刻劃硬度金屬礦物鑒定顯微鏡-微細(xì)包裹體計量

 顯微刻劃（抗劃）硬度的測定

  顯微刻劃硬度用刻劃法測定。在顯微鏡下，用金屬針刻劃礦物磨
光面，視能否被金屬針刻動以確定礦物硬度等級，刻劃法只能測定
礦物的相對硬度。因其簡便適用、省時快速，在日常鑒定工作是常
被采用，該法的缺點是劃傷光面，因此，在顯微鏡鑒定過程中，
刻劃硬度放在最后測定?？虅澯捕仁蔷幹平饘俚V物顯微鏡鑒定表的
主要依據(jù)之一，因此十分重要，要精確測定，如果硬度發(fā)生錯誤，
被給鑒定工作帶來困難。

  使用的金屬針是縫衣鋼針（相當(dāng)于摩氏硬度5.5級）、銅針（相
當(dāng)于摩氏硬度3級）。視被這兩種金屬針刻劃的情況，礦物的刻劃
硬度分為3級：

  低硬度礦物：能被銅針刻動，相當(dāng)于摩氏硬度3級以下。
  中硬度礦物：銅針刻不動，鋼針能刻動，相當(dāng)于摩氏硬度3-5.5
級。
  高硬度礦物：鋼針刻不動，相當(dāng)于摩氏硬度5.5級從上。
 （1）光學(xué)顯微鏡不透明礦物制成光片要礦相顯微鏡下研究；
透明礦物制成薄片在偏光顯微鏡下研究。主要用來鑒定研究獨(dú)立
礦物和微細(xì)包裹體。
  （2）透射電子顯微鏡簡稱透射電鏡。它有分辨率達(dá)2埃，放大
倍數(shù)達(dá)20萬倍以上，主要用來鑒定研究超顯微透明礦物和礦物的
超顯微結(jié)構(gòu)。
  （3）掃描電子顯微鏡簡稱掃描電鏡。主要用來鑒定超顯微礦
物，考查元素的類質(zhì)同象離子吸附等賦存狀態(tài)，研究礦石的超顯
微構(gòu)造、礦物間的嵌鑲關(guān)系等。
  （4）電子探針X射線顯微分析儀簡稱電子探針。是近20年迅速
發(fā)展起來的微區(qū)微量元素測定技術(shù)之一，電子探針在光片、薄片
上的掃描圖像，可直接顯示元素的分布狀況，如果元素在礦物中
呈均勻的分散分布，便可初步確定是以類質(zhì)同象形式賦存；好辦
法元素呈極不均勻的分布，在一點或幾點小面積上非常富集，則
可確定是以微細(xì)包裹體形式賦存。因此該儀器主要用來精確測定
礦物，特別是微細(xì)礦物的成分、含量及分布，考查類質(zhì)同象、細(xì)
站包裹體、離子吸附等賦存以及查定礦石中的有害元素，還可用
來研究礦物的內(nèi)部構(gòu)造。

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