使用偏光顯微鏡可以觀察單一晶體顆粒的大小形狀

  在顯微鏡下可以觀察到單一晶體顆粒的大小時，則用萬能載
物臺測定其光軸角。然而解釋如此測得的光軸角數(shù)值，則需要多
方面的考慮。首先，由于大部分粘土礦物呈薄的鱗片狀，所以其
面容易產(chǎn)生偏斜，這種偏斜會顯著的影響光軸角。其次在鏡下觀
察到的類似.單一結(jié)晶顆粒的東西，大部分是以底面為接合面的雙
晶，而且這種雙晶可能是以底面為接合面的聚片雙晶。在這種情
況下，這些雙晶顆粒的干涉圖像和單一結(jié)晶顆粒的干涉圖像相比
較時，則明顯不同。亦即這樣的雙晶體的光軸角與其每個結(jié)晶顆
粒的光軸角相比較，著起來要小些。再次，即使是單一的結(jié)晶顆
粒，如后面所述，其晶體構(gòu)造呈不規(guī)則性的為多。在一般粘土礦
物中，所觀察到的不規(guī)則性，往往是由于層格子相互平行變位所
致。因此，這些層格子的乎行變位使光軸角沈生如何變化是值得
研究的。如此，考慮到使一種拈上礦物的光軸角發(fā)生變化的原因
是很多的，所以在研究光軸角的數(shù)值時，必須注意到這一點。

  通常在電場強度恒定的情況下，若懸浮液的濃度大于某種限
度時，電雙折射值變小。濃度恒定時，若電場強度小于某種限
度，則電雙折射的值亦變小。這可能是山于濃度變大，擾亂了顆
粒排列的規(guī)則性，而電場的力量過小，同樣也擾亂了顆粒排列的
規(guī)則性的原故。

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