復(fù)性好。 精品推薦
品牌： 美國(guó)KLA 型號(hào)： P-7 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：優(yōu)尼康科技有限公司

P-7建立在市場(chǎng)領(lǐng)先的P-17臺(tái)式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。 它保持了P-17技術(shù)的卓越測(cè)量性能，并作為臺(tái)式探針輪廓儀平臺(tái)提供了極高的性價(jià)比。 P-7可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，其掃描可達(dá)150mm而無需圖像拼接。

品牌： 美國(guó)KLA 型號(hào)： Alpha-Step D-500 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：優(yōu)尼康科技有限公司

Alpha-Step D-500探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力的2D測(cè)量。 創(chuàng)新的光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測(cè)量，大垂直范圍和低觸力測(cè)量功能。 探針測(cè)量技術(shù)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是它是一種直接測(cè)量，與材料特性無關(guān)。 可調(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對(duì)各種結(jié)構(gòu)和材料進(jìn)行精確測(cè)量。 通過測(cè)量粗糙度和應(yīng)力，可以對(duì)工藝進(jìn)行量化，確定添加或去除的材料量，以及結(jié)構(gòu)的任何變化。

品牌： 美國(guó)KLA 型號(hào)： Alpha-Step D-600 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：優(yōu)尼康科技有限公司

Alpha-Step D-600探針式輪廓儀支持臺(tái)階高度和粗糙度的2D及3D測(cè)量，以及翹曲度和應(yīng)力的2D測(cè)量。 創(chuàng)新的光學(xué)杠桿傳感器技術(shù)提供高分辨率測(cè)量，大垂直范圍和低觸力測(cè)量功能。 探針測(cè)量技術(shù)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是它是一種直接測(cè)量，與材料特性無關(guān)。 可調(diào)節(jié)的觸力以及探針的選擇都使其可以對(duì)各種結(jié)構(gòu)和材料進(jìn)行精確測(cè)量。 通過測(cè)量粗糙度和應(yīng)力，可以對(duì)工藝進(jìn)行量化，確定添加或去除的材料量，以及結(jié)構(gòu)的任何變化。

品牌： 美國(guó)KLA 型號(hào)： P-17 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：優(yōu)尼康科技有限公司

該系統(tǒng)結(jié)合了UltraLite?傳感器、恒力控制和超平掃描平臺(tái)，因而具備出色的測(cè)量穩(wěn)定性。 通過點(diǎn)擊式平臺(tái)控制、頂視和側(cè)視光學(xué)系統(tǒng)以及帶光學(xué)變焦的高分辨率相機(jī)等功能，程序設(shè)置簡(jiǎn)便快速。 P-17具備用于量化表面形貌的各種濾鏡、調(diào)平和分析算法，可以支持2D或3D測(cè)量。 并通過圖案識(shí)別、排序和特征檢測(cè)實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)量。

品牌： 美國(guó)KLA 型號(hào)： P-170 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：優(yōu)尼康科技有限公司

P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，可提供幾納米至一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量功能，適用于生產(chǎn)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量，其掃描可達(dá)200mm而無需圖像拼接。 P-170具有先進(jìn)的圖案識(shí)別算法、增強(qiáng)的光學(xué)系統(tǒng)和先進(jìn)的平臺(tái)，這保證了性能的穩(wěn)定和系統(tǒng)間配方的無縫移植- 這是24x7生產(chǎn)環(huán)境的關(guān)鍵要求。

品牌： 日本KOSAKA 型號(hào)： ET150 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：上海昭沅儀器設(shè)備有限公司

KOSAKA LAB ET 150臺(tái)階儀設(shè)備特點(diǎn)： KOSAKA ET150基于Windows XP操作系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導(dǎo)體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層以及平板顯示等。使用金剛石（鉆石）接觸測(cè)量的方式來實(shí)現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用。ET150能精確可靠地測(cè)量出表面臺(tái)階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。 ET 150配備了各種型號(hào)，提供了通過程序控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD原位采集設(shè)計(jì)，可直接觀察到工作時(shí)的狀態(tài)，更方便準(zhǔn)確的定位測(cè)試區(qū)域。 規(guī)格 一、定工件： 1. 最大工件尺寸：φ160mm 2. 最大工件厚：50mm 3. 最大工件重量：2kg二、出器（pick up）： 1. Z方向定：Max. 600μm 2. Z方向分解能：0.1nm 3. 定：min.1mgf,max.50mg 4. 半：2 μm 5. 方式：直式 6. 再性：1σ= 1nm三、X (基)： 1. 移動(dòng)量(最大)：100mm 2. 移的真直：0.2μm/100mm 3. 移,定速：0.02 ~ 10mm/s 4. 性尺(linar scale)：分解能 0.1μm四、Z： 1. 移動(dòng)量：50mm 2. 移速度：max.2mm/S 3. 出器自停止能 4. 位置定分解能：0.2μm五、工件臺(tái)： 1. 工件臺(tái)尺寸：160mm 2. 械手傾斜： 1mm/150mm六、工件察：max.110 倍(可其它高倍CCD)七、床臺(tái)：材花巖石八、防振臺(tái)()：地型或桌上型九、源：AC100V±10%, 50/60HZ, 300VA十、本外尺寸及重量： W494mm;D458mm;H610mm, 120kg (含防震臺(tái))

品牌： 美國(guó)AEP Technology 型號(hào)： Nanomap-LS 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：aep Technology中國(guó)辦事處

臺(tái)階儀， NanoMap-LS接觸式三維表面臺(tái)階儀NanoMap-LSNanoMap -LS探針接觸式 臺(tái)階儀特點(diǎn)探針臺(tái)階儀是利用探針掃描樣品表面，儀器記錄探針隨樣品表面高低起伏狀態(tài)，整合數(shù)據(jù)得到臺(tái)階高度，表面形貌，溝槽深度等特征。雙模式操作（針尖掃描和樣品臺(tái)掃描），即使在長(zhǎng)程測(cè)量時(shí)也可以得到最優(yōu)化的小區(qū)域三維測(cè)圖針尖掃描采用精確的壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)掃描模式，三維掃描范圍從150mm X 150m 。樣品臺(tái)掃描使用高級(jí)別光學(xué)參考平臺(tái)能使長(zhǎng)程掃描范圍到50mm。接觸式探針臺(tái)階儀在掃描過程中結(jié)合彩色光學(xué)照相機(jī)可對(duì)樣品直接觀察針尖掃描采用雙光學(xué)傳感器，擁有寬闊測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍（最大至500μm）及亞納米級(jí)垂直分辨率 （最?。?１nm ）軟件設(shè)置恒定微力接觸簡(jiǎn)單的2步關(guān)鍵操作，友好的軟件操作界面、應(yīng)用臺(tái)階儀主要應(yīng)用在金屬材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度，臺(tái)階高度，二維粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），三維粗糙度（Sa,Sq,Smax），劃痕截面面積，劃痕體積，磨損面積，磨損體積，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測(cè)量。擺脫了以往只能得到二維信息，或三維信息過于粗糙的現(xiàn)狀。將臺(tái)階儀帶入了另一個(gè)高精度測(cè)量的新時(shí)代。三維表面輪廓測(cè)量和粗糙度測(cè)量，即適用于精密拋光的光學(xué)表面也可適用于質(zhì)地粗糙的機(jī)加工零件。薄膜和厚膜的臺(tái)階高度測(cè)量劃痕形貌，磨損深度、寬度和體積定量測(cè)量空間分析和表面紋理表征平面度和曲率測(cè)量二維薄膜應(yīng)力測(cè)量微電子表面分析和MEMS表征表面質(zhì)量和缺陷檢測(cè)環(huán)境要求濕度：10-80%， 相對(duì)濕度，無冷凝溫度：65-85 華氏度（△T＜1度/小時(shí)）電源要求：110/240V，50/60 Hz技術(shù)規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)樣品 臺(tái)階高度標(biāo)準(zhǔn)樣品（NIST認(rèn)證） 100um系統(tǒng) 光學(xué)照相機(jī)視場(chǎng)范圍 1.5 X 1.5mm光學(xué)照明 軟件控制暗場(chǎng)和亮場(chǎng)電腦 Pentium IV, USB2.0聯(lián)接操作系統(tǒng) Win XP系統(tǒng)動(dòng)力需求 90-240V，350W空間尺寸 20寬X 22長(zhǎng) X 25高重量 160lb 關(guān)鍵詞：臺(tái)階儀、形貌儀、磨損體積測(cè)量?jī)x、臺(tái)階儀、薄膜測(cè)厚儀、三維表面臺(tái)階儀、三維臺(tái)階儀、白光干涉儀、三維臺(tái)階儀、三維薄膜分析儀、三維形貌儀、三維粗糙度儀、表面臺(tái)階儀、

品牌： 日本小坂 型號(hào)： ET4000 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：上海恒一精密儀器有限公司

儀器簡(jiǎn)介：Excellent in accuracy, stability and functionality, ET4000 is a fully automatic, most appropriate for measurement of micro figure, step height and roughness of FPD, wafers, hard disks, and other nano-order application. ET4000 series can be selected from a number of models according to applications. ET4000A: Multifunctional and automatic ET4000L: Fully automatic, compatible with large precision glass or wafer size sample ET4000M: Reasonable, high performance and general-use技術(shù)參數(shù)：Max. sample size 210 × 210 mm to 300 × 400 mm Repeatability 1 σ within 0.5 nm Measuring range Z: 100 μm X: 100 mm (Y stroke: 150 to 400 mm) Resolution Z: 0.1 nm X: 0.01 μm Measuring force 0.5 μN(yùn) to 500 μN(yùn)主要特點(diǎn)：Excellent in accuracy, stability and functionality, ET4000 is a fully automatic, most appropriate for measurement of micro figure, step height and roughness of FPD, wafers, hard disks, and other nano-order application. ET4000 series can be selected from a number of models according to applications. ET4000A: Multifunctional and automatic ET4000L: Fully automatic, compatible with large precision glass or wafer size sample ET4000M: Reasonable, high performance and general-use

品牌： 日本小坂 型號(hào)： SE500 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：上海恒一精密儀器有限公司

儀器簡(jiǎn)介：SE500是先進(jìn)的，緊湊設(shè)計(jì)和高性能的粗糙度、波紋度和臺(tái)階測(cè)量?jī)x。 兼容各種參數(shù)和執(zhí)行的多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)同時(shí)分析。 以滿足所有應(yīng)用程序的優(yōu)秀可擴(kuò)展單位 便攜級(jí)機(jī)型中最長(zhǎng)的驅(qū)動(dòng)范圍和直線度 帶有開關(guān)控制器的集成觸摸面板 更寬幅的打印紙 能夠和各種應(yīng)用兼容的組合技術(shù)參數(shù)：標(biāo)準(zhǔn) JIS(2001/94/82),DIN,ISO,ASME 測(cè)量范圍 Z:800μm X: 55 mm 最小分辨率 0.08nm 測(cè)量倍率 Z: 50-200,000 or Auto X: 1-1000 or Auto 測(cè)量速度 0.05-2 mm/s 組成 7 種型號(hào)，從便攜式類型到固定類型主要特點(diǎn)： 便攜級(jí)機(jī)型中最長(zhǎng)的驅(qū)動(dòng)范圍和直線度 帶有開關(guān)控制器的集成觸摸面板 更寬幅的打印紙 能夠和各種應(yīng)用兼容的組合

品牌： 美國(guó)AEP Technology 型號(hào)： NanoMap 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：aep Technology中國(guó)辦事處

儀器簡(jiǎn)介： 該系統(tǒng)利用掃描探針顯微鏡光杠桿位移檢測(cè)技術(shù)和超平整參照面-大型樣品臺(tái)掃描技術(shù)，并與壓電陶瓷（PZT）掃描完美結(jié)合，可以再不喪失精度的情況下，即得到超大樣品整體三維輪廓圖，又呈現(xiàn)局部三維形貌像。其中樣品臺(tái)掃描參考平面使用超高平坦度光學(xué)拋光平臺(tái)，有效解決了以往樣品臺(tái)掃面，由于絲杠公差引起的測(cè)試結(jié)果有亞微米量級(jí)的誤差。 三維表面形貌/輪廓儀主要應(yīng)用在金屬材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度，臺(tái)階高度，二維粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），三維粗糙度（Sa,Sq,Smax），劃痕截面面積，劃痕體積，磨損面積，磨損體積，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測(cè)量。擺脫了以往只能得到二維信息，或三維信息過于粗糙的現(xiàn)狀。將輪廓儀帶入了另一個(gè)高精度測(cè)量的新時(shí)代。
1、常規(guī)的接觸式輪廓儀和掃描探針顯微鏡技術(shù)的完美結(jié)合 2、雙模式操作（針尖掃描和樣品臺(tái)掃描），即使在長(zhǎng)程測(cè)量時(shí)也可以得到最優(yōu)化的小區(qū)域三維測(cè)圖 3、針尖掃描采用精確的壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)掃描模式，三維掃描范圍從10μm X 10μm 到500μm X 500μm。樣品臺(tái)掃描使用高級(jí)別光學(xué)參考平臺(tái)能使長(zhǎng)程掃描范圍到50mm。 4、在掃描過程中結(jié)合彩色光學(xué)照相機(jī)可對(duì)樣品直接觀察 5、針尖掃描采用雙光學(xué)傳感器，同時(shí)擁有寬闊測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍（最大至500μm）及亞納米級(jí)垂直分辨率 （最?。?１nm ） 6、軟件設(shè)置恒定微力接觸 7、簡(jiǎn)單的2步關(guān)鍵操作，友好的軟件操作界面

品牌： 美國(guó)TMI 型號(hào)： 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：北京丹貝爾儀器有限公司

儀器簡(jiǎn)介：JohnParker’s博士發(fā)明的測(cè)試 方法，PPS采用微處理機(jī)控制， 可以快速，準(zhǔn)確測(cè)試出紙張?jiān)?印刷過程各種條件下的表面粗糙度。 試樣夾在高靈敏度測(cè)試頭和特殊設(shè) 計(jì)的背襯組件之間。測(cè)試氣流通過 紙張表面阻力直接由內(nèi)部計(jì)算成粗糙度以微米為結(jié)果單位顯示。 最新型的設(shè)備擴(kuò)展了夾樣壓力范圍和測(cè)試能力，雙面同時(shí)測(cè)試提高了功效。大容量信息的提供為我們節(jié)約了時(shí)間，最佳的模擬了印刷過程，節(jié)約了印刷成本。 技術(shù)參數(shù)： 測(cè)頭數(shù)量：一個(gè)或兩個(gè)(58-07-00-0001) 粗糙度測(cè)試范圍：0.20 - 6.50m 高粗糙度測(cè)試范圍：6.0 15.0m 透氣度測(cè)試范圍：ISO 5636/1: 0 14.5m.Pas 等同苯特森透氣度測(cè)試范圍：0-10000ml/min 等同葛萊透氣度測(cè)試范圍：1-6000s 夾樣壓力設(shè)定：500, 1000, and 2000kPa 夾樣壓力用戶自定：100 5000kPa 符合標(biāo)準(zhǔn)：ISO 8791/4 and TAPPI T555 主要特點(diǎn)：觸摸式按鍵 壓縮空氣清除試樣表面灰塵 試樣感應(yīng)探頭 一鍵顯示數(shù)理統(tǒng)計(jì)結(jié)果 內(nèi)置診斷故障程序 內(nèi)置校準(zhǔn)程序，可使用校準(zhǔn)塑料片，也可使用標(biāo)準(zhǔn)紙樣 包含校準(zhǔn)組件 兩個(gè)測(cè)試范圍，可以測(cè)量高范圍粗糙度 擴(kuò)展了夾樣壓力，更好地模擬了實(shí)際印刷方式 同時(shí)測(cè)試試樣雙面粗糙度或同時(shí)測(cè)試粗糙度和透氣度（僅限雙測(cè)頭型號(hào)）

品牌： 德國(guó)LT 型號(hào)： EK130 產(chǎn)地：德國(guó) 供應(yīng)商：北京德華振峽科技有限公司（上海|汽車城）

采用經(jīng)特殊處理的鋁和花崗巖材質(zhì)， EK130氣浮旋轉(zhuǎn)臺(tái)采用空氣靜壓軸承設(shè)計(jì)，LT氣浮轉(zhuǎn)臺(tái)滿足同心軸向徑向操作的最高要求， LT公司的氣浮旋轉(zhuǎn)臺(tái)規(guī)格： 標(biāo)準(zhǔn)直徑60毫米，100毫米或150毫米氣浮轉(zhuǎn)臺(tái)內(nèi)孔可選。轉(zhuǎn)臺(tái)利用水冷卻設(shè)計(jì)，使各款氣浮旋轉(zhuǎn)臺(tái)不僅耐用，而且具有熱穩(wěn)定性。 EK130氣浮旋轉(zhuǎn)臺(tái)可通過一個(gè)高轉(zhuǎn)速（ 150轉(zhuǎn)）和低于0.1弧秒的絕對(duì)精度結(jié)合實(shí)現(xiàn)超精密測(cè)量。這些測(cè)量單元的應(yīng)用領(lǐng)域通常涉及內(nèi)，外直徑測(cè)量，而且作為一個(gè)超精密機(jī)床附加旋轉(zhuǎn)軸。工件可以精確地固定到不銹鋼支撐板，或者通過真空吸附固定。

品牌： 美國(guó)Rtec 型號(hào)： UP-DUAL MODE 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：南京冉銳科技有限公司

美國(guó)Rtec雙模式臺(tái)階儀特點(diǎn)：一臺(tái)設(shè)備上集成非接觸式白光干涉形貌儀+高精度原子力顯微鏡白光干涉白光干涉能夠進(jìn)行高分辨率圖像的掃描，對(duì)表面進(jìn)行分析。兩種工作模式-相移和白光掃描模式,能夠高精度測(cè)量粗糙或者光滑的樣品表面。 最好的技術(shù)來實(shí)現(xiàn)高Z向分辨率 白光干涉法和相移兩種模式實(shí)現(xiàn)Z方向的高分辨率。 快速圖像處理系統(tǒng)達(dá)到400萬像素 四色LED相機(jī) 更大的垂直測(cè)量范圍達(dá)10毫米 150 mmx150mm馬達(dá)控制平臺(tái)。 樣品粗糙度，粗糙表面高度拋光后的光潔度以及表面結(jié)構(gòu)測(cè)量，如陶瓷、塑料和輥鋼。 SPIP專業(yè)數(shù)據(jù)分析軟件原子力顯微鏡探針式輪廓測(cè)量能夠進(jìn)行材料在納米尺度水平的測(cè)試。提供掃描范圍70 x70um，探針更換簡(jiǎn)單。 最好的技術(shù)來實(shí)現(xiàn)Z和XY方向上的高分辨率 X,Y和Z方向上納米級(jí)的分辨率和精度。 線性XY壓電陶瓷掃描 包括振動(dòng)和不振動(dòng)的模式 可選的側(cè)向力和相位模成像

品牌： 美國(guó)Rtec 型號(hào)： UP-Dual 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：南京冉銳科技有限公司

美國(guó)Rtec臺(tái)階儀特點(diǎn)：一臺(tái)設(shè)備上集成非接觸式白光干涉形貌儀+高精度原子力顯微鏡白光干涉白光干涉能夠進(jìn)行高分辨率圖像的掃描，對(duì)表面進(jìn)行分析。兩種工作模式-相移和白光掃描模式,能夠高精度測(cè)量粗糙或者光滑的樣品表面。 最好的技術(shù)來實(shí)現(xiàn)高Z向分辨率 白光干涉法和相移兩種模式實(shí)現(xiàn)Z方向的高分辨率。 快速圖像處理系統(tǒng)達(dá)到400萬像素 四色LED相機(jī) 更大的垂直測(cè)量范圍達(dá)10毫米 150 mmx150mm馬達(dá)控制平臺(tái)。 樣品粗糙度，粗糙表面高度拋光后的光潔度以及表面結(jié)構(gòu)測(cè)量，如陶瓷、塑料和輥鋼。 SPIP專業(yè)數(shù)據(jù)分析軟件原子力顯微鏡探針式輪廓測(cè)量能夠進(jìn)行材料在納米尺度水平的測(cè)試。提供掃描范圍70 x70um，探針更換簡(jiǎn)單。 最好的技術(shù)來實(shí)現(xiàn)Z和XY方向上的高分辨率 X,Y和Z方向上納米級(jí)的分辨率和精度。 線性XY壓電陶瓷掃描 包括振動(dòng)和不振動(dòng)的模式 可選的側(cè)向力和相位模成像

品牌： 美國(guó)AEP Technology 型號(hào)： NanoMap-LS（3） 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：aep Technology中國(guó)辦事處

臺(tái)階儀， NanoMap-LS 接觸式三維表面臺(tái)階儀NanoMap-LS 探針接觸式 臺(tái)階儀特點(diǎn)：探針臺(tái)階儀是利用探針掃描樣品表面，儀器記錄探針隨樣品表面高低起伏狀態(tài)，整合數(shù)據(jù)得到臺(tái)階高度，表面形貌，溝槽深度等特征。雙模式操作（針尖掃描和樣品臺(tái)掃描)針尖掃描采用精確的壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)掃描模式，三維掃描范圍從150mm X 150m樣品臺(tái)掃描掃描范圍到100mm納米級(jí)拋光光學(xué)參考平晶實(shí)時(shí)彩色光學(xué)照相機(jī)直接觀測(cè)雙光學(xué)傳感器 縱向測(cè)量范圍最大至1000um，最小到分辨率0.1nm恒定微力接觸 最小0.03mg簡(jiǎn)單友好的人機(jī)操作界面應(yīng)用臺(tái)階儀主要應(yīng)用在金屬材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度，臺(tái)階高度，二維粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），三維粗糙度（Sa,Sq,Smax），劃痕截面面積，劃痕體積，磨損面積，磨損體積，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測(cè)量。擺脫了以往只能得到二維信息，或三維信息過于粗糙的現(xiàn)狀。三維表面輪廓測(cè)量和粗糙度測(cè)量，即適用于精密拋光的光學(xué)表面也可適用于質(zhì)地粗糙的機(jī)加工零件。薄膜和厚膜的臺(tái)階高度測(cè)量劃痕形貌，磨損深度、寬度和體積定量測(cè)量空間分析和表面紋理表征平面度和曲率測(cè)量二維薄膜應(yīng)力測(cè)量微電子表面分析和MEMS表征表面質(zhì)量和缺陷檢測(cè)環(huán)境要求濕度：10-80%， 相對(duì)濕度，無冷凝溫度：65-85 華氏度（△T＜1度/小時(shí)）電源要求：110/240V，50/60 Hz關(guān)鍵詞：臺(tái)階儀、形貌儀、磨損體積測(cè)量?jī)x、臺(tái)階儀、薄膜測(cè)厚儀、三維表面臺(tái)階儀、三維臺(tái)階儀、白光干涉儀、三維臺(tái)階儀、三維薄膜分析儀、三維形貌儀、三維粗糙度儀、表面臺(tái)階儀、

品牌： 美國(guó)AEP Technology 型號(hào)： NanoMap-D（2） 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：aep Technology中國(guó)辦事處

NanoMap-D 臺(tái)階儀NanoMap-D三維臺(tái)階儀是用于表面結(jié)構(gòu)測(cè)量和表面形貌分析的一款測(cè)量計(jì)量型設(shè)備。既可以用于科學(xué)研究，也可以用于工業(yè)產(chǎn)品的檢測(cè)。該款儀器可以看做是表面研究的萬用表，采用接觸式和非接觸式功能集于一身的設(shè)計(jì)特點(diǎn)，彌補(bǔ)兩種模式的局限，發(fā)揮表面形貌儀的測(cè)量極限。光學(xué)非接觸式有速度快，直接三維成象，不破壞樣品等特點(diǎn)。探針接觸模式方便快捷，制樣簡(jiǎn)單，測(cè)量材料廣泛。兩種模式相結(jié)合可以對(duì)更多形狀、性狀、材質(zhì)的試樣進(jìn)行表面形貌的研究。臺(tái)階儀又名三維表面形貌或輪廓儀主要應(yīng)用在金屬材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度，臺(tái)階高度，二維粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），三維粗糙度（Sa,Sq,Smax），劃痕截面面積，劃痕體積，磨損面積，磨損體積，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測(cè)量。擺脫了以往只能得到二維信息，或三維信息過于粗糙的現(xiàn)狀。將輪廓儀帶入了另一個(gè)高精度測(cè)量的新時(shí)代。NanoMap-D臺(tái)階儀測(cè)量表面可以覆蓋90%以上材料表面。設(shè)備傳感器精度高，穩(wěn)定性好，材料應(yīng)用面廣。熱噪聲是同類產(chǎn)品最低的。垂直分辨率可達(dá)0.01 nm ( phase-shift mode) 可測(cè)跨學(xué)科、跨領(lǐng)域的各種樣品表面，包括透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…)；1、三維表面結(jié)構(gòu)：粗糙度,波紋度，表面結(jié)構(gòu)，缺陷分析，晶粒分析等2、二維圖像分析：距離,半徑,斜坡,格子圖, 輪廓線等3、表界面測(cè)量：透明表面形貌,薄膜厚度，透明薄膜下的表面4、薄膜和厚膜的臺(tái)階高度測(cè)量5、劃痕形貌，摩擦磨損深度、寬度和體積定量測(cè)量6、微電子表面分析和MEMS表征NanoMap-D臺(tái)階儀的主要特點(diǎn)：高精度卓越的縱向分辨率：0.1 nm ( 接觸式)；2 nm（光學(xué)非接觸式）對(duì)周圍環(huán)境和光源的強(qiáng)適應(yīng)性沒有機(jī)械過濾寬闊的垂直測(cè)量范圍多種選擇光學(xué)頭及接觸式縱向掃描范圍 300 to 3900 μm圖像“縫合”技術(shù)使再大的表面也能呈現(xiàn)在一幅圖像內(nèi)試用于幾乎所有的表面透明，不透明，反射光強(qiáng)等多種材料垂直臺(tái)階，高寬深比，隆起，孔洞脆性的材料，軟材料，柔性材料表面尖銳的，堅(jiān)硬的，磨損的表面適應(yīng)性強(qiáng)白光光源，人體安全設(shè)計(jì)，長(zhǎng)壽命白光LED 免維護(hù)?？梢杂糜诟鞣N環(huán)境的實(shí)驗(yàn)室，甚至工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境。接觸式輪廓儀和非接觸式輪廓儀技術(shù)的完美結(jié)合接觸式輪廓儀針尖掃描采用精確的壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)掃描模式，三維掃描范圍從10μm X 10μm 到500μm X 500μm。樣品臺(tái)掃描使用高級(jí)別光學(xué)參考平臺(tái)能使長(zhǎng)程掃描范圍到50mm。在掃描過程中結(jié)合彩色光學(xué)照相機(jī)可對(duì)樣品直接觀察針尖掃描采用雙光學(xué)傳感器，同時(shí)擁有寬闊測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍聯(lián)系方式：aep Technology電話：+86-010-68187909傳真：+86-010-68187909手機(jī)：+86-15611184708何先生公司網(wǎng)址：www.aeptechnolongy.com.cn 關(guān)鍵詞：臺(tái)階儀、形貌儀、磨損體積測(cè)量?jī)x、臺(tái)階儀、薄膜測(cè)厚儀、三維表面臺(tái)階儀、三維臺(tái)階儀、白光干涉儀、三維臺(tái)階儀、三維薄膜分析儀、三維形貌儀、三維粗糙度儀、表面臺(tái)階儀、表面臺(tái)階儀、關(guān)鍵詞：輪廓儀、形貌儀、磨損體積測(cè)量?jī)x、臺(tái)階儀、薄膜測(cè)厚儀、三維表面輪廓儀、三維輪廓儀、白光干涉儀、三維臺(tái)階儀、三維薄膜分析儀、三維形貌儀、三維粗糙度儀、表面輪廓儀、表面臺(tái)階儀、薄膜分析儀、表面形貌儀、表面粗糙度儀、非接觸式輪廓儀、非接觸式臺(tái)階儀、非接觸式表面形貌儀、非接觸式表面粗糙度儀、接觸式輪廓儀、接觸式臺(tái)階儀、接觸式表面形貌儀、接觸式表面粗糙度儀、探針式輪廓儀、探針式臺(tái)階儀、探針式表面形貌儀、探針式表面粗糙度儀、雙模式輪廓儀、雙模式臺(tái)階儀、雙模式表面形貌儀、雙模式表面粗糙度儀、三維表面輪廓儀、三維表面臺(tái)階儀、三維表面形貌儀、三維表面粗糙度儀

品牌： 美國(guó)AEP Technology 型號(hào)： NanoMap-500LS 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：aep Technology中國(guó)辦事處

臺(tái)階儀NanoMap-500LS接觸式三維表面臺(tái)階儀NanoMap-500LSNanoMap 500LS探針三維臺(tái)階儀特點(diǎn) 常規(guī)的探針臺(tái)階儀和掃描探針顯微鏡技術(shù)的完美結(jié)合 雙模式操作（針尖掃描和樣品臺(tái)掃描），即使在長(zhǎng)程測(cè)量時(shí)也可以得到最優(yōu)化的小區(qū)域三維測(cè)圖 針尖掃描采用精確的壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)掃描模式，三維掃描范圍從10μm X 10μm 到500μm X 500μm。樣品臺(tái)掃描使用高級(jí)別光學(xué)參考平臺(tái)能使長(zhǎng)程掃描范圍到50mm。 接觸式探針臺(tái)階儀在掃描過程中結(jié)合彩色光學(xué)照相機(jī)可對(duì)樣品直接觀察 針尖掃描采用雙光學(xué)傳感器，同時(shí)擁有寬闊測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍（最大至500μm）及亞納米級(jí)垂直分辨率 （最?。?１nm ） 軟件設(shè)置恒定微力接觸 簡(jiǎn)單的2步關(guān)鍵操作，友好的軟件操作界面應(yīng)用三維表面形貌/臺(tái)階儀主要應(yīng)用在金屬材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度，臺(tái)階高度，二維粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），三維粗糙度（Sa,Sq,Smax），劃痕截面面積，劃痕體積，磨損面積，磨損體積，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測(cè)量。擺脫了以往只能得到二維信息，或三維信息過于粗糙的現(xiàn)狀。將臺(tái)階儀帶入了另一個(gè)高精度測(cè)量的新時(shí)代。三維表面輪廓測(cè)量和粗糙度測(cè)量，即適用于精密拋光的光學(xué)表面也可適用于質(zhì)地粗糙的機(jī)加工零件。薄膜和厚膜的臺(tái)階高度測(cè)量劃痕形貌，磨損深度、寬度和體積定量測(cè)量空間分析和表面紋理表征平面度和曲率測(cè)量二維薄膜應(yīng)力測(cè)量微電子表面分析和MEMS表征表面質(zhì)量和缺陷檢測(cè)環(huán)境要求濕度：10-80%， 相對(duì)濕度，無冷凝溫度：65-85 華氏度（△T＜1度/小時(shí)）電源要求：110/240V，50/60 Hz技術(shù)規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)樣品 臺(tái)階高度標(biāo)準(zhǔn)樣品（NIST認(rèn)證） 100μm系統(tǒng) 光學(xué)照相機(jī)視場(chǎng)范圍 1.5 X 1.5mm光學(xué)照明 軟件控制暗場(chǎng)和亮場(chǎng)電腦 Pentium IV, USB2.0聯(lián)接操作系統(tǒng) Win XP系統(tǒng)動(dòng)力需求 90-240V，350W空間尺寸 20’’ 寬X 22’’長(zhǎng) X 25’’高重量 160lb聯(lián)系方式：aep Technology電話：+86-010-68187909傳真：+86-010-68187909手機(jī)：+86-15611184708何先生公司網(wǎng)址：www.aeptechnolongy.com.cn

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臺(tái)階儀NanoMap-D是一款兼?zhèn)淞税坠飧缮娣墙佑|式和探針接觸式的臺(tái)階儀。NanoMap-D三維臺(tái)階儀是用于表面結(jié)構(gòu)測(cè)量和表面形貌分析的一款測(cè)量計(jì)量型設(shè)備。既可以用于科學(xué)研究，也可以用于工業(yè)產(chǎn)品的檢測(cè)。該款儀器可以看做是表面研究的萬用表，采用接觸式和非接觸式功能集于一身的設(shè)計(jì)特點(diǎn)，彌補(bǔ)兩種模式的局限，發(fā)揮表面形貌儀的測(cè)量極限。光學(xué)非接觸式有速度快，直接三維成象，不破壞樣品等特點(diǎn)。探針接觸模式方便快捷，制樣簡(jiǎn)單，測(cè)量材料廣泛。兩種模式相結(jié)合可以對(duì)更多形狀、性狀、材質(zhì)的試樣進(jìn)行表面形貌的研究。臺(tái)階儀，主要應(yīng)用在金屬材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度，臺(tái)階高度，二維粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），三維粗糙度（Sa,Sq,Smax），劃痕截面面積，劃痕體積，磨損面積，磨損體積，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測(cè)量。擺脫了以往只能得到二維信息，或三維信息過于粗糙的現(xiàn)狀。將輪廓儀帶入了另一個(gè)高精度測(cè)量的新時(shí)代。測(cè)量表面可以覆蓋90%以上材料表面。設(shè)備傳感器精度高，穩(wěn)定性好，材料應(yīng)用面廣。熱噪聲是同類產(chǎn)品最低的。垂直分辨率可達(dá)0.01 nm ( phase-shift mode) 可測(cè)跨學(xué)科、跨領(lǐng)域的各種樣品表面，包括透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料(金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…)；1、三維表面結(jié)構(gòu)：粗糙度,波紋度，表面結(jié)構(gòu)，缺陷分析，晶粒分析等2、二維圖像分析：距離,半徑,斜坡,格子圖, 輪廓線等3、表界面測(cè)量：透明表面形貌,薄膜厚度，透明薄膜下的表面4、薄膜和厚膜的臺(tái)階高度測(cè)量5、劃痕形貌，摩擦磨損深度、寬度和體積定量測(cè)量6、微電子表面分析和MEMS表征改款臺(tái)階儀 的主要特點(diǎn)：高精度 卓越的縱向分辨率：0.1 nm ( 接觸式)；2 nm（光學(xué)非接觸式） 對(duì)周圍環(huán)境和光源的強(qiáng)適應(yīng)性 沒有機(jī)械過濾寬闊的垂直測(cè)量范圍 多種選擇光學(xué)頭及接觸式 縱向掃描范圍 300 to 3900 μm 圖像“縫合”技術(shù)使再大的表面也能呈現(xiàn)在一幅圖像內(nèi)試用于幾乎所有的表面 透明，不透明，反射光強(qiáng)等多種材料 垂直臺(tái)階，高寬深比，隆起，孔洞 脆性的材料，軟材料，柔性材料表面 尖銳的，堅(jiān)硬的，磨損的表面適應(yīng)性強(qiáng) 白光光源，人體安全設(shè)計(jì)，長(zhǎng)壽命白光LED 免維護(hù)?？梢杂糜诟鞣N環(huán)境的實(shí)驗(yàn)室，甚至工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境。 接觸式輪廓儀和非接觸式輪廓儀技術(shù)的完美結(jié)合 接觸式輪廓儀針尖掃描采用精確的壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)掃描模式，三維掃描范圍從10μm X 10μm 到500μm X 500μm。樣品臺(tái)掃描使用高級(jí)別光學(xué)參考平臺(tái)能使長(zhǎng)程掃描范圍到50mm。 在掃描過程中結(jié)合彩色光學(xué)照相機(jī)可對(duì)樣品直接觀察 針尖掃描采用雙光學(xué)傳感器，同時(shí)擁有寬闊測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍聯(lián)系方式：aep Technology電話：+86-010-68187909傳真：+86-010-68187909手機(jī)：+86-15611184708何先生公司網(wǎng)址：www.aeptechnolongy.com.cn關(guān)鍵詞：輪廓儀、形貌儀、磨損體積測(cè)量?jī)x、臺(tái)階儀、薄膜測(cè)厚儀、三維表面輪廓儀、三維輪廓儀、白光干涉儀、三維臺(tái)階儀、三維薄膜分析儀、三維形貌儀、三維粗糙度儀、表面輪廓儀、表面臺(tái)階儀、薄膜分析儀、表面形貌儀、表面粗糙度儀、非接觸式輪廓儀、非接觸式臺(tái)階儀、非接觸式表面形貌儀、非接觸式表面粗糙度儀、接觸式輪廓儀、接觸式臺(tái)階儀、接觸式表面形貌儀、接觸式表面粗糙度儀、探針式輪廓儀、探針式臺(tái)階儀、探針式表面形貌儀、探針式表面粗糙度儀、雙模式輪廓儀、雙模式臺(tái)階儀、雙模式表面形貌儀、雙模式表面粗糙度儀、三維表面輪廓儀、三維表面臺(tái)階儀、三維表面形貌儀、三維表面粗糙度儀

品牌： 美國(guó)AEP Technology 型號(hào)： NanoMap 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：aep Technology中國(guó)辦事處

臺(tái)階儀NanoMap-500LSNanoMap 500LS臺(tái)階儀特點(diǎn) 該款臺(tái)階儀是常規(guī)的接觸式輪廓儀和掃描探針顯微鏡技術(shù)的完美結(jié)合 雙模式操作（針尖掃描和樣品臺(tái)掃描），即使在長(zhǎng)程測(cè)量時(shí)也可以得到最優(yōu)化的小區(qū)域三維測(cè)圖 針尖掃描采用精確的壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)掃描模式，三維掃描范圍從10μm X 10μm 到500μm X 500μm。樣品臺(tái)掃描使用高級(jí)別光學(xué)參考平臺(tái)能使長(zhǎng)程掃描范圍到50mm。 在掃描過程中結(jié)合彩色光學(xué)照相機(jī)可對(duì)樣品直接觀察 針尖掃描采用雙光學(xué)傳感器，同時(shí)擁有寬闊測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍（最大至500μm）及亞納米級(jí)垂直分辨率 （最?。?１nm ） 軟件設(shè)置恒定微力接觸 簡(jiǎn)單的2步關(guān)鍵操作，友好的軟件操作界面應(yīng)用臺(tái)階儀主要應(yīng)用在金屬材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度，臺(tái)階高度，二維粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），三維粗糙度（Sa,Sq,Smax），劃痕截面面積，劃痕體積，磨損面積，磨損體積，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測(cè)量。擺脫了以往只能得到二維信息，或三維信息過于粗糙的現(xiàn)狀。將輪廓儀帶入了另一個(gè)高精度測(cè)量的新時(shí)代。三維表面輪廓測(cè)量和粗糙度測(cè)量，即適用于精密拋光的光學(xué)表面也可適用于質(zhì)地粗糙的機(jī)加工零件。薄膜和厚膜的臺(tái)階高度測(cè)量劃痕形貌，磨損深度、寬度和體積定量測(cè)量空間分析和表面紋理表征平面度和曲率測(cè)量二維薄膜應(yīng)力測(cè)量微電子表面分析和MEMS表征表面質(zhì)量和缺陷檢測(cè)環(huán)境要求濕度：10-80%， 相對(duì)濕度，無冷凝溫度：65-85 華氏度（△T＜1度/小時(shí)）電源要求：110/240V，50/60 Hz技術(shù)規(guī)格類型 項(xiàng)目 規(guī)格綜述 小范圍XY掃描頭，提供高精確度XY平臺(tái)掃描，提供大尺度測(cè)量帶亮場(chǎng)和暗場(chǎng)的全時(shí)彩色CCD照相機(jī)軟件控制觸針測(cè)量力，范圍 0.1-100mg觸針針尖半徑選件 2μm，5 μm，12.5 μm和25 μm，0.1-0.8μm可選針尖掃描(Piezo掃描器) 臺(tái)階高度重現(xiàn)性 0.6nm垂直分辨率 0.1nm測(cè)量高度精細(xì)范圍 5μm測(cè)量高度粗略范圍 0.5mmXY掃描分辨率 0.1μmXY掃描定位重現(xiàn)性 0.2μm掃描速度 10-50μm/sec掃描范圍 10-500μm每次掃描數(shù)據(jù)點(diǎn) 100-1000數(shù)據(jù)點(diǎn)最多至110000數(shù)據(jù)點(diǎn)樣品臺(tái)掃描 XY樣品區(qū)域 100mm X 100mm, 150mm安裝間隙XY平臺(tái)運(yùn)動(dòng)范圍 100mm X 100mm（150mm X 150mm）XY平臺(tái)定位重現(xiàn)性 5μm，2μm可選最大掃描長(zhǎng)度 50mm掃描速度 0.1-5mm/secZ平臺(tái)范圍 55mm最大樣品高度 50mm手動(dòng)旋轉(zhuǎn)平臺(tái)范圍 360度手動(dòng)傾斜平臺(tái)范圍 ±2度標(biāo)準(zhǔn)樣品 臺(tái)階高度標(biāo)準(zhǔn)樣品（NIST認(rèn)證） 100μm系統(tǒng) 光學(xué)照相機(jī)視場(chǎng)范圍 1.5 X 1.5mm光學(xué)照明 軟件控制暗場(chǎng)和亮場(chǎng)電腦 Pentium IV, USB2.0聯(lián)接操作系統(tǒng) Win XP系統(tǒng)動(dòng)力需求 90-240V，350W空間尺寸 20’’ 寬X 22’’長(zhǎng) X 25’’高重量 160lb聯(lián)系方式：aep Technology電話：+86-010-68187909傳真：+86-010-68187909手機(jī)：+86-15611184708何先生公司網(wǎng)址：www.aeptechnolongy.com.cn關(guān)鍵詞：輪廓儀、形貌儀、磨損體積測(cè)量?jī)x、臺(tái)階儀、薄膜測(cè)厚儀、三維表面輪廓儀、三維輪廓儀、白光干涉儀、三維臺(tái)階儀、三維薄膜分析儀、三維形貌儀、三維粗糙度儀、表面輪廓儀、表面臺(tái)階儀、薄膜分析儀、表面形貌儀、表面粗糙度儀、非接觸式輪廓儀、非接觸式臺(tái)階儀、非接觸式表面形貌儀、非接觸式表面粗糙度儀、接觸式輪廓儀、接觸式臺(tái)階儀、接觸式表面形貌儀、接觸式表面粗糙度儀、探針式輪廓儀、探針式臺(tái)階儀、探針式表面形貌儀、探針式表面粗糙度儀、雙模式輪廓儀、雙模式臺(tái)階儀、雙模式表面形貌儀、雙模式表面粗糙度儀、三維表面輪廓儀、三維表面臺(tái)階儀、三維表面形貌儀、三維表面粗糙度儀

品牌： 美國(guó)AEP Technology 型號(hào)： NanoMap-PS 產(chǎn)地：美國(guó) 供應(yīng)商：aep Technology中國(guó)辦事處

臺(tái)階儀 厚度47nm 標(biāo)準(zhǔn)樣品,三次重復(fù)測(cè)量結(jié)果疊加 (無任何減噪修正，原始數(shù)據(jù)輸出） 500um掃描, 2um探針NanoMap-PS是一款專門為nm級(jí)薄膜測(cè)量研發(fā)的無需防震臺(tái)即可測(cè)量的接觸式臺(tái)階儀 AFM同款位移傳感器，超高精度 壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)掃描，絕對(duì)無內(nèi)源振動(dòng) 自集成主動(dòng)反饋式防震系統(tǒng) 真正無需額外輔助防震系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)高重復(fù)性納米測(cè)量 納米量級(jí)科學(xué)研究的必備產(chǎn)品NanoMap-PS臺(tái)階儀可以應(yīng)用在半導(dǎo)體，光伏/太陽能，光電子，化合物半導(dǎo)體，OLED，生物醫(yī)藥，PCB封裝等領(lǐng)域的薄膜厚度，臺(tái)階高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），劃痕深度，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測(cè)量方面。其高精度，高重復(fù)性，自動(dòng)探索樣品表面，自動(dòng)測(cè)量深受廣大客戶歡迎。測(cè)量表面可以覆蓋多種材料表面：金屬材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等，對(duì)于植物表面，生物材料，聚合物表面，光刻膠等“柔軟表面”也可測(cè)量無須擔(dān)心劃傷或破壞。設(shè)備傳感器精度高，穩(wěn)定性好。熱噪聲是同類產(chǎn)品最低的。垂直分辨率可達(dá)0.1nm 。 可測(cè)表面，包括透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料，金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒等；AEP的技術(shù)日新月異。 欲了解最新的產(chǎn)品性能參數(shù)，請(qǐng)與我們聯(lián)系。主要參數(shù): 垂直分辨率 0.1nm垂直最大量程 1000um探針接觸力 0.03mg-100mg平臺(tái)范圍 直徑150毫米（可選200毫米或更大）高清圖像 4級(jí)放大，彩色CCD成像光源 雙長(zhǎng)壽命強(qiáng)光LED金剛石探針 0.5um 到 25um 可選電話：+86-010-68187909傳真：+86-010-68187909手機(jī)：+86-15611184708何先生公司網(wǎng)址：www.aeptechnolongy.com.cn關(guān)鍵詞：輪廓儀、形貌儀、磨損體積測(cè)量?jī)x、臺(tái)階儀、薄膜測(cè)厚儀、三維表面輪廓儀、三維輪廓儀、白光干涉儀、三維臺(tái)階儀、三維薄膜分析儀、三維形貌儀、三維粗糙度儀、表面輪廓儀、表面臺(tái)階儀、薄膜分析儀、表面形貌儀、表面粗糙度儀、非接觸式輪廓儀、非接觸式臺(tái)階儀、非接觸式表面形貌儀、非接觸式表面粗糙度儀、接觸式輪廓儀、接觸式臺(tái)階儀、接觸式表面形貌儀、接觸式表面粗糙度儀、探針式輪廓儀、探針式臺(tái)階儀、探針式表面形貌儀、探針式表面粗糙度儀、雙模式輪廓儀、雙模式臺(tái)階儀、雙模式表面形貌儀、雙模式表面粗糙度儀、三維表面輪廓儀、三維表面臺(tái)階儀、三維表面形貌儀、三維表面粗糙度儀維表面形貌儀、三維表面粗糙度儀 stulye profiler，臺(tái)階儀，臺(tái)階儀，臺(tái)階儀，臺(tái)階儀，臺(tái)階儀，臺(tái)階儀，臺(tái)階儀，臺(tái)階儀，臺(tái)階儀，bruker，Daktek，Veeco，Dektak XT，Ambios， KLA-Tencor，D-100，D-120，ST-100，ST-200，ST-300，XP-1/XP-2；XP-100(D100)/XP-200(D120)/XP-300；α-step IQ(100,200,250,500)；α-step P6；α-step P16+(P1,P2,P10,P11,P11,P15)；α-step P16+0F； KLA-Tencor公司光學(xué)輪廓儀(白光干涉儀/ 移相干涉儀)；MicroXam 100；MicroXam 1200

品牌： 德國(guó)BMT 型號(hào)： LMT 產(chǎn)地：德國(guó) 供應(yīng)商：佰匯興業(yè)（北京）科技有限公司

德國(guó)BMT LMT密封軸導(dǎo)程測(cè)量系統(tǒng) 導(dǎo)程結(jié)構(gòu)是密封軸在加工過程中進(jìn)給方向上產(chǎn)生的微小的類似螺紋的結(jié)構(gòu)。目前只有奔馳公司對(duì)此參數(shù)進(jìn)行檢測(cè)。 導(dǎo)程測(cè)量解決的是軸的密封表面問題。次設(shè)備對(duì)導(dǎo)致漏油的不良導(dǎo)程結(jié)構(gòu)進(jìn)行測(cè)量和檢查。 符合Mercedes-Bens MBN 31007-7標(biāo)準(zhǔn)。應(yīng)用案例● 圓柱型桿軸密封區(qū)的檢測(cè)● 密封性能的檢查檢測(cè)● 密封軸結(jié)構(gòu)的檢測(cè)和評(píng)估產(chǎn)品特點(diǎn)● 專為檢測(cè)車間地面而設(shè)計(jì)● 可以檢測(cè)到最小的鉛結(jié)構(gòu)● 縱向的工件夾具，更加節(jié)約空間● 工件自動(dòng)旋轉(zhuǎn)● 電動(dòng)化的測(cè)量頭● 自動(dòng)對(duì)測(cè)得的數(shù)值進(jìn)行評(píng)估● 可以精確計(jì)算所有與密封軸的相關(guān)參數(shù)● 擺動(dòng)自動(dòng)補(bǔ)償裝置技術(shù)參數(shù)測(cè)量頭● 測(cè)量范圍[μm]：±250● 分辨率[nm]：10● 針尖半徑[μm]：2旋轉(zhuǎn)臺(tái)● 旋轉(zhuǎn)角[°]：360● 最小分辨率[°]：0.01自動(dòng)觸針驅(qū)動(dòng)單元● X 軸向[mm]：20● Z 軸向[mm]：4

品牌： 德國(guó)BMT 型號(hào)： CMM 產(chǎn)地：德國(guó) 供應(yīng)商：佰匯興業(yè)（北京）科技有限公司

德國(guó)BMT CMM 粗糙度測(cè)量系統(tǒng)用于CMM探針的小型的粗糙度測(cè)量?jī)x，可大幅度地降低測(cè)量成本。 技術(shù)參數(shù)ISO 3274參考標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)精確度等級(jí)1測(cè)量原理針頭、測(cè)量頭參考標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)來源平板玻璃精確度1 %測(cè)量誤差0.5 %可測(cè)量長(zhǎng)度12.5 mm針尖角度90°參數(shù)ISO, DIN 13565形貌、彎曲度、粗糙度ISO, DIN 15565核心粗糙度JIS B-0601粗糙度Daimler N 31007R3z過濾器Gauss, M50, M75, VDA2008數(shù)據(jù)導(dǎo)出USB, QDAS充電在膠卷盒中測(cè)量頭尺寸49 mm x 24 mm x 34mm

品牌： 日本三豐 型號(hào)： SJ-401 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：東莞市廣豐計(jì)量?jī)x器有限公司

於鼻撬之，於表面螺、微段差曲面形的量都不倒它。 若搭DAT能，可化水平作使之更加容易。 使用高精度部+高分解能出器，可超高精度之量。 有富的，且可各的粗度格。 用控式大型液晶幕，高操作性。
品牌： 日本三豐 型號(hào)： SJ-310 178-570-01DC 產(chǎn)地：日本 供應(yīng)商：東莞市廣豐計(jì)量?jī)x器有限公司

日本三豐表面粗糙度儀SJ-310各的粗度格表示。大型LCD幕窗，易於清晰取。使用控式面板(具抗污性)，操作易。任意度定能。按PRINT即可藉由藏式印表列印出量之果(可不同之列印方式)。藏充池，本方便也可收置出器。有富的：自校正能、理、合否判定能、客自行能判定能。型號(hào)SJ-310貨號(hào)平移范圍12.5MM測(cè)量范圍300um(±150um)驅(qū)動(dòng)／檢測(cè)元件探測(cè)儀:178-390/178-395*測(cè)頭:金剛石(測(cè)頭半徑:5um/2um*)測(cè)量力:4mN/0.75mN*探測(cè)方式:微感應(yīng)評(píng)定輪廓P,R,DIN4776 profile,Motif估計(jì)參數(shù)Ra,Ry,Rz,Rt,Rp,Rq,Rv,Sm,S,Pc,R3z,mr,δc,Rpk,Rvk,Rk,Mr1,Mr2,Lo,R,AR,Rx, A1,A2取樣長(zhǎng)度0.25,0.8,2.5,8mm顯示LCD觸摸式面板打印機(jī)熱敏型放大倍數(shù)自動(dòng)數(shù)據(jù)輸出自動(dòng)電源通過適配器／電池可充電

品牌： 德國(guó)布魯克 型號(hào)： DektakXT 產(chǎn)地：德國(guó) 供應(yīng)商：廣州領(lǐng)拓貿(mào)易有限公司

布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì)，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率，測(cè)量重復(fù)性可以達(dá)到5?。臺(tái)階儀這項(xiàng)性能的提高達(dá)到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的頂峰，更加鞏固了其行業(yè)領(lǐng)先地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測(cè)量，通過在研究工作中的廣泛使用，DektakXT一定能夠做到功能更強(qiáng)大，操作更簡(jiǎn)易，檢測(cè)過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺(tái)階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測(cè)量成為可能，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。

儀器網(wǎng)臺(tái)階儀產(chǎn)品導(dǎo)購(gòu)專場(chǎng)為您提供臺(tái)階儀功能原理、規(guī)格型號(hào)、性能參數(shù)、產(chǎn)品價(jià)格、詳細(xì)產(chǎn)品圖片以及廠商聯(lián)系方式等實(shí)用信息，您可以通過設(shè)置不同查詢條件，選擇滿足您實(shí)際需求的臺(tái)階儀產(chǎn)品，同時(shí)臺(tái)階儀產(chǎn)品導(dǎo)購(gòu)專場(chǎng)還為您提供精品優(yōu)選臺(tái)階儀產(chǎn)品和臺(tái)階儀相關(guān)技術(shù)資料、解決方案、招標(biāo)采購(gòu)等綜合信息。