X射線熒光光譜（XRF），顧名思義，利用了X射線和熒光技術(shù)，通過原級X射線照射在待測樣品上，產(chǎn)生的次級X射線（X射線熒光），通過分析熒光的波長和能量對物質(zhì)進(jìn)行成分和化學(xué)形態(tài)的分析。XRF理論上可以測定元素周期表中所有的元素，但是在實際應(yīng)用中，一般有效的元素測量范圍為從鈹（Be）到鈾（U）的90余種元素。X射線熒光光譜儀（XRF）具有譜線簡單、不破壞樣品、操作簡便、測定迅速等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、冶金、采礦、有色、海洋、生化、環(huán)境、石化、商檢、電子、公安、考古、難融化物和建材工業(yè)等領(lǐng)域。

歐盟RoHS2.0的正式實施在再次將XRF儀器推向風(fēng)口浪尖，2019年7月22日起，所有輸歐電子電器產(chǎn)品（除醫(yī)療和監(jiān)控設(shè)備）均需滿足歐盟RoHS2.0限制要求，而其中對限制物質(zhì)的快速篩查，大量采用了XRF（點(diǎn)擊進(jìn)入XRF專場）的方法。

近一年的時間里，國內(nèi)外多家廠商也相繼推出了一些XRF新品，91儀器信息網(wǎng)編輯特別盤點(diǎn)以饗讀者。在此特別需要說明，本次盤點(diǎn)的范圍僅限收錄于本網(wǎng)資訊欄目的新品。

日立分析

一年的時間內(nèi)，日立分析推出了兩款XRF新產(chǎn)品，分別是XRF鍍層測厚儀X-Strata920和手持式XRF分析儀—X-MET8000 Geo。

鍍層測厚儀—X-Strata920（點(diǎn)擊進(jìn)入）

日立分析儀器公司在電子和金屬表面處理行業(yè)已有超過40年鍍層分析的經(jīng)驗。準(zhǔn)確度是X-Strata920鍍層測厚儀一個亮點(diǎn)，其將大面積正比計數(shù)探測器和微聚焦X射線管相結(jié)合，可實現(xiàn)更好的準(zhǔn)確度。X-Strata920可選裝兩種探測器，一種是正比計數(shù)器，另一種是更的硅漂移探測器（SDD）。正比計數(shù)器適合于準(zhǔn)確、可靠的分析單元素鍍層，而SDD則適合于多元素鍍層的分析或者應(yīng)對未來鍍層結(jié)構(gòu)的不斷改變。

除此之外，X-Strata920鍍層測厚儀還具備直觀的軟件界面、多樣的配置選擇、簡單的校準(zhǔn)流程等優(yōu)勢。可以應(yīng)用于PCB/PWB表面處理、電力和電子組件的電鍍、IC載板、服務(wù)電子制造過程（EMS、ECS）、光伏產(chǎn)品、受限材料和高可靠性篩查、耐腐蝕性檢驗、耐磨性檢驗、耐高溫檢驗等。

手持式XRF分析儀—X-MET8000 Expert Geo（點(diǎn)擊進(jìn)入）

這款產(chǎn)品的特色在于針對土壤和采礦品級控制應(yīng)用進(jìn)行了優(yōu)化，具有優(yōu)異的性價比，且投資回報(ROI)快，允許進(jìn)行現(xiàn)場快速決策，而不必將樣品送至實驗室再分析。日立分析在宣傳中稱：其大面積硅漂移探測器（SDD）和BOOSTTM技術(shù)將儀器的敏感度提升多達(dá)10倍，可以提供極低的檢測限。X-MET8000 Expert Geo的設(shè)計能經(jīng)受住最嚴(yán)苛的環(huán)境和天氣條件：符合IP54（等同于NEMA 3），超強(qiáng)防塵和防水，其堅固性經(jīng)過MIL-STD-810G軍事標(biāo)準(zhǔn)測試。它有一個防撞擊的外殼，屏幕、機(jī)器前段和電池都得到橡膠保護(hù)，防止撞擊。其還有一個大散熱器，即使在炎熱環(huán)境下也能保證最佳穩(wěn)定性（無需在測試中等待探測器冷卻后再測試）。不僅如此，X-MET8000 Expert Geo的集成式GPS能夠結(jié)合地理位置數(shù)據(jù)與分析結(jié)果，以獲得站點(diǎn)映射。使用ExTOPE Connect應(yīng)用程序隨時共享結(jié)果、照片和GPS坐標(biāo)，同時結(jié)合使用云服務(wù)，用戶可以隨時隨地實時訪問結(jié)果。結(jié)果可存儲在分析儀中，并可以CSV或PDF格式下載到U盤或個人電腦中。還可以使用單個ExTOPE Connect帳戶管理來自多個X-MET的結(jié)果。

德國斯派克

斯派克（英文簡稱：SPECTRO）是阿美特克材料分析部門成員，總部位于德國，以光譜及光譜技術(shù)見長。

SPECTROCUBE

近期斯派克推出了全新的SPECTROCUBE型X射線貴金屬測試儀器，為測試中心、純度標(biāo)識和分析實驗室、以及珠寶制造商提供了簡單、可靠、準(zhǔn)確、高通量的分析手段。

SPECTROCUBE采用了高分辨硅漂移檢測器（SDD），相比上一代型號，在相同的測試時間內(nèi)提供高達(dá)三倍的信號強(qiáng)度，有更高的測試精度。這臺儀器定位非常清晰，主打貴金屬分析、操作簡單以及高通量，非常適合于貴金屬的鑒定工作。其標(biāo)準(zhǔn)測試時間低至15秒，每天可處理數(shù)以百計的樣品。

除此之外，SPECTROCUBE還具備設(shè)計緊湊、易用性高、售后服務(wù)有保障等優(yōu)勢。

鋼研納克

鋼研納克檢測技術(shù)有限公司由國家鋼鐵材料測試中心、國家鋼鐵產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心、鋼鐵研究總院分析測試研究所等多家單位業(yè)務(wù)整合后而成立的高新技術(shù)企業(yè)。

CNX-808順序式波長色散X射線熒光光譜儀（點(diǎn)擊進(jìn)入）

這臺儀器對國內(nèi)高端XRF儀器領(lǐng)域具有跨時代的意義。波譜-能譜復(fù)合型X射線熒光光譜儀(CNX-808 XRF)總體功能達(dá)到當(dāng)前國際X射線熒光技術(shù)水平，打破了國外高端XRF儀器的長期壟斷，實現(xiàn)了高端XRF儀器國產(chǎn)化零的突破,并擁有相應(yīng)的自主知識產(chǎn)權(quán)，為下一步系列化XRF儀器研發(fā)和滿足我國經(jīng)濟(jì)、社會、科技發(fā)展對無機(jī)元素分析測試日益增長的需求打下了堅實的基礎(chǔ)。

“波譜-能譜復(fù)合型X射線熒光光譜儀的研發(fā)與產(chǎn)業(yè)化”是國家重大儀器開發(fā)專項項目，由國家地質(zhì)實驗測試中心牽頭，鋼研納克檢測技術(shù)有限公司等8家單位分別承擔(dān)了相關(guān)整機(jī)結(jié)構(gòu)設(shè)計、關(guān)鍵核心部件、控制及數(shù)據(jù)處理軟件系統(tǒng)、主機(jī)運(yùn)行保障系統(tǒng)、應(yīng)用方法研究等一系列研發(fā)工作。

經(jīng)過5年的努力，研制、開發(fā)了新型CNX-808 XRF，建立了實用的定性、定量以及元素分布分析的專家系統(tǒng)和應(yīng)用方法體系，并擁有相應(yīng)自主知識產(chǎn)權(quán)。項目完成8臺工程樣機(jī)的制作，申請發(fā)明專利23項，授權(quán)9項，申請實用新型及外觀專利17項，授權(quán)17項。制定了9項作業(yè)指導(dǎo)書，取得8份用戶應(yīng)用證明，建立了開放式通用樣品數(shù)據(jù)庫1個，完成了新的技術(shù)應(yīng)用方法16項；主導(dǎo)完成了2項國家標(biāo)準(zhǔn)和1項行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的制定工作，并已發(fā)布實施。發(fā)表核心期刊論文51篇(EI 6篇，SCI 2篇)；已完成《中國X射線光譜分析技術(shù)的歷史發(fā)展》與《中國X射線光譜分析文獻(xiàn)索引》2部專著的初稿；該成果可最大限度的發(fā)揮波譜/能譜兩種技術(shù)的各自特點(diǎn)，縮短區(qū)域掃描分析時間，實現(xiàn)了“兩譜組合、三項功能”；整機(jī)的各項考核指標(biāo)完全達(dá)到了項目任務(wù)書規(guī)定的要求。

CNX-808 XRF具備高穩(wěn)定高精度X射線源、優(yōu)秀的光路設(shè)計、波譜能譜復(fù)合功能、可靠的高精度測角儀和便捷強(qiáng)大的分析測試軟件，在地質(zhì)、建材、新材料、生態(tài)環(huán)境等領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用。