金相顯微鏡是用來檢測金屬試樣或礦物等樣品

  對體視顯微鏡下方目標照明的光線通常由附在與物鏡底部同一水平
上的環(huán)形光源提供。還叮采用其他間接照明形式。如光纖光源。

體視顯
微鏡一般未配備透射光系統(tǒng)（從樣品底部照明）或配備入射（反射）光
系統(tǒng)（光線經(jīng)物鏡向下反射到樣品上，再往回經(jīng)顯微鏡向上反射）。

  用于電子學領域的另一類顯微鏡是入射光顯微鏡。這類顯微鏡稱為
金相顯微鏡已有許多年，因為它們用來考察標準亮場透射光顯微鏡不能
觀察的金屬樣品或不透明樣品。

當檢測入員需要低放大倍數(shù)體視顯微鏡
不能提供的較高放大倍數(shù)、并且愿意接受較小景深和較短工作距離時，
便使用這類顯微鏡。用這類顯微鏡可以獲得高達700x的放大倍數(shù)。

  這類顯微鏡的用途通常已高度專業(yè)化。在電子故障分析的情況下，
通常被用在電子探測臺上。

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