接觸式和非接觸式掃描電子顯微鏡簡(jiǎn)介-解析度高低

原子力顯微鏡的操作模式可分為

1. 接觸式（contact mode）
此模式的探針和樣品的作用力是原子間的排斥力，這是最早被發(fā)現(xiàn)出來的，
由于排斥力反應(yīng)的距離約在數(shù)埃（angstrom， ）之間，且對(duì)距離非常敏感，
所以可以得到很高的解析度。不過由于接觸距離極接近于樣品，過大的作用力會(huì)損害樣品，由其是軟性材質(zhì)影響更
大，所以選擇適當(dāng)?shù)淖饔昧Ρ愫苤匾?/p>

2. 非接觸式（non-contact mode）
為了解決接觸式原子力顯微鏡可能損壞樣品的缺點(diǎn)，便有非接觸式原子力顯微鏡發(fā)展出來，
這是利用探針和樣品間長(zhǎng)距離的吸引力－凡得瓦力來運(yùn)作，其反應(yīng)距離約在數(shù)十埃左右。由于探針和樣品沒有
接觸，因此沒有破壞樣品的顧慮。但因凡得瓦爾力對(duì)距離的變化非常小，
所以必須使用振動(dòng)及調(diào)變的技術(shù)（Vibration and Modulation Techniques）
來改善訊號(hào)對(duì)雜訊的比例（signal / noise），其解析度并無法像接觸式原子力顯微鏡來得高