輪廓儀是對物體的輪廓、二維尺寸、二維位移進(jìn)行測試與檢驗(yàn)的儀器。輪廓儀主要優(yōu)點(diǎn)是可以直接測量某些難以測量到的零件表面，如孔、槽等的表面粗糙度，又能直接按某種評定標(biāo)準(zhǔn)讀數(shù)或是描繪出表面輪廓曲線的形狀，且測量速度快、結(jié)果可靠、操作方便。輪廓儀廣泛應(yīng)用于機(jī)械加工、電機(jī)、汽配、摩配、精密五金、精密工具、刀具、模具、光學(xué)元件等行業(yè)。 精品推薦
品牌： 美國Filmetrics 型號： Profilm 3D 產(chǎn)地：美國 供應(yīng)商：優(yōu)尼康科技有限公司

Profilm3D僅用10倍物鏡就提供了達(dá)到2mm的超大視場范圍，同時(shí)其最大4倍光學(xué)變焦的功能緩解了不同應(yīng)用時(shí)切換多個(gè)物鏡的需求。這些都進(jìn)一步降低了采購成本。

品牌： 西班牙Sensofar 型號： S neox 產(chǎn)地：西班牙 供應(yīng)商：北京東方德菲儀器有限公司

3D光學(xué)輪廓儀S neox 將共聚焦、干涉和多焦面疊加3種測量技術(shù)融合于一體，測量頭內(nèi)無運(yùn)動部件。3D光學(xué)輪廓儀S neox 為客戶展現(xiàn)全新的3D立體形貌。

品牌： 上海孚光精儀 型號： profiler 產(chǎn)地：德國 供應(yīng)商：孚光精儀（香港）有限公司

這款三維臺階儀是德國進(jìn)口的高精度多功能表面輪廓測量儀器，也是一款光學(xué)表面臺階儀,非常適合對表面幾何形狀和表面紋理分析，以標(biāo)準(zhǔn)方案或定制性方案對二維形貌或三維形貌表面形貌和表面紋理，微米和納米形狀，圓盤，圓度，球度，臺階高度，距離，面積，角度和體積進(jìn)行多范圍測量。三維臺階儀根據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算2D和3D參數(shù)，使用最新的ISO 25178 標(biāo)準(zhǔn)表面紋理分析，依靠最新的 ISO 16610 濾除技術(shù)進(jìn)行計(jì)算，從而保證了國際公信力。三維表面臺階儀儀創(chuàng)造性地采用接觸式和非接觸式測量合并技術(shù)，一套表面形貌儀可同時(shí)具有接觸式和非接觸式測量的選擇。三維臺階儀參數(shù)：定位臺行程范圍：X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (電動)接觸式測量范圍： 范圍0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范圍：2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s非接觸式測量范圍： 范圍：300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范圍：480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范圍：1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范圍：3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s表面臺階儀應(yīng)用：測量輪廓，臺階高度，表面形貌，距離，面積，體積 分析形態(tài)，粗糙度，波紋度，平整度，顆粒度 摩擦學(xué)研究，光譜分析三維臺階儀廣泛用于：磨料磨具，航天，汽車，化妝品，能源，醫(yī)療，微機(jī)電系統(tǒng)，冶金，造紙和塑料等領(lǐng)域。

品牌： 上海孚光精儀 型號： 3D profiler 產(chǎn)地：德國 供應(yīng)商：孚光精儀（香港）有限公司

這款三維表面形貌儀是德國進(jìn)口的高精度多功能表面輪廓測量儀器，也是一款光學(xué)表面形貌儀,非常適合對表面幾何形狀和表面紋理分析，以標(biāo)準(zhǔn)方案或定制性方案對二維形貌或三維形貌表面形貌和表面紋理，微米和納米形狀，圓盤，圓度，球度，臺階高度，距離，面積，角度和體積進(jìn)行多范圍測量。三維表面形貌儀根據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算2D和3D參數(shù)，使用最新的ISO 25178 標(biāo)準(zhǔn)表面紋理分析，依靠最新的 ISO 16610 濾除技術(shù)進(jìn)行計(jì)算，從而保證了國際公信力。三維表面形貌儀創(chuàng)造性地采用接觸式和非接觸式測量合并技術(shù)，一套表面形貌儀可同時(shí)具有接觸式和非接觸式測量的選擇。三維形貌儀參數(shù)：定位臺行程范圍：X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (電動)接觸式測量范圍： 范圍0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范圍：2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s非接觸式測量范圍： 范圍：300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范圍：480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范圍：1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范圍：3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s表面形貌儀應(yīng)用：測量輪廓，臺階高度，表面形貌，距離，面積，體積 分析形態(tài)，粗糙度，波紋度，平整度，顆粒度 摩擦學(xué)研究，光譜分析三維形貌儀廣泛用于：磨料磨具，航天，汽車，化妝品，能源，醫(yī)療，微機(jī)電系統(tǒng)，冶金，造紙和塑料等領(lǐng)域。

品牌： 上海孚光精儀 型號： Profilometers 產(chǎn)地：德國 供應(yīng)商：孚光精儀（香港）有限公司

這款三維表面輪廓儀是德國進(jìn)口的高精度多功能表面輪廓測量儀器，也是一款光學(xué)輪廓儀,非常適合對表面幾何形狀和表面紋理分析，以標(biāo)準(zhǔn)方案或定制性方案對2D輪廓或三維輪廓表面形貌和表面紋理，微米和納米形狀，圓盤，圓度，球度，臺階高度，距離，面積，角度和體積進(jìn)行多范圍測量。三維表面輪廓儀根據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算2D和3D參數(shù)，使用最新的ISO 25178 標(biāo)準(zhǔn)表面紋理分析，依靠最新的 ISO 16610 濾除技術(shù)進(jìn)行計(jì)算，從而保證了國際公信力。三維表面輪廓儀創(chuàng)造性地采用接觸式和非接觸式測量合并技術(shù)，一套表面輪廓儀可同時(shí)具有接觸式和非接觸式測量的選擇。三維輪廓儀參數(shù)：定位臺行程范圍：X: 200 mm Y: 200 mm Z: 200 mm (電動)接觸式測量范圍： 范圍0.1mm, 分辨率2nm, 速度 3mm/s 范圍：2.5mm 分辨率40nm, 速度3mm/s非接觸式測量范圍： 范圍：300um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范圍：480um, 分辨率2nm, 速度30mm/s 范圍：1mm, 分辨率5nm, 速度30mm/s 范圍：3.9mm , 分辨率15nm, 速度30mm/s表面輪廓儀應(yīng)用：測量輪廓，臺階高度，表面形貌，距離，面積，體積 分析形態(tài)，粗糙度，波紋度，平整度，顆粒度 摩擦學(xué)研究，光譜分析三維輪廓儀廣泛用于：磨料磨具，航天，汽車，化妝品，能源，醫(yī)療，微機(jī)電系統(tǒng)，冶金，造紙和塑料等領(lǐng)域。

品牌： 上海孚光精儀 型號： SRMFP 產(chǎn)地：德國 供應(yīng)商：孚光精儀（香港）有限公司

這款表面粗糙度測量儀非常適合冷軋鋼的表面粗糙度測量。表面粗糙度測量儀具有如下特點(diǎn)：對鋼卷長度方向的表面粗糙度進(jìn)行可視化和記錄；在線記錄這款表面粗糙度測量儀每秒鐘可處理10幅激光圖片和表面顯微結(jié)構(gòu)。給出Ra，Rz和RPc等指標(biāo)。

品牌： 德國GBS 型號： SmartWLI - Microscope 產(chǎn)地：德國 供應(yīng)商：WinWinTec UG

SmartWLI傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡升級技術(shù) 亞納米級分辨率白光干涉技術(shù)與三維表面形貌測量傳統(tǒng)二維光學(xué)顯微鏡可以升級為三維表面形貌測量裝置，極大提升應(yīng)用效能。圖1.干涉物鏡通過接合器安裝于傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡，升級后的顯微鏡具備高分辨三維表面形貌測量功能顯微鏡的重要性不只在于研究與記錄，更在于產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)測與樣品表面分析。光學(xué)顯微鏡已經(jīng)成為許多實(shí)驗(yàn)室的標(biāo)配設(shè)備。對于大多數(shù)樣品來說，傳統(tǒng)二維顯微鏡不足以獲得其表面所有形貌細(xì)節(jié)。因此，三維表面形貌測量技術(shù)正逐漸成為一種重要的表征手段。 圖2. 金屬表面二維、三維測量結(jié)果比較 其典型應(yīng)用領(lǐng)域包括不同表面粗糙度試樣的三維表面形貌觀察（如晶片結(jié)構(gòu)，鏡面，玻璃，金屬），臺階高度測定和曲面精確測量（如微型透鏡）。當(dāng)前，許多研究機(jī)構(gòu)都有三維表面形貌測量設(shè)備的采購需求。但事實(shí)上，只要滿足下列條件，世界上多數(shù)知名品牌的傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡都可以升級為高精度三維表面形貌測量設(shè)備：* 無限遠(yuǎn)、中間像光學(xué)系統(tǒng)；* 反射明場照明系統(tǒng)；* CCD攝像頭接口；* 可更換物鏡的鏡筒位于德國Ilmenau的GBS公司已經(jīng)成功利用其SmartWLI顯微鏡升級技術(shù)為蔡司、尼康、萊卡、奧林巴斯等眾多品牌的傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡完成升級工作。其基本原理為白光干涉一種成熟的三維表面形貌測量方法，測量精度可以達(dá)到亞納米量級。同傳統(tǒng)的單色光干涉技術(shù)大為不同，SmartWLI白光干涉技術(shù)采用相干長度達(dá)到2um的寬頻帶光。實(shí)際測量必須深入相干區(qū)域掃描，每隔70-80nm取樣。而單色光干涉技術(shù)多用激光，相干長度達(dá)到數(shù)千米，不能用來觀察納米級的區(qū)域。當(dāng)光程差接近相干長度時(shí)，干涉差變得更小。通過參考面，以設(shè)定好的步頻移動被測物體，每移動一個(gè)步頻，記錄一個(gè)干涉圖樣，這樣大量干涉圖樣就以像素為單位記錄下來。若數(shù)據(jù)的采集與處理同時(shí)進(jìn)行即可在數(shù)秒之內(nèi)得到測量表面區(qū)域的高度信息（形貌特征）。GBS公司研發(fā)的Smart WLI軟件可以對測量數(shù)據(jù)進(jìn)行高速運(yùn)算。三維數(shù)據(jù)的計(jì)算任務(wù)轉(zhuǎn)交圖形處理器（GPU）完成，一百萬測量點(diǎn)的數(shù)據(jù)處理時(shí)間可從30秒降到1秒以內(nèi)。SmartWLI顯微鏡升級技術(shù)特征德國GBS公司的SmartWLI 顯微鏡升級技術(shù)可以將傳統(tǒng)二維顯微鏡升級為先進(jìn)的三維表面形貌測量設(shè)備。該技術(shù)涉及硬件組件包括：* 一套基于壓電效應(yīng)、由電腦控制的定位系統(tǒng)（定位精度在納米量級）；* 一款高質(zhì)量的干涉透鏡；* 一款高靈敏度CCD攝像頭,帶有GigE接口；選件：電動XY軸平臺、高性能電腦與拼接技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)大表面三維形貌測量。PC配置要求：因特爾i5處理器，微軟Windows操作系統(tǒng)，4G內(nèi)存，具備高速計(jì)算能力 的英偉達(dá)圖形處理器（NVIDA GPU）,TFT液晶顯示屏，鍵盤與鼠標(biāo)。GBS SmartWLI顯微鏡升級技術(shù)選用的壓電調(diào)節(jié)器由德國Piezo System Jena公司開發(fā)研制。該款MIPOS透鏡調(diào)節(jié)器縱向方向（Z軸方向）掃描范圍可達(dá)500 um，可選擇相干透鏡（物鏡）的放大倍數(shù)在2.5倍到100倍之間。GBS公司開發(fā)的SmartWLI軟件具備操作直觀、數(shù)據(jù)分析快速、納米級精度顯示等優(yōu)點(diǎn)，可以對采集到的三維測量數(shù)據(jù)進(jìn)行基礎(chǔ)運(yùn)算。經(jīng)SmartWLI軟件處理后的三維測量結(jié)果，可再交由圖形分析軟件MountainsMap做進(jìn)一步處理，最終可得到二維、三維表面形貌圖像、粗糙度、臺階高度、微粒分析與報(bào)告等。 基于圖形處理器GPU的高速運(yùn)算功能，三維測量數(shù)據(jù)運(yùn)算可以與形貌掃描同步進(jìn)行。在不過度占用電腦中央處理器（CPU）與內(nèi)存空間的前提下，實(shí)現(xiàn)大范圍的三維形貌測量。顯微鏡升級后的主要測量參數(shù)：縱向測量范圍: 最大可達(dá)400 um橫向測量范圍： 649 um×483 um (10倍物鏡)；324 um×241 um (20倍物鏡) 129 um×96 um (50倍物鏡) (注意：上述數(shù)據(jù)皆為估算值，實(shí)際橫向測量范圍需參考用戶現(xiàn)有顯微鏡參數(shù))縱向(Z軸)分辨率: ＜1 nm橫向分辨率: 1.66 um(10倍物鏡)；0.96 um(20倍物鏡)；700 nm(50倍物鏡) 掃描速度： 3.6 - 16 um/s 計(jì)算時(shí)間: 一百萬測量點(diǎn)數(shù)據(jù)/一秒內(nèi)SmartWLI顯微鏡升級技術(shù)的其它優(yōu)勢：* 無需新的設(shè)備技術(shù)，縮短培訓(xùn)周期；* 利用現(xiàn)有測量平臺，節(jié)省實(shí)驗(yàn)室空間；* 保留原有二維測量功能，兼具三維測量能力；* 立足用戶原有組件，大幅節(jié)省升級費(fèi)用； （可利用組件包括：光源、鏡筒、鏡頭旋轉(zhuǎn)器、Z軸調(diào)節(jié)器、XY軸測量平臺）。* 全面的三維表面形貌測量功能自動拼接技術(shù)與鉆石磨削頭的三維表面形貌測量升級后的顯微鏡可以對鉆石磨削頭進(jìn)行納米級分辨率的三維表面形貌測量，可得到表面鉆石的形貌和體積。我們可借助本次測量實(shí)例，深入了解一種SmartWLI 顯微鏡升級技術(shù)獨(dú)具的“自動拼接”功能 - 即將大量二維測量區(qū)域上的“干涉圖樣摞”再次疊加，生成更大檢測區(qū)域的三維圖像。軟件上的“自動拼接”功能結(jié)合硬件上的電動XY軸平臺，就可實(shí)現(xiàn)更大表面的三維形貌測量。 圖3.鉆石磨削頭三維表面形貌測量結(jié)果 （10倍物鏡，3×3陣列拼接） 圖3所示為選用10倍物鏡，以3×3陣列（9倍單位掃描區(qū)域），經(jīng)“自動拼接”得到的三維表面形貌測量結(jié)果。借助“自動拼接”功能，可以在數(shù)分鐘內(nèi)實(shí)現(xiàn)大表面（百倍以上單位測量區(qū)域）的三維形貌測量。結(jié)語：德國GBS公司SmartWLI 顯微鏡升級技術(shù)為傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡提供了一種全新的升級方式。經(jīng)驗(yàn)豐富的GBS工程師可以為您升級現(xiàn)有的顯微鏡，培訓(xùn)操作人員。SmartWLI顯微鏡升級技術(shù)不但不會對用戶現(xiàn)有顯微鏡的固有功能造成損害或限制，還可以兼容其原有軟件。1) 德國GBS公司官網(wǎng)：www.gbs-ilmenau.de2) 德國WinWinTec公司（GBS中國市場渠道商）官網(wǎng)：www.winwintec.com

品牌： 德國GBS 型號： SmartWLI Extended 產(chǎn)地：德國 供應(yīng)商：WinWinTec UG

SmartWLI擴(kuò)展型白光干涉三維輪廓儀非接觸三維表面形貌測量技術(shù)白光干涉測量技術(shù)廣泛應(yīng)用于光滑與粗糙表面的三維形貌表征。垂直方向的測量精度可以達(dá)到納米級別。SmartWLI擴(kuò)展型白光干涉三維輪廓儀擁有納米級測試精度，外接PC或筆記本電腦進(jìn)行實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)分析。SmartWLI擴(kuò)展型白光干涉三維輪廓儀功能全面，輕松應(yīng)對各種測試環(huán)境。電動XY雙軸樣品臺匹配自動拼接程序，應(yīng)對大面積測試任務(wù)。典型應(yīng)用包括科學(xué)研究、質(zhì)量控制和工藝管理。德國GBS公司SmartWLI擴(kuò)展型白光干涉三維輪廓儀具備如下優(yōu)點(diǎn)： 通用型 精度高 測速快 穩(wěn)定可靠 自動拼接SmartWLI- 擴(kuò)展型白光干涉三維輪廓儀技術(shù)參數(shù)：花崗巖基座、腳架電動X Y雙軸樣品臺（尺寸：226 x 232 mm2；移動范圍：76 x 52mm2） 測量端配物鏡轉(zhuǎn)換臺、同時(shí)兼容4款物鏡PC界面、Windows 7系統(tǒng)，NVIDIA 圖形處理器具備超速運(yùn)算功能SmartWLI形貌測量軟件、“自動拼接”功能MountainsMap三維圖像處理軟件 MountainsMAP分析軟件作為一款高品質(zhì)的表面成像與分析軟件，MountainsMAP 適合實(shí)驗(yàn)室、研究機(jī)構(gòu)及工廠各類機(jī)能表面的設(shè)計(jì)、測試或制造設(shè)備使用。MountainsMAP擁有一整套全面的解決方案，專用于表面外觀及形貌的成像與分析，提供詳盡的三維可視化測量報(bào)告。 SmartWLI擴(kuò)展型白光干涉三維輪廓儀技術(shù)參數(shù)測量系統(tǒng)量測原理 白光干涉Z軸定位系統(tǒng)壓電效應(yīng)調(diào)節(jié)系統(tǒng)高度量測范圍最大可達(dá)400 μm攝像頭參數(shù)CCD攝像頭；1624x 1234相素干涉物鏡系統(tǒng)放大倍數(shù)MAG視場范圍FOV (mm)橫向分辨率 (um)2.5 ×, 5 ×, 10 ×, 20 ×, 50 ×, 100 ×4.12 × 3.06 mm2 - 0.103 × 0.076mm210.54 μm - 0.55 μm光源LED測試時(shí)間通常＜20秒軟件系統(tǒng)SmartWLI基于微軟Win7操作系統(tǒng)，64位表面形貌測量軟件；三維數(shù)據(jù)可通過接口直接傳輸至MountainsMap分析軟件。MountainsMap三維數(shù)據(jù)分析軟件，輪廓及三維影像結(jié)果輸出、測量數(shù)據(jù)預(yù)處理及后處理、德標(biāo)（DIN）歐標(biāo)（ EN） ISO標(biāo)準(zhǔn)粗糙度及高度測定、串行處理及測試日志。輸出文件格式ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIF更多SmarWLI系列白光干涉三維輪廓儀產(chǎn)品信息，請?jiān)L問www.WinWinTec.com與 www.smartWLI.de（2012年1月技術(shù)數(shù)據(jù)）SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測量結(jié)果（一）-液態(tài)軸承SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測量結(jié)果（二）-晶片SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測量結(jié)果(三) - 鉆石工具SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測量結(jié)果（四）-透鏡工具SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測量結(jié)果（五）-金屬表面SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測量結(jié)果（六）-汽車車身表面SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測量結(jié)果（七）-粗糙度標(biāo)準(zhǔn)片SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測量結(jié)果（八） - 發(fā)動機(jī)汽缸

品牌： 西班牙Sensofar 型號： S lynx 產(chǎn)地：西班牙 供應(yīng)商：北京東方德菲儀器有限公司

非接觸式3D光學(xué)輪廓儀S lynx是一款專為工業(yè)和研究所設(shè)計(jì)的全新非接觸式3D光學(xué)輪廓儀。它設(shè)計(jì)簡潔、用途多樣。S lynx能夠測量不同的材質(zhì)、結(jié)構(gòu)、表面粗糙度和波度，幾乎涵蓋所有類型的表面形貌。它的多功能性能夠滿足廣泛的高端形貌測量應(yīng)用。Sensofar的核心專利是將共聚焦、干涉和多焦面疊加3種測量方式融于一體，確保了其完美的性能。配合SensoSCAN軟件系統(tǒng)，用戶將獲得難以置信的直觀操作體驗(yàn)。

品牌： 西班牙Sensofar 型號： S onix 產(chǎn)地：西班牙 供應(yīng)商：北京東方德菲儀器有限公司

光學(xué)三維在線測量儀S onix的設(shè)計(jì)理念簡潔、穩(wěn)健并易于組裝。S onix有著全面且靈活的測量能力，定位于多用途的工業(yè)在線測量系統(tǒng)。輕便、小尺寸的設(shè)計(jì)讓裝配變得更加簡單，可以任意方向進(jìn)行組裝來滿足不同方向上的測量應(yīng)用需求。

品牌： 西班牙Sensofar 型號： S mart 產(chǎn)地：西班牙 供應(yīng)商：北京東方德菲儀器有限公司

光學(xué)3D在線測量儀S mart是世界上首款將Focus varition（多焦面疊加）、Confocal（共聚焦）、VSI（白光干涉）三種成像技術(shù)融為一體 高性能在線光學(xué)三維形貌測量儀。

品牌： 德國布魯克 型號： ContourGT 產(chǎn)地：德國 供應(yīng)商：北京億誠恒達(dá)科技有限公司

ContourGT 非接觸3D光學(xué)輪廓儀 ContourGT表面計(jì)量系列產(chǎn)品用于生產(chǎn)和研發(fā)的非接觸式三維光學(xué)輪廓儀業(yè)界最高垂直分辨率極高的可靠性和最好的測量重復(fù)性最高的表面測量和分析速度最強(qiáng)的使用性，操作簡便，分析功能強(qiáng)大30年技術(shù)革新，實(shí)現(xiàn)非接觸式表面測量技術(shù)高峰ContourGT系列結(jié)合先進(jìn)的64位多核操作和分析處理軟件，專利技術(shù)白光干涉儀（WLI）硬件和前所未有的操作簡易性，推出歷年來來最先進(jìn)的3D光學(xué)表面輪廓儀系統(tǒng)。第十代光學(xué)表面輪廓儀擁有超大視野內(nèi)埃級至毫米級的垂直計(jì)量范圍，樣品安裝靈活，且具有業(yè)界最高的測量重復(fù)性。ContourGT系列是當(dāng)今生產(chǎn)研究和質(zhì)量控制應(yīng)用中，最廣泛使用和最直觀的3D表面計(jì)量平臺。業(yè)界最高的垂直分辨率，最強(qiáng)大的測量性能0.5倍至200倍的放大倍率，在極寬的測量范圍內(nèi)，對樣品表面形狀和紋理進(jìn)行表征。任何倍率下亞埃級至毫米級垂直測量量程提供了無以倫比的測量靈活性。高分辨率攝像頭可選配件，提高了橫向分辨率和GR R測量的重復(fù)性。多核處理器下運(yùn)行的Vision64? 軟件，大大提高三維表面測量和分析速度新的軟件設(shè)計(jì)使數(shù)據(jù)處理速度提高幾十倍。多核處理器和64位軟件使數(shù)據(jù)分析速度提高十倍。無以倫比的無縫拼接能力，可以把成千上萬個(gè)數(shù)據(jù)拼接成一張連續(xù)的完美圖像 測量硬件的獨(dú)特設(shè)計(jì)增強(qiáng)生產(chǎn)環(huán)境中的可靠性和重復(fù)性高亮度的雙LED照明專利技術(shù)提高測量質(zhì)量。最佳化的硬件設(shè)計(jì)提高了儀器對震動的容忍度和GR R測量的能力。專利的自動校準(zhǔn)能力確保了儀器與儀器之間的相關(guān)性，測量準(zhǔn)確度和重復(fù)性。高度直觀的用戶界面，擁有業(yè)界最強(qiáng)的操作簡便和分析功能強(qiáng)大優(yōu)化的用戶界面大大簡化測量和數(shù)據(jù)分析過程，從而提高儀器和操作者效率獨(dú)特的可視化操作工具為用戶提供易于學(xué)習(xí)和使用的數(shù)據(jù)分析選項(xiàng)用戶可自行設(shè)置數(shù)據(jù)輸出的界面 三十年技術(shù)創(chuàng)新，迎來第十代全新產(chǎn)品我們的干涉儀是世界上第一個(gè)包含了著名的垂直掃描干涉技術(shù)（VSI模式），掃描頭傾斜調(diào)整，專利的自動校準(zhǔn)和雙LED照明等革新技術(shù)。ContourGT系列既結(jié)合了這些已被證實(shí)的設(shè)計(jì)功能，又在硬件上進(jìn)行了大量的改進(jìn)，從而給用戶提供了目前世界上最精確的、重復(fù)性最好的光學(xué)輪廓儀性能。 Bruker的光學(xué)輪廓儀具有已被證實(shí)的，將近三十年的優(yōu)越性能運(yùn)行跟蹤記錄，從研究型實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)型工廠的上萬臺安裝記錄。 ContourGT-X光學(xué)輪廓儀配備有一體式的氣動平臺和雙層金屬鑄件，此兩種設(shè)計(jì)都是為了隔離震動以避免干擾測量效果，從而獲得快速、精確的、可通過GRR測試的測量結(jié)果。OMM結(jié)合了Bruker專利的雙LED照明光源技術(shù)，在任何樣品任意放大倍數(shù)下均可提供卓越的照明強(qiáng)度和均勻性。OMM還能在整個(gè)10mm測量量程內(nèi)提供無以倫比的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。馬達(dá)驅(qū)動的多放大倍率檢測器可包含最大三個(gè)視場目鏡，以最大化放大倍率的靈活性和穩(wěn)定性。ContourGT系列可選擇型號中，具有包含Bruker專利技術(shù)的內(nèi)置一級標(biāo)準(zhǔn)自校準(zhǔn)功能的能力，使得閉環(huán)掃描的性能最大化。此模塊包含一個(gè)參考信號，在儀器啟動時(shí)對系統(tǒng)進(jìn)行自校準(zhǔn)，然后連續(xù)監(jiān)控并校正每次測量，以保證絕對的精確度和卓越的重復(fù)性。Bruker的傾斜調(diào)整支架設(shè)計(jì)可使得OMM傾斜，而不是樣品傾斜。這樣，被測量的樣品將總處于聚焦位置，并且在測量的視野中，確保了操作的一致性和簡易性。*這些選項(xiàng)僅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型號上具有。在ContourGT-X型號中具有全自動的8英寸或12英寸樣品臺。兩種樣品臺均配備有0.5um重復(fù)性的編碼器。ContourGT-K1型具有可選的6英寸馬達(dá)驅(qū)動樣品臺。還可選配具有Z方向聚焦旋鈕的XY操縱桿。選配的馬達(dá)驅(qū)動塔臺可安裝最多4個(gè)干涉物鏡，從1倍至100倍。塔臺設(shè)計(jì)確保了當(dāng)您切換物鏡時(shí)，您的測試點(diǎn)始終處于聚焦和中心位置。在防震臺的后面配備有一個(gè)LED光源以幫助樣品聚焦和確保操作可觀度。輔助操作燈泡*塔臺自動樣品臺傾斜調(diào)整支架*自校準(zhǔn)功能*光學(xué)計(jì)量模塊(OMM)卓越的震動隔離性能*

品牌： 德國布魯克 型號： DektakXT 產(chǎn)地：美國 供應(yīng)商：北京億誠恒達(dá)科技有限公司

DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì)，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率，測量重復(fù)性可以達(dá)到5?。臺階儀這項(xiàng)性能的提高達(dá)到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的頂峰，更加鞏固了其行業(yè)領(lǐng)先地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量，通過在研究工作中的廣泛使用，DektakXT一定能夠做到功能更強(qiáng)大，操作更簡易，檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。DektakXT 完美設(shè)計(jì)探針系統(tǒng)的評價(jià)體系受三個(gè)因素影響：能否重復(fù)測量，數(shù)據(jù)采集和分析速度快慢，操作的難易程度。這些因素直接影響了數(shù)據(jù)的質(zhì)量和操作效率。DektakXT利用全新結(jié)構(gòu)和和最佳軟件來實(shí)現(xiàn)可重復(fù)、時(shí)間短、易操作這三個(gè)必要因素，達(dá)到最佳的儀器使用效果。強(qiáng)化操作的可重復(fù)性 Delivering Repeatable MeasurementsDektakXT在設(shè)計(jì)上的幾個(gè)提高，使其在測量臺階高度重復(fù)性方面具有優(yōu)異的表現(xiàn)，臺階高度重復(fù)性可以到達(dá)5?.使用single-arch結(jié)構(gòu)比原先的懸臂梁設(shè)計(jì)更堅(jiān)硬持久不易彎曲損壞，而且降低了周圍環(huán)境中聲音和震動噪音對測量信號的影響。同時(shí)，Bruker還對儀器的智能化電子器件進(jìn)行完善，提高其穩(wěn)定性，降低溫度變化對它的影響，并采用先進(jìn)的數(shù)據(jù)處理器。在控制器電路中使用這些靈敏的電子元器件,會把可能引起誤差的噪音降到最低，DektakXT的系統(tǒng)因此可以更穩(wěn)定可靠的實(shí)現(xiàn)對高度小于10nm的臺階的掃描。Single-arch結(jié)構(gòu)和智能器件的聯(lián)用，大大降低了掃描臺的噪音，增強(qiáng)了穩(wěn)定性，使其成為一個(gè)極具競爭力的臺階儀（表面輪廓儀）。提高數(shù)據(jù)采集和分析速度 SpeedingUp Collectionand Analysis利用獨(dú)特的直接掃描平臺，DektakXT通過減少從得到原始數(shù)據(jù)到扣除背底噪音所需要的時(shí)間，來提高掃描效率。這一改進(jìn)，大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對于表面應(yīng)力長程掃描的掃描速度。在保證質(zhì)量和重復(fù)性的前提下，可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高40%。另外，DektakXT采用Bruker 64-Bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作系統(tǒng)Vision64，它可以提高大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度，并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描時(shí)的數(shù)據(jù)分析處理效率。Vision64還具有最有效直觀的用戶界面，簡化了實(shí)驗(yàn)操作設(shè)置，可以自動完成多掃描模式，使很多枯燥繁復(fù)的實(shí)驗(yàn)操作變得更快速簡潔。完善的操作和分析系統(tǒng) PerfectingOperationand Analysis與DektakXT的創(chuàng)新性設(shè)計(jì)相得益彰的配置是Bruker的Vision64操作分析軟件。Vision64提供了操作上最實(shí)用簡潔的用戶界面，具備智能結(jié)構(gòu)，可視化的使用流程，以及各種參數(shù)的自助設(shè)定以滿足用戶的各種使用要求，快速簡便的實(shí)現(xiàn)各種類型數(shù)據(jù)的采集和分析。DektakXT 技術(shù)參數(shù)—臺階高度重復(fù)性5?—Single-arch設(shè)計(jì)大大提高了掃描穩(wěn)定性—前置敏化器件，降低了噪音對測量的干擾—新的硬件配置使數(shù)據(jù)采集能力提高了40%—64-bit，這一Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件，使數(shù)據(jù)分析速度提高了十倍。功能卓越，操作簡易—直觀的Vision64用戶界面操作流程簡便易行—針尖自動校準(zhǔn)系統(tǒng)讓用戶更換針尖不再是難事臺階儀（表面輪廓儀）領(lǐng)域無可撼動的世界領(lǐng)先地位—布魯克的臺階儀，體積輕巧，功能強(qiáng)大?！獑蝹鞲衅髟O(shè)計(jì)提供了單一平面上低作用力和寬掃描范圍

品牌： 德國GBS 型號： SmartWLI-Prime Double Z-axis 產(chǎn)地：德國 供應(yīng)商：WinWinTec UG

SmartWLI-Prime雙軸三維形貌輪廓儀配備0.1nm高分辨率的小量程Z軸和小于100nm分辨率的大量程Z軸 2015年11月,德國WinWinTec公司再次向市場推出了一款由我公司代理的SmartWLI品牌的三維相貌輪廓儀，該產(chǎn)品將兩種Z軸方向的移動控制模式整合在一起，是兩種模式一體化，可以實(shí)現(xiàn)兩種Z軸移動模式的自由切換，測量范圍從nm水平到mm水平，實(shí)現(xiàn)納米分辨率到亞微米分辨率，可測量不同類型的產(chǎn)品，適用于大輪廓形貌到微小形貌的多種應(yīng)用需求。v產(chǎn)品特點(diǎn) 1．兩種Z軸移動控制模式，壓電陶瓷馬達(dá)控制小量程和步進(jìn)電機(jī)控制大量程,整體測量范圍實(shí)現(xiàn)0.1nm~100mm； 2．小量程Z軸實(shí)現(xiàn)最大400um的測量范圍，測量分辨率在PSI模式下0.1nm； 3．大量程Z軸實(shí)現(xiàn)最大100mm的測量范圍，測量分辨率小于100nm； 4．Z軸方向移動的實(shí)現(xiàn)自動控制，通過相關(guān)軟件和控制手柄可自動對焦，同時(shí)Z軸采用自動拼接技術(shù)，實(shí)現(xiàn)整體全自動測量； 5．標(biāo)配壓電陶瓷馬達(dá)控制的Z軸測量頭，樣品垂直方向測量最大高度：400um，測量分辨率PSI模式：0.1nm，VSI模式：1nm； 6．可選配不同放大倍數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)干涉物鏡（2.5X，5X，10X,20X，50X，100X）；配置控制和快速采集信號采集軟件SmartWLI_VIS。

品牌： 德國GBS 型號： SmartWLI Portable 產(chǎn)地：德國 供應(yīng)商：WinWinTec UG

SmartWLI便攜式白光干涉三維輪廓儀非接觸三維表面形貌測量技術(shù)白光干涉測量技術(shù)廣泛應(yīng)用于光滑與粗糙表面的三維形貌表征。垂直方向的測量精度可以達(dá)到納米級別。SmartWLI - 便攜式白光干涉三維輪廓儀，專用于大尺寸部件表面形貌測量與分析。儀器操作簡單，測量時(shí)放置于樣品表面；獨(dú)有的三腳支架結(jié)構(gòu)，方便曲面部件測量；外接筆記本電腦完成數(shù)據(jù)分析，測量結(jié)果立體直觀呈現(xiàn)。SmartWLI - 便攜式白光干涉三維輪廓儀外形緊湊、結(jié)構(gòu)穩(wěn)固，輕松應(yīng)對多種測量環(huán)境；測速快，精度高，為工業(yè)用戶提供最優(yōu)化的產(chǎn)品表面形貌測量條件，適用于產(chǎn)品工藝控制與質(zhì)量管理。SmartWLI便攜式白光干涉三維輪廓儀具備如下優(yōu)點(diǎn)：靈活便攜精度高測速快穩(wěn)定可靠 SmartWLI便攜式白光干涉三維輪廓儀技術(shù)參數(shù)測量系統(tǒng)量測原理 白光干涉Z軸定位系統(tǒng)壓電效應(yīng)調(diào)節(jié)系統(tǒng)高度量測范圍最大可達(dá)400 μm干涉物鏡系統(tǒng)放大倍數(shù)10×20×視場范圍（μm2）480 × 360320 × 240最小可分辨橫向?qū)挾龋é蘭）1.200.90工作距離（mm）7.44.7注：上述數(shù)據(jù)皆為估算值。垂直分辨率小于1 nm光源系統(tǒng)LED外觀尺寸270 mm（高）× 127 mm （寬） × 165 mm（長）毛重3 Kg 約值，取決于具體配置。操作界面筆記本電腦、Windows 7操作系統(tǒng)、DVD刻錄。量測時(shí)間通常小于1分鐘軟件系統(tǒng)SmartWLI基于微軟Win7操作系統(tǒng)，64位表面形貌測量軟件、三維數(shù)據(jù)可通過接口直接傳輸至MountainsMap分析軟件。MountainsMap三維數(shù)據(jù)分析軟件，輪廓及三維影像結(jié)果輸出、測量數(shù)據(jù)預(yù)處理及后處理、德標(biāo)（DIN）歐標(biāo)（ EN） ISO標(biāo)準(zhǔn)粗糙度及高度測定、串行處理及測試日志。輸出文件格式ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIF

品牌： 德國GBS 型號： SmartWLI Basic 產(chǎn)地：德國 供應(yīng)商：WinWinTec UG

SmartWLI 標(biāo)準(zhǔn)型白光干涉三維輪廓儀--非接觸三維表面形貌測量技術(shù) 白光干涉測量技術(shù)廣泛應(yīng)用于光滑與粗糙表面的三維形貌表征。垂直方向的測量精度可以達(dá)到納米級別。 德國SmartWLI標(biāo)準(zhǔn)型白光干涉三維輪廓儀結(jié)構(gòu)緊湊，精度高，測速快，滿足不同領(lǐng)域用戶的測量需求，廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究、質(zhì)量管理與工藝控制。 德國SmartWLI標(biāo)準(zhǔn)型白光干涉三維輪廓儀具備如下優(yōu)點(diǎn)： 1.結(jié)構(gòu)緊湊 2.精度高 3.測速快 4.穩(wěn)定耐用 5.經(jīng)濟(jì)實(shí)惠MountainsMAP表面分析軟件與三維可視化測量報(bào)告作為一款高品質(zhì)的表面成像與分析軟件，MountainsMAP適合實(shí)驗(yàn)室、研究機(jī)構(gòu)及工廠各類機(jī)能表面的設(shè)計(jì)、測試或制造設(shè)備使用。MountainsMAP擁有一整套全面的解決方案，專用于表面外觀及形貌的成像與分析，提供詳盡的三維可視化測量報(bào)告。SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測量結(jié)果（一） - 液態(tài)軸承SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測量結(jié)果（二） - 晶片SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測量結(jié)果(三) - 鉆石工具SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測量結(jié)果（四） - 透鏡工具SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測量結(jié)果（五） - 金屬表面SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測量結(jié)果（六） - 汽車車身表面SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測量結(jié)果（七） - 粗糙度標(biāo)準(zhǔn)片SmartWLI白光干涉技術(shù)三維表面形貌測量結(jié)果（八） - 發(fā)動機(jī)汽缸

品牌： 德國GBS 型號： SmartWLI PortableLA 產(chǎn)地：德國 供應(yīng)商：WinWinTec UG

SmartWLI 大視場便攜式白光干涉三維輪廓儀非接觸三維表面形貌測量技術(shù)技術(shù)特點(diǎn)：5cm直徑視場（光斑），800μm垂直測量高度，無需拼接即可在短時(shí)間內(nèi)（通常1分鐘）完成大區(qū)域面積的三維形貌(輪廓)的測量任務(wù)！SmartWLI 大視場便攜式白光干涉三維輪廓儀，專用于車身、印刷滾筒、太陽能電池等工業(yè)產(chǎn)品的表面形貌測量與分析。儀器采用白光干涉測量原理，操作簡單， 可輕放于樣品表面執(zhí)行測量任務(wù)。特有的三腳螺紋支架結(jié)構(gòu)，便于測量彎曲表面。系統(tǒng)內(nèi)置三束激光校準(zhǔn)系統(tǒng)，便于迅速鎖定測量區(qū)域。外接筆記本電腦完成數(shù)據(jù)分析，測量結(jié)果立體直觀呈現(xiàn)。SmartWLI 大視場便攜式白光干涉三維輪廓儀方便攜帶、易于運(yùn)輸?，F(xiàn)場安裝與啟動幾分鐘內(nèi)即可完成。適用于工業(yè)產(chǎn)品表面快速、納米級精度測量。SmartWLI 大視場便攜式白光干涉三維輪廓儀具備如下優(yōu)點(diǎn)：靈活便攜操作簡單厘米級視場納米級精度典型應(yīng)用領(lǐng)域包括：質(zhì)量管理工藝控制產(chǎn)品研發(fā) SmartVIS 3D測量軟件 歐元硬幣表面三維形貌測量圖數(shù)據(jù)分析與結(jié)果輸出：樣品表面三維形貌圖解表示幾何分析（長度、角度、面積測量；不規(guī)則區(qū)域、坑洞體積；樣品表面臺階高度與側(cè)面輪廓剖面圖）粗糙度分析（樣品粗糙度與表面波度）材料屬性分析（材料摩擦磨損實(shí)驗(yàn)測定）區(qū)域計(jì)算與輪廓參數(shù)（滿足ISO 25178 : Sa, Sz… 與ISO 4287 : Ra, Rz…標(biāo)準(zhǔn)要求） SmartWLI 大視場便攜式白光干涉三維輪廓儀技術(shù)參數(shù)測量系統(tǒng)量測原理 白光干涉Z軸定位系統(tǒng)壓電效應(yīng)調(diào)節(jié)系統(tǒng)高度量測范圍最大可達(dá)800 μm攝像頭參數(shù)CCD攝像頭；1624x 1234相素校平系統(tǒng)三束激光干涉物鏡系統(tǒng)視場范圍（mm2）35 x 35最小可分辨橫向?qū)挾龋╱m）28工作距離（mm）10垂直分辨率小于10nm光源系統(tǒng)LED外觀尺寸295 mm（高）× 180 mm (寬) × 245 mm（長）支架高度調(diào)節(jié)范圍（三腳螺紋支架）大約5-30 mm毛重約3.5 Kg 操作界面筆記本電腦、Windows 7操作系統(tǒng)量測時(shí)間通常小于1分鐘工作溫度10-35℃推薦工作溫度18-22℃軟件系統(tǒng)SmartWLI基于微軟Win7操作系統(tǒng)，64位表面形貌測量軟件、三維數(shù)據(jù)可通過接口直接傳輸至MountainsMap分析軟件。MountainsMap三維數(shù)據(jù)分析軟件，輪廓及三維影像結(jié)果輸出、測量數(shù)據(jù)預(yù)處理及后處理、德標(biāo)（DIN）歐標(biāo)（ EN） ISO標(biāo)準(zhǔn)粗糙度及高度測定、串行處理及測試日志。輸出文件格式ASCII, SUR, BCR-STM, BMP, JPEG, TIF 車身部件表面三維形貌測試結(jié)果 印刷行業(yè)：激光凹版容積 （油墨消耗）工藝控制產(chǎn)品研 注塑行業(yè)：注塑機(jī)的校準(zhǔn) 硅晶片表面波紋度與粗糙度測試 其它測試結(jié)果欣賞 其它測量結(jié)果欣賞

品牌： 韓國Nano System 型號： NVM-6000P 產(chǎn)地：韓國 供應(yīng)商：安柏來科學(xué)儀器（上海）有限公司

產(chǎn)品描述NVM-6000P是專用型設(shè)備，用于基板表面形貌的測量?；迳系腣ia Hole，Pad形狀，pattem形貌和表面形貌等11個(gè)項(xiàng)目可以進(jìn)行自動測量。在高速測量下仍具有優(yōu)秀的重復(fù)性和準(zhǔn)確性，支持用戶設(shè)定測量條件和測量數(shù)據(jù)自動保存及分析功能。產(chǎn)品規(guī)格掃描范圍：0-180um（270um可選）垂直分辨率：WSI：0.5nm臺階高度重復(fù)性:0.5%(1σ)橫向分辨率：0.2-4um（取決于物鏡和FOV）工作臺面：510x405mm（程控）尺寸：1200(w)X1250(D)X1900(H)應(yīng)用領(lǐng)域Nano View系列為LCD（液晶顯示器）、IC Package（芯片封裝）、Substrate（基板）、Build-up PCB（積層板）、MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)），Engineering Surfaces（工程表面）等等領(lǐng)域提供納米級別精度的量測。

品牌： 韓國Nano System 型號： Nano View-3000 產(chǎn)地：韓國 供應(yīng)商：安柏來科學(xué)儀器（上海）有限公司

產(chǎn)品描述Nano View-3000是高端機(jī)型，包括：非接觸3D形貌測量，更廣的測量范圍（5mm可選），自動聚焦功能（可選），拼接和線路縱斷面等功能。產(chǎn)品規(guī)格干涉物鏡：5物鏡可選(程控）掃描范圍：0-180um（270um，5mm可選）垂直分辨率：WSI：0.5nm，PSI ：0.1nm橫向分辨率：0.2-4um（取決于物鏡和FOV）傾斜度：±6°工作平臺：NV-P2020 200x200mm（程控）NV-P4050400x500mm（程控）應(yīng)用領(lǐng)域Nano View系列為LCD（液晶顯示器）、IC Package（芯片封裝）、Substrate（基板）、Build-up PCB（積層板）、MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)），Engineering Surfaces（工程表面)等等領(lǐng)域提供納米級別精度的量測。

品牌： 韓國Nano System 型號： Nano View-2000 產(chǎn)地：韓國 供應(yīng)商：安柏來科學(xué)儀器（上海）有限公司

產(chǎn)品描述Nano View-2000是經(jīng)濟(jì)型機(jī)型，通過非接觸式的方法對0.1nm-270nm的3維表面形貌進(jìn)行高進(jìn)度和高速測量。利用物鏡轉(zhuǎn)臺可方便的進(jìn)行放大倍數(shù)的轉(zhuǎn)換。使用拼接功能可分析寬廣的表面。產(chǎn)品規(guī)格干涉物鏡：5個(gè)物鏡可選掃描范圍：0-180um（270um，5mm可選）垂直分辨率：WSI：0.5nm，PSI ：0.1nm傾斜臺：±6°Z軸行程：100mm（手動）工作臺面：100x100mm（程控)應(yīng)用領(lǐng)域Nano View系列為LCD（液晶顯示器）、IC Package（芯片封裝）、Substrate（基板）、Build-up PCB（積層板）、MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)），Engineering Surfaces（工程表面）等等領(lǐng)域提供納米級別精度的量測。

品牌： 德國Nanofocus 型號： NanoFocus usurf cylinder 產(chǎn)地：德國 供應(yīng)商：上海巨納科技有限公司

產(chǎn)品采用多孔共聚焦技術(shù)，結(jié)合CCD的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時(shí)間(約幾秒)內(nèi)精確量測物體的三維數(shù)據(jù)。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴(yán)酷的工作環(huán)境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時(shí)，跟其他方法相比，可以更精確量測物體高度，建立3D立體影像，優(yōu)勢相當(dāng)明顯。德國μsurf cylinder機(jī)臺是世界上唯一的一款專為測量桶狀內(nèi)壁設(shè)計(jì)的非接觸式三維表面測量儀，并擁有超高光學(xué)分辨率和最全面廣泛的三維表面形貌分析能力，被世界頂級的汽車廠商所應(yīng)用。產(chǎn)品特點(diǎn)：耐用可靠無損測量光學(xué)分辨率高速度快，數(shù)秒內(nèi)完成測量真實(shí)的3D數(shù)據(jù)產(chǎn)品功能：紋理分析（角度分析）粗糙度計(jì)算符合DIN EN ISO標(biāo)準(zhǔn)計(jì)算三維表面粗糙度參數(shù)磨損分析，缺陷檢測和體積參數(shù)應(yīng)用領(lǐng)域：3D表面形貌2D的縱深形貌輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）表面粗糙度有利于提高成形性，改善外觀以及涂漆性能，降低磨損，提高效率usurf cylinder是一款為汽車行業(yè)度身定做的機(jī)臺設(shè)備，該產(chǎn)品還可以根據(jù)客戶需求進(jìn)行自動編程，實(shí)現(xiàn)全自動化的拼接測量，并且自動生成測試報(bào)告和相關(guān)數(shù)據(jù)。目前大眾、奔馳、寶馬等汽車行業(yè)巨頭都在使用該設(shè)備，由于精度高，操作簡便，又是基于發(fā)動機(jī)引擎定制的機(jī)臺，可操作性很強(qiáng)，鋼桶內(nèi)壁的測量始終是一個(gè)技術(shù)難關(guān)，現(xiàn)在usurf cylinder的研發(fā)頓時(shí)解決了這個(gè)技術(shù)難題，使得發(fā)動機(jī)技術(shù)部門的工程師只需要進(jìn)行幾步簡單的操作即可完成測量。

品牌： 德國Nanofocus 型號： uscan custom 產(chǎn)地：德國 供應(yīng)商：上海巨納科技有限公司

n產(chǎn)品介紹μscan系列機(jī)臺采用模塊化設(shè)計(jì)，特點(diǎn)是快速測量、不接觸、不破壞、自動化。主要應(yīng)用于材料表面的三維輪廓測量，粗糙度測量，寬度，高度，角度，半徑、粗糙度等二維、三維數(shù)據(jù)分析。能直接測量較大面積的樣品，而不用通過拼接。μScan的中心部件掃描模塊(x/y方向樣品掃描)可以和不同的傳感器(Z方向測量)連用，如Confocal point sensor(CF)、Autofocus sensor(AF)、Chromatic white light sensor(CLA)、Holographic sensor(CP)等。目前主配的是連接CF4激光共聚焦傳感器。CF4激光共聚焦傳感器內(nèi)，被照亮的小孔成像在被測量的表面，激光光束經(jīng)由物鏡迅速上下移動聚焦于待測物上，只有當(dāng)焦平面和真實(shí)表面的點(diǎn)配對的時(shí)候，探測器才記錄到一個(gè)表面信號。因此物鏡得通過小的垂直步位移動，使信號通過位移傳感器的位置移動被測出。根據(jù)特殊的內(nèi)插技術(shù)，該系統(tǒng)的精度能達(dá)到10nm以下。n應(yīng)用ü集成電路封裝和表面貼裝：快速獲得封裝翹曲變形、引線共面性、粗糙度、焊料的體積、引線輪廓。ü厚膜混合電路:膜厚度的自動化測量ü精密部件：測量精密五金配件、塑料、半導(dǎo)體材料的輪廓、粗糙度等n技術(shù)參數(shù)1.測量原理：非接觸，激光共聚焦2.掃描模塊：2.1XY方向測量范圍50x50mm/100x100mm/150x100mm/200x200mm（可選）,馬達(dá)驅(qū)動2.2XY方向平臺分辨率0.5um2.3Z方向位移范圍100mm2.4最大測量速度50mm/S.3.傳感器模塊3.1共聚焦傳感器，激光光源1.5μm spot size，1 kHz data rate3.2Z方向分辨率0,02um3.3XY方向分辨率1um，可連續(xù)一次掃描成像，最大范圍達(dá)到200mmX200mm3.4工作距離4mm3.5Z方向測量范圍1mm4系統(tǒng)配置4.1計(jì)算機(jī)：高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)；4.2配有專業(yè)工作臺，尺寸L1000 x H750 x W800 (mm)4.3可為CF傳感器選配離軸攝像頭(10X)，最大視野8 x 6 mm24.4功能全面的軟件4.5數(shù)據(jù)分析：輪廓測量、寬度，高度，角度，半徑、粗糙度等二維、三維數(shù)據(jù)分析設(shè)備咨詢聯(lián)系人:Ronnie Chen電話：+86-13651969369 +86-21-61533166

品牌： 德國Nanofocus 型號： usurf mobile 產(chǎn)地：德國 供應(yīng)商：上海巨納科技有限公司

n產(chǎn)品介紹μsurf系列產(chǎn)品采用多孔共聚焦技術(shù)，結(jié)合CCD的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時(shí)間(約幾秒)內(nèi)精確量測物體的三維數(shù)據(jù)。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴(yán)酷的工作環(huán)境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時(shí)，跟其他方法相比，可以更精確量測物體高度，建立3D立體影像，優(yōu)勢相當(dāng)明顯。NanoFocus μsurf mobile移動式3D測量系統(tǒng)，適用于對大型樣品的測量，所以可以在很多惡劣的環(huán)境下進(jìn)行使用，并且不會影響到使用壽命。當(dāng)人們還在為測量物體太過于龐大而一籌莫展時(shí)，μsurf mobile移動式3D測量系統(tǒng)的橫空出世徹底解決了人們的這個(gè)困惑，該機(jī)臺不需要移動龐大的被測物體，只需要帶著便捷的μsurf mobile，放在被測物體上，就可以在短時(shí)間內(nèi)得出精確的三維表面形貌。n應(yīng)用μsurf系列用來測量表面物理形貌，進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面粗糙度等。μsurf mobile主要對大型樣品進(jìn)行測試，在以下幾個(gè)行業(yè)中被眾多知名企業(yè)廣泛使用：ü汽車行業(yè)ü印刷和造紙行業(yè)ü鋼鐵行業(yè)n技術(shù)參數(shù)LED光源：λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h測量時(shí)間：5~10秒測量原理：非接觸、共聚焦、可移動，可以檢測大型的物體X/Y方向移動范圍：50mmX50mm，馬達(dá)驅(qū)動，X/Y方向分辨率：0.3μmZ方向移動范圍：35mmZ方向測量范圍：250μm，Z方向分辨率： 10nm物鏡：10X、20X、50X、100X(可選)計(jì)算機(jī)：高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)，功能強(qiáng)大且全面的軟件，有拼接功能工作電源：90-265 V, 50-60 Hz, input 50 W（也可用電池做電源）材質(zhì)：鋼鐵、橡膠、大理石外型尺寸：380*110*115mm重量：5.5KG（不含防震拉桿箱）潔凈室等級: Capability class 6 (according to DIN EN ISO 14644)設(shè)備咨詢聯(lián)系人:Ronnie Chen電話：+86-13651969369 +86-21-61533166

品牌： 德國Nanofocus 型號： μsurf solar 產(chǎn)地：德國 供應(yīng)商：上海巨納科技有限公司

產(chǎn)品介紹usurf系列產(chǎn)品采用多孔共聚焦技術(shù)，結(jié)合CCD的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時(shí)間內(nèi)(約幾秒)精確量測物體的三維數(shù)據(jù)。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴(yán)酷的工作環(huán)境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時(shí)，跟其他方法相比，可以更精確量測物體高度，建立3D立體影像，優(yōu)勢相當(dāng)明顯。NanoFocus usurf solar太陽能電池3D顯微鏡，可以對太陽能電池片進(jìn)行自動化測量，廣泛適用于單晶、多晶和薄膜太陽能電池片，一分鐘內(nèi)可以自動測量12個(gè)區(qū)域，是質(zhì)量檢驗(yàn)和生產(chǎn)控制中的最有效的光學(xué)三維表面測量和分析工具?？梢赃M(jìn)行太陽能電池片柵線的3D形貌表征、高寬比測量，制絨后3D形貌表征（單晶金字塔大小、數(shù)量、角度、比表面積，多晶腐蝕坑形貌、密度），粗糙度分析，以及減反射層腐蝕表面的測量，薄膜小孔的檢測和自動分析。 作為太陽能行業(yè)必要設(shè)備，usurf solar太陽能電池3D顯微鏡從硬件到軟件均是針對太陽能行業(yè)定制開發(fā)出來的，其測量樣品的平臺帶有真空吸盤，可以承受210mmX210mm的樣品，能確保太陽能電池片移動時(shí)不破壞。適用usurf solar有利于控制生產(chǎn)工藝,提高效率,是質(zhì)量的可靠保證。技術(shù)參數(shù) LED光源：λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h 測量時(shí)間：2~10秒 測量原理：非接觸、共聚焦 X/Y方向：平臺移動范圍200mmX200mm，馬達(dá)驅(qū)動，最大移動速度40 mm/s，X/Y方向分辨率：0.3μm Z方向測量范圍：500μm，Z方向分辨率：1nm 物鏡：10X、20X、50X、100X(可選) 離軸攝像頭(10X)，最大視野8 x 6 mm2(選配) 計(jì)算機(jī)：高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)，功能強(qiáng)大且附帶全面解決方案的自動化軟件 工作電源：100-240V, 50-60Hz，input: 550 VA 材質(zhì)：鋼鐵、橡膠、大理石 潔凈室等級: Capability class 6 (according to DIN EN ISO 14644)

品牌： 德國Nanofocus 型號： usurf custom 產(chǎn)地：德國 供應(yīng)商：上海巨納科技有限公司

產(chǎn)品介紹 usurf系列產(chǎn)品采用多孔共聚焦技術(shù)，結(jié)合CCD的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時(shí)間(約幾秒)內(nèi)精確量測物體的三維數(shù)據(jù)。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴(yán)酷的工作環(huán)境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時(shí)，跟其他方法相比，可以更精確量測物體高度，建立3D立體影像，優(yōu)勢相當(dāng)明顯。 NanoFocus μsurf custom三維共聚焦表面測量系統(tǒng)，可以根據(jù)客戶的具體需求進(jìn)行樣品平臺和軟件的定制，功能齊全，可以自動測量，能精確捕捉樣品的三維結(jié)構(gòu)和微納米尺度的復(fù)雜幾何形狀，并擁有超高光學(xué)分辨率和最全面廣泛的三維表面形貌分析處理能力。該機(jī)臺還配備了整合計(jì)算機(jī)和測量系統(tǒng)的工作臺，可以將一些測試報(bào)告等資料放在工作臺的抽屜里，便捷可靠。應(yīng)用 usurf系列用來測量表面物理形貌，進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面粗糙度等。 精密部件：檢測對表面磨損，表面粗糙度，表面微結(jié)構(gòu)有要求的零部件，比如發(fā)動機(jī)汽缸、刀口等; 生命科學(xué)：測量stents支架上鍍層厚度等 微電子機(jī)械系統(tǒng)：微型器件的檢測，醫(yī)藥工程中組織結(jié)構(gòu)的檢測，如基因芯片等 半導(dǎo)體：檢測微型電子系統(tǒng)，封裝及輔助產(chǎn)品結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì) 太陽能：太陽能電池片柵線的3D形貌表征、高寬比測量，制絨后3D形貌表征（單晶金字塔大小、數(shù)量、角度，多晶腐蝕坑形貌、密度），粗糙度分析等 紙張：紙張、錢幣表面三維形貌測量 LED：用于藍(lán)寶石襯底的測量，抽檢PSS ICP后的WAFER的3D形貌技術(shù)參數(shù) LED光源：λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h 測量時(shí)間：2~10秒 測量原理：非接觸、共聚焦 X/Y方向：平臺移動范圍：100mmX100mm/200mmX200mm/300mmX300mm(大小可選)，馬達(dá)驅(qū)動，X/Y方向分辨率：0.3μm Z方向測量范圍：350μm，Z方向分辨率： 1nm 物鏡：10X、20X、50X、100X(可選) 離軸攝像頭(10X)，最大視野8 x 6 mm2(選配) 計(jì)算機(jī)：高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)，功能強(qiáng)大且全面的軟件，有拼接功能 配有專業(yè)工作臺：尺寸1550x800x750 mm (LxWxH) 工作電源：100-240V, 50-60Hz，input: 550 VA 材質(zhì)：鋼鐵、橡膠、大理石 重量：約150KG+80KG 潔凈室等級: Capability class 6 (according to DIN EN ISO 14644)

品牌： 德國Nanofocus 型號： usurf explorer 產(chǎn)地：德國 供應(yīng)商：上海巨納科技有限公司

產(chǎn)品介紹 μsurf系列產(chǎn)品采用多孔共聚焦技術(shù)，結(jié)合CCD的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉(zhuǎn)盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時(shí)間(約幾秒)內(nèi)精確量測物體的三維數(shù)據(jù)。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環(huán)境下測量，也可以用顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴(yán)酷的工作環(huán)境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時(shí)，跟其他方法相比，可以更精確量測物體高度，建立3D立體影像，優(yōu)勢相當(dāng)明顯。 NanoFocus μsurf explorer機(jī)臺功能齊全，結(jié)構(gòu)緊湊，性價(jià)比高，并擁有超高光學(xué)分辨率和最全面廣泛的三維表面形貌分析能力。 應(yīng)用 μsurf系列用來測量表面物理形貌，進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析，如3D表面形貌、2D的縱深形貌、輪廓（縱深、寬度、曲率、角度）、表面粗糙度等。 精密部件：檢測對表面磨損，表面粗糙度，表面微結(jié)構(gòu)有要求的零部件，比如發(fā)動機(jī)汽缸、刀口等; 生命科學(xué)：測量stents支架上鍍層厚度等 微電子機(jī)械系統(tǒng)：微型器件的檢測，醫(yī)藥工程中組織結(jié)構(gòu)的檢測，如基因芯片等 半導(dǎo)體：檢測微型電子系統(tǒng)，封裝及輔助產(chǎn)品結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì) 太陽能：電池片柵線的3D形貌表征、高寬比測量，制絨后3D形貌表征（單晶金字塔大小、數(shù)量、角度，多晶腐蝕坑形貌、密度），粗糙度分析等 紙張：紙張、錢幣表面三維形貌測量技術(shù)參數(shù) LED光源：λ= 505 nm, MTBF: 50,000 h 測量時(shí)間：5~10秒 測量原理：非接觸、共聚焦 X/Y方向，平臺移動范圍：50mmX50mm，馬達(dá)驅(qū)動，分辨率：0.3μm Z方向測量范圍：250μm，分辨率：2nm 物鏡：10X、20X、50X、100X(可選) 計(jì)算機(jī)：高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)，功能全面的軟件，有拼接功能， 工作電源：100-240V, 50-60Hz, input 45W 材質(zhì)：鋼鐵、橡膠、大理石 外型尺寸：710x270x330 mm (HxWxD) 重量：28KG 潔凈室等級: Capability class 6 (according to DIN EN ISO 14644)

品牌： 德國布魯克 型號： Contour Elite 產(chǎn)地：美國 供應(yīng)商：德國布魯克AXS有限公司北京代表處

可信計(jì)量、逼真成像、清晰結(jié)果?逼真成像與可信測量數(shù)據(jù)的結(jié)合?簡易直觀的操作界面提供良好的用戶體驗(yàn)?更快速地解決復(fù)雜研究和生產(chǎn)要求下的各種挑戰(zhàn)布魯克Contour Elite三維光學(xué)顯微鏡在已經(jīng)業(yè)界廣泛使用的技術(shù)領(lǐng)先的平臺上，進(jìn)一步增強(qiáng)Vision64軟件的用戶易用性，創(chuàng)新性加入全新的成像軟硬件，拓展高保真成像能力。在要求極高的研發(fā)、質(zhì)量控制領(lǐng)域，Contour Elite可為用戶提供高速、準(zhǔn)確和重復(fù)性極佳的測量結(jié)果。同時(shí)，它為用戶提供在通常共聚焦顯微鏡下能得到的成像與顯示效果，如彩色影像等。建立在Wyko專有白光干涉儀基礎(chǔ)上，歷經(jīng)三十多年軟硬件的積累與創(chuàng)新，布魯克Contour Elite系統(tǒng)提供了直觀可視化的操作界面，豐富的用戶自定義方式，自動化程序控制功能，以及最快速、廣泛適用的表面三維形貌的高保真成像與準(zhǔn)確測量，來保證各種領(lǐng)域研發(fā)、生產(chǎn)應(yīng)用的測試需求。Contour Elite K高穩(wěn)定性，具備一定防震性能設(shè)計(jì)的桌面式型號Contour Elite I全自動，有集成防震墊設(shè)計(jì)的桌面式型號Contour Elite X全自動，集成落地式防震臺的型號

ContourGT系列結(jié)合先進(jìn)的64位多核操作和分析處理軟件，專利技術(shù)白光干涉儀（WLI）硬件和前所未有的操作簡易性，推出歷年來來最先進(jìn)的3D光學(xué)表面輪廓儀系統(tǒng)。第十代光學(xué)表面輪廓儀擁有超大視野內(nèi)埃級至毫米級的垂直計(jì)量范圍，樣品安裝靈活，且具有業(yè)界最高的測量重復(fù)性。ContourGT系列是當(dāng)今生產(chǎn)研究和質(zhì)量控制應(yīng)用中，最廣泛使用和最直觀的3D表面計(jì)量平臺。 業(yè)界最高的垂直分辨率，最強(qiáng)大的測量性能
三十年技術(shù)創(chuàng)新，迎來第十代全新產(chǎn)品 我們的干涉儀是世界上第一個(gè)包含了著名的垂直掃描干涉技術(shù)（VSI模式），掃描頭傾斜調(diào)整，專利的自動校準(zhǔn)和雙LED照明等革新技術(shù)。 ContourGT系列既結(jié)合了這些已被證實(shí)的設(shè)計(jì)功能，又在硬件上進(jìn)行了大量的改進(jìn)，從而給用戶提供了目前世界上最精確的、重復(fù)性最好的光學(xué)輪廓儀性能。 Bruker的光學(xué)輪廓儀具有已被證實(shí)的，將近三十年的優(yōu)越性能運(yùn)行跟蹤記錄，從研究型實(shí)驗(yàn)室到生產(chǎn)型工廠的上萬臺安裝記錄。
ContourGT-X光學(xué)輪廓儀配備有一體式的氣動平臺和雙層金屬鑄件，此兩種設(shè)計(jì)都是為了隔離震動以避免干擾測量效果，從而獲得快速、精確的、可通過GRR測試的測量結(jié)果。
OMM結(jié)合了Bruker專利的雙LED照明光源技術(shù)，在任何樣品任意放大倍數(shù)下均可提供卓越的照明強(qiáng)度和均勻性。OMM還能在整個(gè)10mm測量量程內(nèi)提供無以倫比的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。馬達(dá)驅(qū)動的多放大倍率檢測器可包含最大三個(gè)視場目鏡，以最大化放大倍率的靈活性和穩(wěn)定性。
ContourGT系列可選擇型號中，具有包含Bruker專利技術(shù)的內(nèi)置一級標(biāo)準(zhǔn)自校準(zhǔn)功能的能力，使得閉環(huán)掃描的性能最大化。此模塊包含一個(gè)參考信號，在儀器啟動時(shí)對系統(tǒng)進(jìn)行自校準(zhǔn)，然后連續(xù)監(jiān)控并校正每次測量，以保證絕對的精確度和卓越的重復(fù)性。
Bruker的傾斜調(diào)整支架設(shè)計(jì)可使得OMM傾斜，而不是樣品傾斜。這樣，被測量的樣品將總處于聚焦位置，并且在測量的視野中，確保了操作的一致性和簡易性。 *這些選項(xiàng)僅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型號上具有。
在ContourGT-X型號中具有全自動的8英寸或12英寸樣品臺。兩種樣品臺均配備有0.5um重復(fù)性的編碼器。ContourGT-K1型具有可選的6英寸馬達(dá)驅(qū)動樣品臺。還可選配具有Z方向聚焦旋鈕的XY操縱桿。
選配的馬達(dá)驅(qū)動塔臺可安裝最多4個(gè)干涉物鏡，從1倍至100倍。塔臺設(shè)計(jì)確保了當(dāng)您切換物鏡時(shí)，您的測試點(diǎn)始終處于聚焦和中心位置。
布魯克納米表面儀器部開通優(yōu)酷視頻專輯 Bruker Nano Surfaces YouKu Channel 歡迎訂閱優(yōu)酷上Bruker Nano Surfaces的相關(guān)視頻，觀看最新的AFM產(chǎn)品和相關(guān)技術(shù)進(jìn)展，以及歷屆網(wǎng)絡(luò)研討會和培訓(xùn)資料，精彩內(nèi)容持續(xù)更新中！ http://i.youku.com/u/UNDU0NDQ5MTEy 布魯克納米表面儀器部 Bruker Nano Surfaces 北京辦公室 北京市海淀區(qū)中關(guān)村南大街 11號光大國信大廈6層 6218室 電話：010-68474806 -630 傳真：010-88417855 上海辦公室 上海市徐匯區(qū)漕河涇開發(fā)區(qū)桂平路 418號新園科技廣場 19樓 E-mail：Sales.asia@bruker-nano.com 產(chǎn)品咨詢熱線：400-890-5666 www.bruker.cn\AFM

NPFLEX 為大尺寸工件精密加工提供準(zhǔn)確測量 布魯克的NPFLEXTM 3D表面測量系統(tǒng)為精密制造業(yè)帶來前所未有的檢測能力，實(shí)現(xiàn)更快的測量時(shí)間，提高了產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)力?；诎坠飧缮娴脑?，這套非接觸系統(tǒng)提供的技術(shù)性能超出了傳統(tǒng)的的接觸式坐標(biāo)測量儀（CMM）和工業(yè)級探針式輪廓儀的測量技術(shù)。測量優(yōu)勢包括獲得高分辨的三維圖像，進(jìn)行快速豐富的數(shù)據(jù)采集，幫助用戶更深入地了解部件的性能和功能。積累幾十年的干涉技術(shù)和大樣本的儀器設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，NPFLEXTM是第一個(gè)可以靈活地測量大尺寸樣品的光學(xué)測量系統(tǒng)，而且能夠高效快捷地獲得從微觀到宏觀等不同方面的樣品信息。 其靈活性表現(xiàn)在可用于測量表征更大的面型和更難測的角度樣品
滿足不同客戶的測量需求： 可選的搖擺測量頭可輕松測量想測的樣品部位，測量樣品的側(cè)壁、傾斜表面以及斜面邊緣，重復(fù)性好。 獲得研發(fā)大獎的透過透明介質(zhì)測量模塊(Through Transmissive Media，TTM)模塊,，結(jié)合環(huán)境測試腔，可以穿透5cm厚的色散材料，可對樣品進(jìn)行加熱或者冷卻，進(jìn)行原位測量。 可選的折疊鏡頭能夠測量碗狀樣品的側(cè)壁和底部孔洞。 納米級分辨率的三維表面信息測量 大家對很多樣品的表面性質(zhì)感興趣，但是要獲得這些品性質(zhì)，需要檢測大量的樣品表面定量信息。許多應(yīng)用在航空航 天，汽車，醫(yī)療植入產(chǎn)業(yè)的大尺寸樣品，往往只能借助于二維接觸式檢測工具進(jìn)行表征，獲得的只是一條線測量數(shù)據(jù)。二維掃描能夠提供樣品的表面輪廓，但是無法深入研究樣品表面更精確的紋理細(xì)節(jié)信息。NPFLEX測試系統(tǒng)采用白光干涉原理，在每一個(gè)測量點(diǎn)可以實(shí)現(xiàn)表面形貌的三維信息收集，且具有亞納米級的垂直分辨率。所收集的數(shù)據(jù)不受探針曲率半徑的局限，高效的三維表面信息測量可獲取除表面粗糙度以外的多種分析結(jié)果，更多的測量數(shù)據(jù)來幫助分析樣品性質(zhì)。 快速獲取數(shù)據(jù)，保證測試迅速高效 NPFLEX三維測量系統(tǒng)，能夠靈活高效的獲取大量測試數(shù)據(jù)。大大縮短了樣品制備時(shí)間和測量方案設(shè)置時(shí)間，操作者可以快速更換樣品，而且無需全面掌握樣品形狀和表面形貌的前提下，對樣品的不同表面進(jìn)行測量。僅需要不到15秒的時(shí)間，就可以出色地完成一個(gè)測量點(diǎn)的數(shù)據(jù)采集和分析工作。自動對焦，光強(qiáng)調(diào)節(jié)以及其他配套軟件功能，大大節(jié)約了測試分析時(shí)間，而且可以根據(jù)操作者的實(shí)驗(yàn)需求，量身定做最優(yōu)化的實(shí)驗(yàn)方案，而不影響數(shù)據(jù)的精度和質(zhì)量。利用NPFLEX可以高效、快捷、靈活、準(zhǔn)確地獲得大型零部件的高精度測量結(jié)果，提供一站式的測量解決方案。
品牌： 德國布魯克 型號： NT9100 產(chǎn)地：美國 供應(yīng)商：德國布魯克AXS有限公司北京代表處

儀器簡介： NT9100光學(xué)輪廓儀是一款使用便利、性能卓越，性價(jià)比高的非接觸無損傷三形貌維測量儀器。Wyko最新的第九代系統(tǒng)采用獨(dú)有的雙LED照明光源專利技術(shù)，能夠更好的檢測超光滑表面及非常粗糙的表面；它的測量范圍可達(dá)亞納米級粗糙度到毫米級的臺階高度。作為第九代白光干涉儀的桌面機(jī)臺，NT 9100同樣具有大機(jī)臺才有的優(yōu)點(diǎn)：簡單易用的操作方式、快速數(shù)據(jù)獲取能力、強(qiáng)大的軟件功能及埃級的重現(xiàn)性等。同時(shí)，可選配的X-Y自動平臺，使NT9100具有程序化處理樣品的功能。
品牌： 德國布魯克 型號： NT9800 產(chǎn)地：美國 供應(yīng)商：德國布魯克AXS有限公司北京代表處

儀器簡介：Wyko NT9800 光學(xué)輪廓儀在0.1nm 到 10mm 的垂直掃描范圍內(nèi)提供了非接觸式高速高精度三維表面測量工能，縱向分辨率可達(dá)0.1nm。NT9800 采用了Veeco專利的內(nèi)部實(shí)時(shí)激光參考信號進(jìn)行持續(xù)的自校準(zhǔn)，減小了通常情況下使用標(biāo)準(zhǔn)塊校準(zhǔn)設(shè)備的需要，并且能夠補(bǔ)償工作環(huán)境下系統(tǒng)產(chǎn)生的熱漂誤差。作為業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的第九代Wyko NT系列光學(xué)輪廓儀產(chǎn)品，NT9800 具有最高的自動化水平，友好的用戶界面，以及業(yè)內(nèi)最好的Wyko Vision分析軟件系統(tǒng)。眾多先進(jìn)技術(shù)的集成、經(jīng)過長期實(shí)用驗(yàn)證的測量技術(shù)核心以及適合于各種專業(yè)應(yīng)用需要的軟件功能，使 NT9800 成為世界上最先進(jìn)的光學(xué)干涉測量設(shè)備，可滿足MEMS、金屬研究、材料科學(xué)、半導(dǎo)體、醫(yī)用器械等眾多領(lǐng)域科研和生產(chǎn)工作中對高精度自動化表面測量的需要。技術(shù)參數(shù)：1、縱向掃描范圍：0.1nm~1mm (標(biāo)配） 2、垂直掃描速度：25um/s 3、樣品臺尺寸：200mm主要特點(diǎn)：1. 非接觸測量 2. 重復(fù)性高 3. 測量精度高

品牌： 德國布魯克 型號： NT9300 產(chǎn)地：美國 供應(yīng)商：德國布魯克AXS有限公司北京代表處

儀器簡介：Wyko NT9300采用了Veeco第九代光學(xué)輪廓探測技術(shù)，在0.1nm到10mm的垂直掃描范圍內(nèi)提供了快速、高精度的三維表面形貌測量功能，是大范圍表面測量、數(shù)據(jù)縫合以及不規(guī)則樣品測量的理想設(shè)備。專利的雙路LED照明源顯著提高了光強(qiáng)并延長了光源器件的使用壽命，使操作者的各種測量應(yīng)用都能獲得最佳效果。無論操作者經(jīng)驗(yàn)水平如何，XYZ三向可編程控制馬達(dá)驅(qū)動的工作臺系統(tǒng)以及Veeco獨(dú)有的Tip/Tilt傾斜測量裝置都使得測量工作變得異常輕松。業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的Wyko Vision軟件系統(tǒng)為用戶提供了超過200種的分析功能和自動測量控制功能。NT9300集先進(jìn)的硬件結(jié)構(gòu)與軟件系統(tǒng)于一身，是一款滿足實(shí)驗(yàn)室科研以及工業(yè)生產(chǎn)批量自動化在線檢測應(yīng)用需要的高性能表面檢測設(shè)備。技術(shù)參數(shù)：1、縱向掃描范圍：0.1nm~10mm (標(biāo)配） 2、最大掃描速度：24um/s 3、樣品臺尺寸：200mm XY自動樣品臺（標(biāo)配）主要特點(diǎn)：1. 非接觸測量 2. 重復(fù)性高 3. 測量精度高

品牌： 德國布魯克 型號： DEKTAK 8 產(chǎn)地：美國 供應(yīng)商：德國布魯克AXS有限公司北京代表處

儀器簡介：Dektak8臺階式探針輪廓儀，結(jié)構(gòu)緊湊，可提供很高的重復(fù)性和精度。獨(dú)特的XY方向定位系統(tǒng)可移動到8x8inch區(qū)域的任何位置。它不僅能測量臺階高度和表面紋理，還能測量金屬蝕刻速率的均勻性、焊點(diǎn)高度、纖維光學(xué)元件和顯微透鏡。全程程序控制的Dektak8系統(tǒng)對于MEMS，納米技術(shù)和半導(dǎo)體應(yīng)用都非常方便。技術(shù)參數(shù)：臺階高度重復(fù)性: 7.5,1σ在1um標(biāo)準(zhǔn)臺階上 最大晶圓尺寸：200mm 最大樣品厚度：25.4mm （1 in.) 每次掃描數(shù)據(jù)點(diǎn)：最多可達(dá)60，000數(shù)據(jù)點(diǎn) 掃描長度范圍：標(biāo)配最大50mm 垂直范圍：標(biāo)配262um；可選1mm 最大垂直分辨率：1 (6.55微米垂直范圍下）主要特點(diǎn)：1. 臺階高度測量重復(fù)性高 2. 是功能最為強(qiáng)大的探針輪廓儀，可最大限度的滿足各種應(yīng)用需要 3. 簡單易用 4. 作為一款桌面型輪廓儀，掃描范圍可達(dá)200mm

儀器網(wǎng)輪廓儀產(chǎn)品導(dǎo)購專場為您提供輪廓儀功能原理、規(guī)格型號、性能參數(shù)、產(chǎn)品價(jià)格、詳細(xì)產(chǎn)品圖片以及廠商聯(lián)系方式等實(shí)用信息，您可以通過設(shè)置不同查詢條件，選擇滿足您實(shí)際需求的輪廓儀產(chǎn)品，同時(shí)輪廓儀產(chǎn)品導(dǎo)購專場還為您提供精品優(yōu)選輪廓儀產(chǎn)品和輪廓儀相關(guān)技術(shù)資料、解決方案、招標(biāo)采購等綜合信息。