校準(zhǔn)理論：

校準(zhǔn)包括校準(zhǔn)樣品的測(cè)量和確定分析物線的強(qiáng)度“I”與這些樣品中的濃度c之間的函數(shù)關(guān)系。功能關(guān)系是校準(zhǔn)函數(shù)或校準(zhǔn)曲線。它包括蒸發(fā)，激發(fā)，輻射輸出，分散和測(cè)量值之間的關(guān)系。由于光譜化學(xué)分析是一個(gè)分析過程，是一個(gè)通過比較分析的過程，有必要用精確已知濃度的樣品校準(zhǔn)樣品進(jìn)行校準(zhǔn)。 

對(duì)于光學(xué)發(fā)射光譜法，沒有可用于實(shí)際目的的校準(zhǔn)曲線的理論。有些公式可以假設(shè)可以將線強(qiáng)度和濃度之間的關(guān)系表示為冪函數(shù)：I = I0 ck。校準(zhǔn)功能可以用各種方式在數(shù)學(xué)上表示： 

線性校準(zhǔn)函數(shù)：I = f（c）= a0 + a1 c

非線性校準(zhǔn)函數(shù)：I = f（c）= a0 + a1 c + a2 c2 + ... + cn 

回歸接近校準(zhǔn)的真實(shí)過程的程度

校準(zhǔn)樣品 

國際社會(huì)和國際標(biāo)準(zhǔn)化組織（ISO）證實(shí)了校準(zhǔn)樣品的基本作用，該組織提供了以下定義：

參考材料（RM）：它們是材料或物質(zhì)，其特性定義明確，可用于校準(zhǔn)儀器，驗(yàn)證測(cè)量或?yàn)椴牧现付ㄖ怠?nbsp;

認(rèn)證參考物質(zhì)（CRM）：它們是材料，其有關(guān)一個(gè)或多個(gè)物業(yè)的價(jià)值通過有效的技術(shù)程序進(jìn)行認(rèn)證，并配有證書或來自合格技術(shù)機(jī)構(gòu)的其他文件。 

校準(zhǔn)樣品存在三個(gè)缺點(diǎn)：

1）它們很貴

2）它們的尺寸和形狀并不總是適用于光譜儀的樣品架。

3）它們僅適用于某些元素和濃度

重新校準(zhǔn)樣品 

使用校準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)光譜儀時(shí)（參考樣品）

重新校準(zhǔn)樣品被多次測(cè)量，以獲得適合于校準(zhǔn)的可靠標(biāo)稱值。光譜儀靈敏度的附加和/或乘法變化導(dǎo)致校準(zhǔn)曲線在坐標(biāo)系統(tǒng)的線性標(biāo)度中的位移。為了在任何后期追蹤（計(jì)算）實(shí)際強(qiáng)度值回到校準(zhǔn)時(shí)提交的標(biāo)稱強(qiáng)度值，每個(gè)分析物通道需要低（LP）和高（HP）強(qiáng)度。在火花放電的金屬分析中，所有分析物通道的低點(diǎn)通常用純基體（Fe，Al，Cu，......）測(cè)量。通常從具有盡可能多的元素的合成樣品測(cè)量高點(diǎn)，具有良好的均勻性和精確度。 

合成組合物作為指導(dǎo)分析給出，樣品通常不在校準(zhǔn)曲線上。校準(zhǔn)的數(shù)學(xué)過程是一個(gè)自動(dòng)過程。

在發(fā)射光譜法中，由于在重新校準(zhǔn)之前拋光表面，重新校準(zhǔn)樣品用完了。更換重新校準(zhǔn)樣品時(shí)，無法保證即使樣品編號(hào)相同，新樣品濃度也會(huì)與更換的樣品完全一致。因此，在校準(zhǔn)用于金屬分析的光譜儀時(shí)，應(yīng)提供最少量的重新校準(zhǔn)樣品，例如每種類型的五個(gè)重新校準(zhǔn)樣品。 

重新校準(zhǔn)的頻率取決于儀器及其使用。

與儀器的相互依賴意味著必須以不同的間隔重新校準(zhǔn)相同類型的設(shè)備，特別是由于不同的光電管穩(wěn)定性。使用相互依賴意味著，即使穩(wěn)定性相同，重新校準(zhǔn)頻率也取決于分析的類型（痕量分析，分類分析）。

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