顯微分析系統(tǒng)提供商牛津儀器納米分析部發(fā)布了新款基于掃描電鏡的硅漂移探測器——Xplore系列。Xplore系列是對去年發(fā)布的Ultim系列探測器（包括獲得女王獎?wù)碌臒o窗探測器Ultim Extreme）的有力補充。

 Xplore系列的問世進一步豐富了納米分析部的EDS產(chǎn)品線，意味著實時元素成像功能AztecLive已經(jīng)推廣到所有的牛津儀器的EDS產(chǎn)品中。Xplore系列探測器采取精巧的設(shè)計，晶體活區(qū)面積有20mm2和35mm2兩種，配合多樣化的軟件功能選擇可以滿足不同客戶的要求。 

 Xplore系列的設(shè)計力求滿足不同客戶的需求，可用于多個領(lǐng)域，比如失效分析、質(zhì)量控制、假冒偽劣產(chǎn)品或?qū)＠謾?quán)產(chǎn)品的鑒別。Xplore探測器可以選擇不同晶體面積，所配置的軟件也可根據(jù)客戶的需求和使用者的經(jīng)驗進行選擇。

 牛津儀器EDS產(chǎn)品經(jīng)理Anthony Hyde是這樣評價這款探測器的，“這款產(chǎn)品的出現(xiàn)意味著我們最終完成了EDS產(chǎn)品線的部署，是一件令人振奮的事情。Xplore系列代表了牛津儀器產(chǎn)品質(zhì)量的最佳水準，成功地將質(zhì)量和可靠性融入到這款設(shè)計精巧的探測器上，提升了常規(guī)SEM的需求。”