近期，斯派克公司推出了一款用于貴金屬測試的小斑點能量色散X射線熒光（ED-XRF）光譜儀，SPECTROCUBE ED-XRF分析儀。這種新型分析儀可為測試中心以及珠寶制造商等單位提供簡便、可靠、準(zhǔn)確、高通量的分析，速度是同類分析儀的兩倍。

斯派克這款分析儀采用了先進(jìn)的無損ED-XRF檢測器技術(shù)，可通過直觀的軟件實現(xiàn)快速的檢測，縮減了檢測的間隔和工作流程。同時，這款儀器簡單易用，即使是經(jīng)過最低限度培訓(xùn)的用戶，也能實現(xiàn)快速檢測。不僅如此，這臺儀器的尺寸相當(dāng)，占地面積小，適合緊湊的臺面空間，也適用于各種從小到大的樣品尺寸。

斯派克ED-XRF具有出色的速度和性能，可為各種濃度樣品提供高精度的檢測，測試時間低至15秒，每天可處理數(shù)百個樣品。對于珠寶樣品，儀器最小可以分析面積達(dá)0.2毫米。

斯派克ED-XRF產(chǎn)品經(jīng)過了用戶測試，可連續(xù)用于要求苛刻的高通量的質(zhì)量控制操作，可靠性很高，并且運行和維護(hù)成本低，使用壽命長，故障率低。

與許多其他同類的XRF分析儀不同，斯派克ED-XRF采用新型的高分辨率硅漂移探測器（SDD）和超高計數(shù)率技術(shù)。相比上一代型號，在相同的測試時間內(nèi)提供高達(dá)三倍的信號強度，有更高的測試精度。