顆粒狀物質(zhì)的粒度范圍-篩分析和顆粒分級圖像顯微鏡

粒度分布的圖示方法是比較麻煩的。同時，顆粒度數(shù)據(jù)處理
也要求找到表示粒度分布的函數(shù)式。因此，研究分布函數(shù)是十分
必要的。

  對分布函數(shù)曾引入過許多經(jīng)驗式，但研究較多的是對
數(shù)正態(tài)分布。對數(shù)正態(tài)分布應用較廣，也有一定的理論根據(jù)。一
般認為，它對于用結(jié)晶或粉碎方法得到的顆粒系統(tǒng)是適用的，并且
經(jīng)過適當?shù)淖儞Q，也可以解釋一些偏離對數(shù)正態(tài)分布的粒度分布。
顆粒度數(shù)據(jù)的重要性

顆粒狀物質(zhì)的粒度范圍
  這些顆粒度數(shù)據(jù)的獲得是前人大量工作的結(jié)果。粒度測量工
作，追究其歷史是一件很有意義的工作，因為它與人類對大自然
的認識、生產(chǎn)活動息息相關。但可惜，對這個問題沒有人進行過
系統(tǒng)研究。如果大概的說一下，那么最早使用的方法應是篩分析
和某些顆粒分級方法，像米和面的篩分、食物加工中風選、選礦
中的水力分級等在古代就有了，一直延用到現(xiàn)在。顯微鏡是18世
紀出現(xiàn)的，它的出現(xiàn)擴大了人們的視野，一些本來肉眼看不見的
顆粒狀物質(zhì)，這時被發(fā)現(xiàn)了，像細胞、細菌的發(fā)現(xiàn)都是有劃時代
的意義的。

應用某些沉降分析技術，
這是和工業(yè)的發(fā)展分不開的，像地質(zhì)上泥沙、陶瓷和化工原料、
金屬粉末和廢氣中塵埃等的粒度測量，基本上是這個時候開始
的。至于電子顯微鏡和一些顆粒自動計數(shù)方法的出現(xiàn)則是近期的
事，它是近代大工業(yè)生產(chǎn)和科學研究所需要的。

(本文由上海光學儀器廠編輯整理提供, 未經(jīng)允許禁止復制http://www.sgaaa.com)