上海光學(xué)儀器一廠偏光顯微鏡的原理

  把光的偏振性質(zhì)用于顯微鏡成像技術(shù)中即為偏光顯微鏡59XC，廣泛應(yīng)
用于地質(zhì)學(xué)研究中，利用晶體光學(xué)的原理和方法來研究礦物、巖石結(jié)
構(gòu)等。

  透過光顯微鏡是利用透明樣品本身以及它和四周介質(zhì)之間的明暗
差別和顏色差別來進(jìn)行觀察和測定，物體除明暗、顏色的差別外，還
有均質(zhì)與非均質(zhì)的差別，非均質(zhì)木身強(qiáng)弱的差別，光學(xué)厚度的差別等。

  要想把這些差別在顯微鏡中變成人眼能觀察到的明暗反差和顏色
反差，必須采用不同的照明光源或其他方法。

  偏光顯微鏡就是把樣品放在起偏鏡與檢偏鏡之間，起偏鏡位于聚
光鏡下面，檢偏鏡位于物鏡上面，兩偏振鏡的振動面互相垂直，視場
是暗的。

  當(dāng)光線通過起偏鏡后產(chǎn)生一平面偏振光，此偏振光通過樣品時(shí)分
成兩束互相垂直的偏振光，由于它們速度不同，通過樣品后產(chǎn)生一定
的光程差到達(dá)檢偏鏡，而檢偏鏡只允許某一方向的振動通過，因此通
過檢偏鏡后即變成具有一定光程差的同方向振動的兩束光，由此發(fā)生
干涉而形成干涉圖像。

  干涉圖像受樣品的光學(xué)性質(zhì)、樣品厚度、光波波長三個(gè)因素的影
響，只要確定了后兩個(gè)因素，即可憑干涉圖像的不同確定樣品的晶體
性質(zhì)。

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