顯微結(jié)構(gòu)特征晶粒尺寸精確定量的測量顯微鏡

我們現(xiàn)有認(rèn)識中還有許多仍然不很肯定的東西，而且需要進(jìn)
一步實驗和更加細(xì)致的理論，對于不同晶體鍺構(gòu)之間共格界
面的遷移行為，這種情況更甚．目前，證據(jù)的重要性，尤其

是由質(zhì)點粗化實驗獲得證據(jù)的重要性似乎使作者想到，對界面控制
而言，這些界面足夠的遷移性并不是都么重要．這種看法是
一種不成熟的看法．在充分了解顯微結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性之前，顯然
還有很多要了解的未知領(lǐng)域．討論顯微結(jié)構(gòu)變化時的一個中心論題
是考慮測定各種顯微結(jié)構(gòu)特征所用的方法．

這些顯微結(jié)構(gòu)特征包括晶粒尺寸、

第二相析出物的體積分?jǐn)?shù)及質(zhì)點間的距離等．當(dāng)結(jié)構(gòu)獲得比較穩(wěn)定
的形式時這些顯微特征將如何變化．顯然，有關(guān)這種顯微結(jié)構(gòu)變化
的所有試驗研究都取決于精確可靠的測量

強調(diào)要采用優(yōu)良定量顯微術(shù)的一些研究范例。

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