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掃描電子顯微鏡觀察的特點(diǎn)-光學(xué)儀器廠商

掃描探針顯微術(shù)如同在黑暗的房間中用手掌掃過(guò)書(shū)桌桌面，
雖然看不見(jiàn)桌上的物品擺設(shè)還是可以大致知道各物體的相對(duì)位置。
同樣地， 使用光學(xué)顯微鏡看不到的時(shí)候也可以用 “摸”的方式，實(shí)際上掃描電子顯微鏡影像是模擬還原出來(lái)的

掃描探針顯微術(shù) (scanning probe microscopy,SPMS)

是使用一微探針在樣品表面上移動(dòng)，在探針移動(dòng)的過(guò)程中會(huì)與樣
品的表面會(huì)保持一固定距離，掃描的過(guò)程中可得到樣品表面各處的高低起伏，因此
掃描探針顯微術(shù)除了具有水平方向的解析力外，還有垂直方向的解析能力。掃描探

針顯微術(shù)使用的探針?lè)浅＜怃J，有時(shí)尖端上只有一顆原子，所以在掃描樣品表面時(shí)
能夠有原子等級(jí)的解析能力，常見(jiàn)的掃描探針顯微鏡：如掃描穿隧顯微鏡
(scanning tunneling microscopy,STM) 和原子力顯微鏡(atomic force microscopy,AFM)
都具有原子尺度等級(jí)的解析度 (~0.2納米)