材料礦物樣品檢測(cè)研究礦物顯微鏡的應(yīng)用常識(shí)

  對(duì)材料的表征是現(xiàn)代材料科學(xué)中必不可少的一環(huán)，它意味著對(duì)同一材料不
同部位進(jìn)行精確的區(qū)分。表征的概念覆蓋范圍很廣，包括物相的化學(xué)成分及相
之間成分變化的定性和定量分析;晶粒、物相和微量組成在空問(wèn)分布的檢驗(yàn);
晶體結(jié)構(gòu)的確定;在某種程度上，還包含結(jié)構(gòu)缺陷的本質(zhì)和分布的研究

英國(guó)的Robert Hooke是最早系統(tǒng)地使用光學(xué)顯微鏡的人,但是這些顯微鏡學(xué)家
并沒(méi)有對(duì)金屬的微觀結(jié)構(gòu)有一個(gè)清晰的研究。

  “垂直照明”顯微方法已經(jīng)成為所有金相實(shí)驗(yàn)室的使用標(biāo)準(zhǔn)。其間，
礦物學(xué)家發(fā)展使用了用透射光透過(guò)薄的透明巖石的顯微鏡?；谌松涔怆S
入射面有偏振效應(yīng)這一現(xiàn)象，低對(duì)稱(chēng)性的非立方性晶體因此有兩個(gè)截然不同的
折射率這一事實(shí)，礦物顯微鏡得以擁有一個(gè)完全嶄新的使用空間.尤其在19
世紀(jì)晚期，一旦引人會(huì)聚入射光束，所謂的indicatrix方法就成為鑒別多相巖
石斷面礦物的一種手段。冶金學(xué)家也使用偏振光，但僅僅是作為顯示非立方金
屬微觀結(jié)構(gòu)的一種方法。這對(duì)那些想獲得明顯襯度的不易蝕刻的合金其有至關(guān)
重要的輔助作用

  在20世紀(jì)下半葉，人們發(fā)明了數(shù)目眾多的各式各樣的先進(jìn)的光學(xué)顯微術(shù)。
其中包括相襯顯微術(shù)(在法國(guó)發(fā)明)和多束干涉顯微術(shù)(在英國(guó)發(fā)明)，還有
可以清楚地辨別出遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于一個(gè)光波長(zhǎng)深度差的方法;這些技術(shù)在研究多型性
方面尤為有用

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