立體顯微鏡下進(jìn)行觀察金屬樣品晶體顆粒平截面或截面

  定量金相學(xué)需要進(jìn)行大量的測試，這既是因?yàn)榉植枷囝w粒的任意截面
的跡線有統(tǒng)計(jì)上的變化，也是因?yàn)楣枷囝w粒的尺寸并不是常數(shù)。因此
我們要對典型的平截面用各種方法進(jìn)行大量的測試，也要研究能確定實(shí)
際變化及測定實(shí)際變化范圍的數(shù)字關(guān)系，研究能計(jì)算某些有用結(jié)構(gòu)參數(shù)
的可靠平均值的數(shù)學(xué)關(guān)系，以及研究能確定這些數(shù)值精確度的數(shù)學(xué)關(guān)系
。
  在所有這些定量研究是，必須假定劃考慮到兩個(gè)因素。平截面或截面
必須能代表整個(gè)物體，這一點(diǎn)顯然是很重要的，這是一個(gè)必須通過檢驗(yàn)
才能確定的估計(jì)。如果各種相的分布或在界面的排列上存在著有規(guī)則的
不均勻性，那么在選擇顯微鏡視域時(shí)必須對此加以校正。不幸的是這點(diǎn)
還沒有明確的表述方式，沒有好的表達(dá)方法可代替判斷。

  為了得出分布顆粒的尺寸的平均值，人們必須知道顆粒的實(shí)際或近似
的形狀。雖然需要把球狀顆粒處理成等體積的球，實(shí)際上顆粒很少是完

全球狀的；但應(yīng)當(dāng)記住，這只是為了數(shù)學(xué)上方便。由熔融體或固體中結(jié)
晶出的顆粒經(jīng)常是片狀或棒狀的。要區(qū)分其差別就需要進(jìn)行困難而冗長
的處理。人們可以檢驗(yàn)兩個(gè)接近垂直拋光面交線附近的顆粒的形狀。擔(dān)

另一方面，可在顯微鏡的視域中刻劃一個(gè)很深的標(biāo)記，例如顯微硬度壓
痕，并在硬度壓痕范圍內(nèi)對逐層不斷拋光拍照。這很象通過逐片檢驗(yàn)來
研究一塊瑞士奶酪上的空洞。在某些情況下可于助選擇性的溶解把這些
顆粒萃取出來，并放在立體顯微鏡下進(jìn)行觀察。

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