顆粒投影測量光學(xué)顯微鏡-球形顆粒的樣品

  有些樣品如泥質(zhì)膠結(jié)的砂巖，不易松解。要側(cè)量其中砂粒的粒度，
可將砂巖直接磨成片狀樣品，用反射顯微鏡（金相顯微鏡）測量。此外，
對較粗的粉末，也可在務(wù)使分散的條件下，將顆粒包埋在樹脂類物質(zhì)中
成為塊狀樣品，磨光后對磨光面進(jìn)行觀察測量。此時應(yīng)注意所謂截面效
應(yīng)的問題。透射顯微鏡測的是顆粒的投影像，而反射顯微鏡測量的是塊
樣的磨光表面（即光反射面）對于顆粒所截的輪廓像。對于包埋著許多
球形顆粒的樣品，磨光表面所截的國的直徑會普遍小于球粒直徑。

  制備樣品時的揉研非常重要。若不適當(dāng)，則顆粒不但達(dá)不到分散，
反而會團(tuán)聚。并且要注意不要使較大顆粒被推移到載片的邊緣，以免影
響被觀測顆粒的代表性。此外，若顆粒較脆而且較大時，揉研不當(dāng)會導(dǎo)
致顆粒粉碎。這時應(yīng)采用其它方法。

  例如先制成分散良好的懸浮液，然后噴到載片上。

  制備顯微鏡樣品還可用其它各種不同的方法，

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