粗晶粒材料金相顯微分析儀器-光學(xué)測(cè)量顯微鏡

  僅根據(jù)宏觀形貌來給斷口分類固然可找到斷口形貌最主要的特征和
加載方式之間的關(guān)系，但卻很難體現(xiàn)材料成分和環(huán)境介質(zhì)等對(duì)斷門形貌
的影響。

  例如在粗晶粒材料的脆性斷口上，可以清楚地看到發(fā)亮的解理小平
面，但對(duì)于經(jīng)淬火、回火的細(xì)晶粒材料，同樣是脆性斷口，卻看不到這
種光亮的小平面，

  此時(shí)得到的是無光譯、且無明顯特色的斷口。此外、滑移造成的宏
觀斷口也會(huì)像另一種材料的脆性斷口那樣閃閃發(fā)交。

  另外一些斷口的宏觀特征形貌如體止線等也不一定就是裂紋饅速擴(kuò)
展造成的，它們可能在一般斷口上出現(xiàn)，而在疲勞斷口上有時(shí)反而看不
到。

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